[發明專利]紫外線燈的劣化檢測裝置及方法

有效

• 申請號: 201310594560.X
• 申請日: 2013-11-21
• 公開（公告）號: CN103837231B
• 公開（公告）日: 2017-05-17
• 發明（設計）人: 小泉佳代;山越裕司
• 申請（專利權）人: 株式會社日本光電科技
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司11112
• 代理人: 何立波,張天舒

技術領域

本發明涉及一種對紫外線燈的劣化進行檢測的劣化檢測裝置及方法，該紫外線燈放射出對有機物分解或殺菌等有效的波長的紫外線。特別是，涉及一種對與紫外線燈內的有效水銀量的減少相伴的紫外線放射量的下降進行檢測，并基于該檢測結果提示進行紫外線燈的更換的技術。

背景技術

當前，為了進行有機物分解或殺菌等而使用紫外線燈。紫外線燈放射出主要包含對有機物分解有效的185nm波長或對殺菌有效的254nm波長在內的紫外線，例如是低壓水銀燈（所謂UV-C紫外線燈）等。在紫外線燈中除了水銀（更具體地說是水銀粒或水銀汞劑等）之外，還封入作為非活性氣體的氬氣等惰性氣體。

在紫外線燈（下面簡稱為“燈”）中，如現有技術所示，伴隨紫外線的放射，燈內被封入的水銀被消耗。因此，燈內的有效水銀量隨著燈的點亮時間增加而逐漸減少。隨著燈內的有效水銀量減少，例如變化為氧化汞等的無效水銀而附著在燈管內壁上，與其相對應，包含對有機物分解或殺菌等有效的波長185nm或254nm的紫外線的放射量（以下稱為“發光強度”）逐漸下降。并且，如果包含對有機物分解或殺菌等有效的波長的紫外線放射量明顯下降，則無法有效地進行有機物分解或殺菌等。因此，在燈內的有效水銀枯竭之前，必須更換為新的燈本體。

因此，當前，使用能夠測定紫外線放射量的紫外線傳感器等紫外線區域用的光檢測器，在檢測到包含對有機物分解或殺菌等有效的波長的紫外線放射量下降至規定的規定值時，提示進行燈的更換。

例如在下述所示的專利文獻1中示出有下述裝置，其在能夠測定200nm至400nm波長頻帶的紫外線放射量的碳化硅（SiC）光電二極管中，組合用于隔斷超過300nm波長的紫外線的光學濾光器，以測定包含對殺菌有效的254nm波長在內的200nm至300nm波長頻帶的紫外線放射量。即，利用紫外區域用的光檢測器，直接監視包含對殺菌有效的254nm波長在內的紫外線放射量本身，在該紫外線放射量低于規定的閾值的情況下，能夠提示更換燈。

專利文獻1：日本特開2004－317512號公報

但是，如上所述能夠檢測包含對殺菌有效的波長在內的紫外線放射量本身的紫外區域用的光檢測器，與僅對可見光線進行受光而能夠檢測可見光線的發光強度的可見光區域用的通常設備相比，高價且成本高。另外，存在下述問題，即，在不使用用于選擇殺菌性波長的復雜且高價的光學濾光器的情況下，在紫外線頻譜低的一端的區域中，不具有足夠的靈敏度。

發明內容

本發明就是鑒于上述問題而提出的，提供一種紫外線燈的劣化檢測裝置及方法，其不直接對包含有效用于有機物分解或殺菌等的波長在內的紫外線的放射量（發光強度）本身進行檢測，也能夠與伴隨燈內有效水銀量的減少出現的所述紫外線放射量的下降相對應，進行更換燈的提示。

本發明所涉及的紫外線燈的劣化檢測裝置的特征在于，具有檢測可見光線的光強度的可見光區域用的光檢測器，利用所述光檢測器對從封入水銀及惰性氣體的紫外線燈與紫外線一起放射的可見光線進行受光，基于由該光檢測器受光的可見光線的光強度，檢測所述紫外線燈的劣化。優選還具有控制部，其基于所述光檢測器的輸出判定是否需要更換所述紫外線燈，在應更換時對該更換信息進行通知。

根據本發明，使用可見光區域用的光檢測器，基于從紫外線燈放射的可見光線的光強度，檢測所述紫外線燈的劣化。可見光線與從封入水銀及惰性氣體的紫外線燈放射的紫外線一起進行放射，而可視區域用的光檢測器僅對可見光線進行檢測，僅對從紫外線燈放射的可見光線進行受光，并檢測該受光的可見光線的發光強度。

如果在燈內封入的有效水銀被極度地消耗，則在由水銀產生的紫外線的發光中不會再消耗大量的能量，紫外線放射量下降。與其相伴，燈內所封入的惰性氣體具有的發光能量用于可見光線的發光，因此被更多地使用，由惰性氣體產生的可見光線的發光強度增加（由惰性氣體產生可見光線所消耗的能量值增加）。