[發明專利]電波暗室及電磁干擾的測試方法

在審

• 申請號: 201310588971.8
• 申請日: 2013-11-21
• 公開（公告）號: CN104655949A
• 公開（公告）日: 2015-05-27
• 發明（設計）人: 何等乾
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密電子(天津)有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 無
• 代理人: 無

技術領域

本發明涉及一種電波暗室及使用該電波暗室測試電磁干擾的測試方法。?

背景技術

手機、電腦等電子產品在開發過程中均需要利用電波暗室進行電磁場輻射抗擾度試驗。常用的電波暗室會分別使用高頻水平天線、高頻垂直天線、低頻水平天線及低頻垂直天線進行測試，需要人工在各類天線之間更換，因此增加了設備、人力、時間，造成測試成本高，且測試效率低。?

發明內容

有鑒于此，有必要提供一種測試效率高，測試成本低的電波暗室及使用該電波暗室測試電磁干擾的測試方法。?

一種電波暗室，包括一暗室、一設于該暗室內用來承載一待測物的轉臺、一高頻水平天線、一高頻垂直天線、一低頻水平天線、一低頻垂直天線、四個單向濾波器、四個繼電器、一合路器及一接收器，該高頻水平天線、高頻垂直天線、低頻水平天線及低頻垂直天線設置于該轉臺的四周并分別電性連接于該四個單向濾波器，每一繼電器包括一連接于該合路器的第一端及一連接對應單向濾波器的第二端，該合路器的輸出端連接該接收器，該合路器將這些單向濾波器傳輸來的信號合成一合成信號后傳輸給接收器來判斷該待測物是否合格并顯示出測試結果。?

一種電磁干擾的測試方法，包括如下步驟：?

提供一電波暗室，該電波暗室內設置一轉臺及放置于暗室內且位于該轉臺的四周的高頻水平天線、高頻垂直天線、低頻水平天線及低頻垂直天線；

將一待測物放置于該轉臺上，并開啟該待測物；

該高頻水平天線、高頻垂直天線、低頻水平天線及低頻垂直天線同時接收該待測物的電磁場信號；

該高頻水平天線、高頻垂直天線、低頻水平天線及低頻垂直天線將接收到的電磁場信號分別通過一單向濾波器傳輸給一合路器；

該合路器將信號進行合成一合路信號后傳輸給一接收器來判斷該待測物是否合格并顯示出測試結果。

所述電波暗室能同時使用高頻水平天線、高頻垂直天線、低頻水平天線及低頻垂直天線對待測物進行高頻及低頻的電磁干擾測試，從而提高了測試效率，降低了測試成本。?

附圖說明

圖1為本發明較佳實施例的電波暗室的示意圖。?

圖2為本發明較佳實施例的電波暗室的方框圖。?

圖3及圖4為本發明較佳實施例電波暗室進行電磁干擾的測試方法的流程圖。?