[發(fā)明專利]電波暗室及電磁干擾的測試方法

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• 申請?zhí)枺?/td>: 201310588971.8
• 申請日: 2013-11-21
• 公開（公告）號: CN104655949A
• 公開（公告）日: 2015-05-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 何等乾
• 申請（專利權(quán)）人: 鴻富錦精密電子(天津)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 無
• 代理人: 無

1.一種電波暗室，包括一暗室、一設(shè)于該暗室內(nèi)用來承載一待測物的轉(zhuǎn)臺、一高頻水平天線、一高頻垂直天線、一低頻水平天線、一低頻垂直天線、四個單向濾波器、四個繼電器、一合路器及一接收器，該高頻水平天線、高頻垂直天線、低頻水平天線及低頻垂直天線設(shè)置于該轉(zhuǎn)臺的四周并分別電性連接于該四個單向濾波器，每一繼電器包括一連接于該合路器的第一端及一連接對應(yīng)單向濾波器的第二端，該合路器的輸出端連接該接收器，該合路器將這些單向濾波器傳輸來的信號合成一合成信號后傳輸給接收器來判斷該待測物是否合格并顯示出測試結(jié)果。

2.如權(quán)利要求1所述的電波暗室，其特征在于：該電波暗室還包括四個負(fù)載，每一繼電器包括一連接一個負(fù)載的第三端。

3.如權(quán)利要求2所述的電波暗室，其特征在于：每一負(fù)載的電阻值與對應(yīng)的單向濾波器的電阻值相同。

4.如權(quán)利要求1所述的電波暗室，其特征在于：該合路器與該接收器之間設(shè)有一放大器。

5.一種電磁干擾的測試方法，包括如下步驟：

提供一電波暗室，該電波暗室內(nèi)設(shè)置一轉(zhuǎn)臺及放置于暗室內(nèi)且位于該轉(zhuǎn)臺的四周的高頻水平天線、高頻垂直天線、低頻水平天線及低頻垂直天線；

將一待測物放置于該轉(zhuǎn)臺上，并開啟該待測物；

該高頻水平天線、高頻垂直天線、低頻水平天線及低頻垂直天線同時接收該待測物的電磁場信號；

該高頻水平天線、高頻垂直天線、低頻水平天線及低頻垂直天線將接收到的電磁場信號分別通過一單向濾波器傳輸給一合路器；

該合路器將信號進(jìn)行合成一合路信號后傳輸給一接收器來判斷該待測物是否合格并顯示出測試結(jié)果。

6.如權(quán)利要求5所述的測試方法，其特征在于：當(dāng)合成信號的高頻段量及低頻段量均低于限制值，則待測物合格；否則待測物不合格。

7.如權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于：當(dāng)合成信號的高頻段量高于限制值時，關(guān)閉與該低頻水平天線、低頻垂直天線及高頻垂直天線連接的繼電器，僅使高頻水平天線接收待測物的電磁場信號，能判斷高頻段量的水平方向的頻率是否高于限制值。

8.如權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于：當(dāng)合成信號的高頻段量高于限制值，關(guān)閉與該低頻水平天線、低頻垂直天線及高頻水平天線連接的繼電器，僅使高頻垂直天線接收待測物的電磁場信號，能判斷高頻段量的垂直方向的頻率否高于限制值。

9.如權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于：當(dāng)合成信號的低頻段量高于限制值時，關(guān)閉與該高頻水平天線、高頻垂直天線及低頻垂直天線連接的繼電器，僅使低頻水平天線接收待測物的電磁場信號，能判斷低頻段量的水平方向的頻率是否高于限制值。

10.如權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于：當(dāng)合成信號的低頻段量高于限制值時，關(guān)閉與該高頻水平天線、高頻垂直天線及低頻水平天線連接的繼電器，僅使低頻垂直天線接收待測物的電磁場信號，能判斷低頻段量的垂直方向的頻率否高于限制值。