[發明專利]紫外線燈的劣化檢測裝置及方法有效
| 申請號： | 201310594560.X | 申請日： | 2013-11-21 |
| 公開（公告）號： | CN103837231B | 公開（公告）日： | 2017-05-17 |
| 發明（設計）人： | 小泉佳代;山越裕司 | 申請（專利權）人： | 株式會社日本光電科技 |
| 主分類號： | G01J1/42 | 分類號： | G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京天昊聯合知識產權代理有限公司11112 | 代理人： | 何立波,張天舒 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 紫外線 檢測 裝置 方法 | ||
1.一種紫外線燈的劣化檢測裝置，其特征在于，
具有可見光區域用的光檢測器，其檢測可見光線的光強度，
利用所述光檢測器，對從封入水銀及惰性氣體而成的紫外線燈與紫外線一起放射的可見光線進行受光，基于由該光檢測器受光的可見光線的光強度超過規定的閾值，檢測所述紫外線燈的劣化。
2.根據權利要求1所述的紫外線燈的劣化檢測裝置，其中，
還具有控制部，其基于所述光檢測器的輸出，判定是否需要更換所述紫外線燈，在應更換時對該更換信息進行通知。
3.根據權利要求1或2所述的紫外線燈的劣化檢測裝置，其特征在于，
還具有限制單元，其從由所述紫外線燈放射的可見光線中，提取特定波長頻帶的可見光線，該限制單元按照與所述紫外線燈中所封入的惰性氣體的種類相對應而預先確定的波長頻帶，提取該可見光線。
4.根據權利要求3所述的紫外線燈的劣化檢測裝置，其特征在于，
具有收容所述光檢測器和所述限制單元的收容容器，該收容容器至少可更換地收容所述限制單元。
5.根據權利要求1或2所述的紫外線燈的劣化檢測裝置，其中，
還具有遮斷單元，其遮斷從所述紫外線燈放射的紫外線及可見光線中的所述紫外線。
6.一種紫外線燈的劣化檢測方法，其特征在于，
由下述步驟構成：使用僅對從封入水銀及惰性氣體的紫外線燈放射的紫外線及可見光線中的可見光線進行受光的光檢測器，對該受光的可見光線的發光強度進行檢測，
基于檢測出的可見光線的光強度超過規定的閾值，檢測所述紫外線燈的劣化。
7.根據權利要求6的紫外線燈的劣化檢測方法，其中，
還具有下述步驟：基于所述檢測出的可見光線的發光強度，判定是否需要更換所述紫外線燈，在應更換時對該更換信息進行通知。
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