[發明專利]一種采用X射線衍射技術測量鋼中奧氏體含量的方法

有效

• 申請號: 201310590061.3
• 申請日: 2014-01-16
• 公開（公告）號: CN103808743A
• 公開（公告）日: 2014-05-21
• 發明（設計）人: 楊英;范益;卞欣
• 申請（專利權）人: 南京鋼鐵股份有限公司
• 主分類號: G01N23/20
• 分類號: G01N23/20
• 代理公司: 南京利豐知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 32256
• 代理人: 任立

1.一種采用X射線衍射技術測量鋼中奧氏體含量的方法，其特征在于，包括如下具體步驟：

步驟（1）：利用X射線衍射儀掃描鋼材試樣，獲得鋼材試樣的XRD圖譜；

步驟（2）：利用步驟（1）中XRD譜圖及如下公式計算馬氏體及奧氏體各晶面無擇優取向時的相對衍射強度：

I=M·L_P·F²·e^-2M·A^*(θ)

其中，L_P定義為洛倫茲偏振因子，M定義為溫度因子，F定義為結構因子，A^*(θ)定義為吸收因子A(θ)的倒數，e^-2M定義為溫度因子，且LP=1+cos22θ4sin2θcosθ;]]>

步驟（3）：對步驟（2）中的馬氏體及奧氏體各晶面無擇優取向時的相對衍射強度進行歸一化處理，將馬氏體和奧氏體的最大衍射強度設為100，并通過XRD軟件獲得馬氏體及奧氏體各晶面的實際衍射強度；

步驟（4）：利用如下公式計算馬氏體及奧氏體各晶面的取向幾率密度：

ρ*=(HiKiLi)=[Σi=1nP(HiKiLi)·It(HiKiLi)Iu(HiKiLi)]Σj=1n[P(HjKjLj)·It(HjKjLj)Iu(HjKjLj)]]]>

其中，I_t(H_iK_iL_i)和I_t(H_jK_jL_j)分別為存在擇優取向時(H_iK_iL_i)和(H_jK_jL_j)面的衍射強度；ρ^*(H_iK_iL_i)為(H_iK_iL_i)面的取向幾率密度，即極點密度；P(H_iK_iL_i)和P(H_jK_jL_j)為(H_iK_iL_i)和(H_jK_jL_j)面的重復因子；I_u(H_iK_iL_i)和I_u(H_jK_jL_j)分別為無擇優取向時(H_iK_iL_i)面和(H_jK_jL_j)面的相對衍射強度，n為選用的衍射面數；

步驟（5）：利用步驟（4）中的取向幾率密度和如下公式求得修正后馬氏體及奧氏體各晶面的衍射強度：

I(HiKiLi)=It(HiKiLi)ρ*(HiKiLi)]]>

其中：I(H_iK_iL_i)為經過擇優取向校正后(H_iK_iL_i)面的衍射強度；I_t(H_iK_iL_i)為存在擇優取向時(H_iK_iL_i)面的衍射強度；ρ^*(H_iK_iL_i)為(H_iK_iL_i)面的取向幾率密度；

步驟（6）：利用步驟（5）中修正后馬氏體及奧氏體各晶面的衍射強度和如下公式最終測得鋼材試樣奧氏體的含量：

VA=1-Vc1+GIM(hkl)iIA(hkl)i]]>

其中，V_A定位為奧氏體相的體積分數；V_c定義為鋼中碳化物相總量的體積分數；I_M(hkl)i定義為鋼中馬氏體(hkl)_i晶面衍射線的累積強度；I_A(hkl)i定義為鋼中奧氏體(hkl)_j晶面衍射線的累積強度；G定義為奧氏體(hkl)_j晶面與馬氏體(hkl)_i晶面所對應的強度因子之比。

2.根據權利要求1所述的采用X射線衍射技術測量鋼中奧氏體含量的方法，其特征在于，步驟（1）中X射線衍射儀的掃描速度小于等于1°/min。