[發明專利]一種采用X射線衍射技術測量鋼中奧氏體含量的方法

有效

• 申請號: 201310590061.3
• 申請日: 2014-01-16
• 公開（公告）號: CN103808743A
• 公開（公告）日: 2014-05-21
• 發明（設計）人: 楊英;范益;卞欣
• 申請（專利權）人: 南京鋼鐵股份有限公司
• 主分類號: G01N23/20
• 分類號: G01N23/20
• 代理公司: 南京利豐知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 32256
• 代理人: 任立

技術領域

本發明屬于X射線衍射(X-Ray?Diffraction,XRD)試驗領域，更具體地，本發明涉及一種利用X射線衍射技術測量鋼中奧氏體含量的方法。

背景技術

目前，鋼中奧氏體含量的測定往往采用直接對比法。根據標準GB/T8362-1987和YB/T5338-2006《鋼中殘余奧氏體定量測定X射線衍射儀法》規定：馬氏體選用（200）、（211）兩晶面的衍射線，奧氏體選用（200）、（220)、（311）三晶面衍射線，將所測量的五條衍射線進行組合并分別計算衍射強度比值，代入指定計算公式即可得到奧氏體含量。但是，應用此計算公式的前提條件是：馬氏體相、奧氏體相中各衍射線間的累積強度比值，必須符合下表要求：

表1國標中規定的馬氏體相、奧氏體相中各衍射線間的累積強度比值

然而，在試樣存在織構（即擇優取向）的情況下，試樣的累積強度比往往會超過這個波動范圍。然而，標準中并沒有提及當強度比值超出允許范圍時，研究人員該如何對衍射數據進行分析和處理。因此，為了克服擇優取向對測量結果的影響，本專利采用取向幾率密度法來測定鋼中奧氏體含量，其基本原理是：

采用數學方法將具有擇優取向的衍射強度換算成無規則取向的衍射強度。幾率密度修正法本質上也是根據直接對比法原理計算奧氏體含量，只是通過數學處理的方法對衍射強度進行修正，消除或降低擇優取向對試驗結果的影響。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是，克服現有技術的缺點，提供一種在試樣存在織構的情況下，提高鋼中奧氏體含量測量準確性的采用X射線衍射技術測量鋼中奧氏體含量的方法。

為了解決以上技術問題，本發明提供一種采用X射線衍射技術測量鋼中奧氏體含量的方法，包括如下具體步驟：

步驟（1）：利用X射線衍射儀掃描鋼材試樣，獲得鋼材試樣的XRD圖譜；

步驟（2）：利用步驟（1）中XRD譜圖及如下公式計算馬氏體及奧氏體各晶面無擇優取向時的相對衍射強度：

I=M·L_P·F²·e^-2M·A^*(θ)

其中，L_P定義為洛倫茲偏振因子，M定義為溫度因子，F定義為結構因子，A^*(θ)定義為吸收因子A(θ)的倒數，e^-2M定義為溫度因子，且LP=1+cos22θ4sin2θcosθ;]]>

步驟（3）：對步驟（2）中的馬氏體及奧氏體各晶面無擇優取向時的相對衍射強度進行歸一化處理，并通過XRD軟件獲得馬氏體及奧氏體各晶面的實際衍射強度；

步驟（4）：利用如下公式計算馬氏體及奧氏體各晶面的取向幾率密度：