[發明專利]彩膜基板的檢測方法和檢測裝置

有效

• 申請號: 201310585128.4
• 申請日: 2013-11-19
• 公開（公告）號: CN103558702A
• 公開（公告）日: 2014-02-05
• 發明（設計）人: 張鐵軼;余道平;侯玉珠;劉輝
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方顯示技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種彩膜基板的檢測方法和檢測裝置。

背景技術

顯示裝置的彩色顯示主要是通過彩膜（Color?Filter，簡稱CF）基板實現的。具體的，顯示裝置的背光源發出的白光入射到CF基板，通過CF基板的紅色濾色層、綠色濾色層、以及藍色濾色層的濾光作用，分別轉化為紅、綠、藍三種光線。不同顏色的濾色層分別透射對應顏色波段的光，從而實現顯示器的彩色顯示。因此，需要對CF基板進行檢測，以保證CF基板上透過同一種顏色的濾色層的單色光的亮度、色度等特性接近，進而保證LCD的顯示效果。

發明人發現，在現有技術中，首先利用電荷耦合元件（Charge-coupled?Device，簡稱CCD）掃描CF基板，每一個CCD的像素可獲取到一個CF基板某一小區域的灰度值，根據這些掃描到的灰度值可檢測出CF基板上的任意處是否都符合預期值，但是若CF基板上兩個相同顏色的濾色層的中心的距離不為CCD的像素的邊長的整數倍時，彩膜基板的檢測結果的準確性就會下降，誤檢的幾率提高。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于提供一種彩膜基板的檢測方法和檢測裝置，能夠保證彩膜基板的檢測結果的準確性。

為解決上述技術問題，本發明采用如下技術方案：

本發明的第一方面提供了一種彩膜基板的檢測方法，所述彩膜基板包括若干個子像素，任意兩個顏色相同的、最接近的子像素的中心距離為Lμm，L>0，掃描所述彩膜基板的電荷耦合元件的像素的邊長為βμm，0<β<L，當非整數時，所述彩膜基板的檢測方法包括：

獲取所述彩膜基板上的一個區域作為待檢測區域，獲取所述電荷耦合元件掃描到的待檢測區域的灰度值；

在同一行或同一列中，獲取第一灰度值和第二灰度值、第三灰度值和第四灰度值，其中，所述第一灰度值與所述待檢測區域的灰度值相差個灰度值，所述第二灰度值與所述待檢測區域的灰度值相差個灰度值，所述第三灰度值與所述第一灰度值或所述待檢測區域的灰度值相差個灰度值，所述第四灰度值與所述第二灰度值或所述待檢測區域的灰度值相差個灰度值；

根據所述第一灰度值和所述第二灰度值獲得第一參考灰度值，根據所述第三灰度值和所述第四灰度值獲得第二參考灰度值；

根據所述第一參考灰度值、所述第二參考灰度值判斷所述待檢測區域的灰度值是否正常。

進一步的，所述檢測方法還包括：

在同一列或同一行中，獲取第五灰度值和第六灰度值、第七灰度值和第八灰度值，其中，所述第五灰度值與所述待檢測區域的灰度值相差個灰度值，所述第六灰度值與所述待檢測區域的灰度值相差個灰度值，所述第七灰度值與所述第五灰度值或所述待檢測區域的灰度值相差個灰度值，所述第八灰度值與所述第六灰度值或所述待檢測區域的灰度值相差個灰度值；

根據所述第五灰度值和第六灰度值獲得第三參考灰度值，根據所述第七灰度值和第八灰度值獲得第四參考灰度值；

所述根據所述第一參考灰度值、所述第二參考灰度值判斷所述待檢測區域的灰度值是否正常包括：

根據所述第一參考灰度值、所述第二參考灰度值、所述第三參考灰度值和所述第四參考灰度值判斷所述待檢測區域的灰度值是否正常。

進一步的，根據所述第一灰度值和所述第二灰度值獲得第一參考灰度值包括：

所述第一灰度值為α₁，所述第二灰度值為α₂，其中，α₁、α₂>0，所述第一參考灰度值為

根據所述第三灰度值和所述第四灰度值獲得第二參考灰度值包括：

所述第三灰度值為α₃，所述第四灰度值為α₄，其中，α₃、α₄>0，所述第二參考灰度值為

根據所述第五灰度值和所述第六灰度值獲得第三參考灰度值包括：

所述第五灰度值為α₅，所述第六灰度值為α₆，其中，α₅、α₆>0，所述第三參考灰度值為

根據所述第七灰度值和所述第八灰度值獲得第四參考灰度值包括：

所述第七灰度值為α₇，所述第八灰度值為α₈，其中，α₇、α₈>0，所述第四參考灰度值為