[發(fā)明專利]外殼及其制造方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310614634.1 | 申請(qǐng)日: | 2013-11-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104669709A | 公開(公告)日: | 2015-06-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張春杰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳富泰宏精密工業(yè)有限公司 |
| 主分類號(hào): | B32B15/04 | 分類號(hào): | B32B15/04;B32B9/04;C23C14/35;C23C14/06;H05K5/04 |
| 代理公司: | 無 | 代理人: | 無 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 外殼 及其 制造 方法 | ||
1.一種外殼,其包括基材及形成于基材表面的透明膜,該透明膜包括打底層、過渡層和透明層,其特征在于:該打底層為鉻層,該過渡層為碳化鉻層,該透明層為硅層,該打底層形成于所述基材的表面,該過渡層形成于該打底層的表面,該透明層形成于該過渡層的表面。
2.如權(quán)利要求1所述的外殼,其特征在于:所述透明層由硅原子組成,該透明層的厚度為0.1-0.3μm。
3.如權(quán)利要求1所述的外殼,其特征在于:所述打底層的厚度為0.1-0.3μm,所述過渡層的厚度為0.2-0.4μm。
4.如權(quán)利要求1所述的外殼,其特征在于:所述基材的材質(zhì)為金屬、塑料或陶瓷。
5.一種外殼的制造方法,其包括如下步驟:
提供基材;
以鉻靶為靶材,采用磁控濺射法在基材表面濺鍍打底層,該打底層為鉻層;
以鉻靶為靶材,通入反應(yīng)氣體乙炔,采用磁控濺射法在打底層的表面濺鍍過渡層,該過渡層為碳化鉻層;
以硅靶為靶材,采用磁控濺射法在過渡層的表面濺鍍透明層,該透明層為硅層。
6.如權(quán)利要求5所述的外殼的制造方法,其特征在于:所述基材的材質(zhì)為金屬、塑料或陶瓷。
7.如權(quán)利要求5所述的外殼的制造方法,其特征在于:所述打底層的厚度為0.1-0.3μm,制備該打底層的工藝參數(shù)為:鉻靶使用射頻電源,鉻靶功率為8-15KW,通入氬氣,氬氣流量為100-150sccm,鍍膜室的室內(nèi)溫度為120-180℃,施加于基材的負(fù)偏壓為100-250V,鍍膜時(shí)間為5-10min。
8.如權(quán)利要求5所述的外殼的制造方法,其特征在于:所述過渡層的厚度為0.2-0.4μm,制備該過渡層的工藝參數(shù)為:鉻靶使用射頻電源,鉻靶功率為6-12KW,通入氬氣,氬氣流量為80-140sccm,乙炔流量為50-75sccm,鍍膜室的室內(nèi)溫度為100-150℃,施加于基材的負(fù)偏壓為200-300V,鍍膜時(shí)間為40-50min。
9.如權(quán)利要求5所述的外殼的制造方法,其特征在于:所述透明層由硅原子組成,該透明層的厚度為0.1-0.3μm,制備該透明層的工藝參數(shù)為:硅靶使用射頻電源,硅靶功率為4-8KW,通入氬氣,氬氣流量為50-135sccm,鍍膜室的室內(nèi)溫度為90-120℃,施加于基材的負(fù)偏壓為200-400V,鍍膜時(shí)間為20-40min。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳富泰宏精密工業(yè)有限公司;,未經(jīng)深圳富泰宏精密工業(yè)有限公司;許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310614634.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 氫燃料制造系統(tǒng)、氫燃料制造方法以及氫燃料制造程序
- 單元控制系統(tǒng)、生產(chǎn)系統(tǒng)以及控制方法
- 制造裝置及制造方法以及制造系統(tǒng)
- 一種三相異步電動(dòng)機(jī)制造工藝方法
- 制造設(shè)備、制造裝置和制造方法
- 用于監(jiān)測(cè)光學(xué)鏡片制造過程的方法
- 產(chǎn)品的制造系統(tǒng)、惡意軟件檢測(cè)系統(tǒng)、產(chǎn)品的制造方法以及惡意軟件檢測(cè)方法
- 一種面向制造服務(wù)的制造能力評(píng)估方法
- 一種基于云制造資源的制造能力建模方法
- 制造設(shè)備系統(tǒng)、制造設(shè)備以及制造方法
- 一種數(shù)據(jù)庫讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





