[發(fā)明專利]一種成像光譜反射率數(shù)據(jù)的光譜校正方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310613261.6 | 申請日: | 2013-11-27 |
| 公開(公告)號: | CN103592235A | 公開(公告)日: | 2014-02-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 閆柏琨;董新豐;楊蘇明 | 申請(專利權(quán))人: | 中國國土資源航空物探遙感中心 |
| 主分類號: | G01N21/25 | 分類號: | G01N21/25 |
| 代理公司: | 北京慧泉知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11232 | 代理人: | 王順榮;唐愛華 |
| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 成像 光譜 反射率 數(shù)據(jù) 校正 方法 | ||
1.一種成像光譜反射率數(shù)據(jù)的光譜校正方法,其特征在于:該方法具體步驟如下:
步驟一:光譜數(shù)據(jù)讀入
讀入的數(shù)據(jù)包括成像光譜反射率數(shù)據(jù)、成像光譜數(shù)據(jù)覆蓋范圍內(nèi)地面實測的反射光譜數(shù)據(jù);成像光譜反射率數(shù)據(jù)是由基于大氣輻射傳輸模型進(jìn)行光譜重建后的數(shù)據(jù);
步驟二:反射光譜歸一化處理
以圖像清晰度較高的某一波段為基準(zhǔn),對地面實測光譜與對應(yīng)的成像光譜反射率數(shù)據(jù)進(jìn)行歸一化處理,即所有波段反射率除以基準(zhǔn)波段反射率;
步驟三:校正系數(shù)的計算
經(jīng)步驟二處理后的地面實測光譜除以對應(yīng)的成像光譜反射率數(shù)據(jù),得到校正系數(shù),若成像光譜反射率數(shù)據(jù)覆蓋范圍內(nèi)有多個點進(jìn)行了地面實測光譜測試,則將得到了多個校正系數(shù)進(jìn)行平均,以減小誤差;
步驟四:數(shù)據(jù)的校正
步驟一中讀入的成像光譜反射率數(shù)據(jù)乘以步驟三得到的校正系數(shù),即完成數(shù)據(jù)的校正。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種成像光譜反射率數(shù)據(jù)的光譜校正方法,其特征在于:步驟二中所述的“對地面實測光譜與對應(yīng)的成像光譜反射率數(shù)據(jù)進(jìn)行歸一化處理”,其具體實現(xiàn)過程是:每條光譜的所有波段的反射率除以該光譜對應(yīng)的基準(zhǔn)波段的反射率,得到的比值光譜即為歸一化后的光譜。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 數(shù)據(jù)顯示系統(tǒng)、數(shù)據(jù)中繼設(shè)備、數(shù)據(jù)中繼方法、數(shù)據(jù)系統(tǒng)、接收設(shè)備和數(shù)據(jù)讀取方法
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