[發(fā)明專利]一種非易失性存儲(chǔ)器的修復(fù)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310616204.3
• 申請(qǐng)日: 2013-11-27
• 公開（公告）號(hào): CN104681097A
• 公開（公告）日: 2015-06-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 薛子恒;潘榮華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京兆易創(chuàng)新科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G11C29/44
• 分類號(hào): G11C29/44
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

1.一種非易失性存儲(chǔ)器的修復(fù)方法，其特征在于，包括：

完成對(duì)所述非易失性存儲(chǔ)器的上電；

判斷所述非易失性存儲(chǔ)器是否有擦除或編程操作的請(qǐng)求，如果沒(méi)有所述擦除或編程操作的請(qǐng)求，則對(duì)所述非易失性存儲(chǔ)器的修復(fù)單元進(jìn)行修復(fù)校驗(yàn)同時(shí)監(jiān)測(cè)所述非易失性存儲(chǔ)器是否有擦除或編程操作的請(qǐng)求；

如果沒(méi)有所述擦除或編程操作的請(qǐng)求并且所述修復(fù)單元沒(méi)有通過(guò)所述修復(fù)校驗(yàn)，則對(duì)所述修復(fù)單元進(jìn)行修復(fù)操作同時(shí)監(jiān)測(cè)所述非易失性存儲(chǔ)器是否有擦除或編程操作的請(qǐng)求；

如果沒(méi)有所述擦除或編程操作的請(qǐng)求并且所述修復(fù)單元通過(guò)所述修復(fù)校驗(yàn)或如果沒(méi)有所述擦除或編程操作的請(qǐng)求并且完成所述修復(fù)操作，則判斷所述修復(fù)單元對(duì)應(yīng)的修復(fù)地址是否是所述非易失性存儲(chǔ)器的最后一個(gè)修復(fù)地址；

如果是所述最后一個(gè)修復(fù)地址，則結(jié)束對(duì)所述非易失性存儲(chǔ)器的修復(fù)操作，否則遞增所述修復(fù)單元對(duì)應(yīng)的修復(fù)地址并且返回到對(duì)所述非易失性存儲(chǔ)器的修復(fù)單元進(jìn)行修復(fù)校驗(yàn)同時(shí)監(jiān)測(cè)所述非易失性存儲(chǔ)器是否有擦除或編程操作的請(qǐng)求。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非易失性存儲(chǔ)器的修復(fù)方法，其特征在于，在判斷所述非易失性存儲(chǔ)器是否有擦除或編程操作的請(qǐng)求之后，還包括：

如果有所述擦除或編程操作的請(qǐng)求，則處理所述擦除或編程操作的請(qǐng)求并且返回到判斷所述非易失性存儲(chǔ)器是否有擦除或編程操作的請(qǐng)求。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非易失性存儲(chǔ)器的修復(fù)方法，其特征在于，在對(duì)所述非易失性存儲(chǔ)器的修復(fù)單元進(jìn)行修復(fù)校驗(yàn)并同時(shí)監(jiān)測(cè)所述非易失性存儲(chǔ)器是否有擦除或編程操作的請(qǐng)求之后和在對(duì)所述修復(fù)單元進(jìn)行修復(fù)操作同時(shí)監(jiān)測(cè)所述非易失性存儲(chǔ)器是否有擦除或編程操作的請(qǐng)求之后，均還包括：

如果所述非易失性存儲(chǔ)器有擦除或編程操作的請(qǐng)求，則暫停所述修復(fù)校驗(yàn)并記錄所述非易失性存儲(chǔ)器的當(dāng)前的修復(fù)地址；

記錄完所述當(dāng)前的修復(fù)地址后，處理所述擦除或編程操作的請(qǐng)求。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的非易失性存儲(chǔ)器的修復(fù)方法，其特征在于，對(duì)所述修復(fù)單元進(jìn)行修復(fù)校驗(yàn)的方式為將所述修復(fù)單元的閾值電壓與所述修復(fù)校驗(yàn)的基準(zhǔn)電壓進(jìn)行比較。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的非易失性存儲(chǔ)器的修復(fù)方法，其特征在于，所述修復(fù)校驗(yàn)的基準(zhǔn)電壓包括讀電壓和校驗(yàn)電壓，其中，所述讀電壓小于所述校驗(yàn)電壓。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的非易失性存儲(chǔ)器的修復(fù)方法，其特征在于，在進(jìn)行所述修復(fù)校驗(yàn)時(shí)，先進(jìn)行所述讀電壓的修復(fù)校驗(yàn)，再進(jìn)行所述校驗(yàn)電壓的修復(fù)校驗(yàn)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的非易失性存儲(chǔ)器的修復(fù)方法，其特征在于，當(dāng)所述修復(fù)單元的閾值電壓大于讀電壓且小于校驗(yàn)電壓時(shí)，所述修復(fù)單元沒(méi)有通過(guò)所述修復(fù)校驗(yàn)。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的非易失性存儲(chǔ)器的修復(fù)方法，其特征在于，當(dāng)所述修復(fù)單元的閾值電壓大于讀電壓且大于校驗(yàn)電壓時(shí)，所述修復(fù)單元通過(guò)所述修復(fù)校驗(yàn)。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的非易失性存儲(chǔ)器的修復(fù)方法，其特征在于，當(dāng)所述修復(fù)單元的閾值電壓小于校驗(yàn)電壓且小于讀電壓時(shí)，所述修復(fù)單元通過(guò)所述修復(fù)校驗(yàn)。