[發明專利]芯片測試系統及芯片測試方法有效
| 申請號： | 201310574106.8 | 申請日： | 2013-11-15 |
| 公開（公告）號： | CN103576079A | 公開（公告）日： | 2014-02-12 |
| 發明（設計）人： | 張大成;施瑾;劉遠華;顧春華;郝丹丹 | 申請（專利權）人： | 上海華嶺集成電路技術股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 周耀君 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 芯片 測試 系統 方法 | ||
1.一種芯片測試系統，其特征在于，包括：測試機、晶振及信號分析系統，所述測試機及晶振均與所述信號分析系統連接；所述測試機用以提供測試信號；所述晶振用以提供時鐘信號；所述信號分析系統用以獲取測試機輸出測試信號的信號輸出時間；其中，所述測試機根據信號輸出時間輸出測試信號。
2.如權利要求1所述的芯片測試系統，其特征在于，所述信號輸出時間根據時鐘信號的起振時間以及測試信號的輸出用時來確定。
3.如權利要求1所述的芯片測試系統，其特征在于，所述信號輸出時間根據時鐘信號的起振時間、高低電平的跳轉時刻以及測試信號的輸出用時來確定。
4.如權利要求1所述的芯片測試系統，其特征在于，當所述晶振每輸出一次時鐘信號時，所述信號分析系統便獲取與該次時鐘信號相對應的測試機輸出測試信號的信號輸出時間。
5.如權利要求1～4中任一項所述的芯片測試系統，其特征在于，所述測試機提供的測試信號包括電壓信號和/或電流信號。
6.如權利要求1～4中任一項所述的芯片測試系統，其特征在于，所述晶振提供的時鐘信號包括方波信號。
7.如權利要求1～4中任一項所述的芯片測試系統，其特征在于，還包括：與所述測試機連接的探針卡，及與所述探針卡連接的探針臺。
8.一種芯片測試方法，其特征在于，包括：
晶振輸出時鐘信號，測試機輸出測試信號；
信號分析系統接收所述時鐘信號及測試信號，并獲取測試機輸出測試信號的信號輸出時間；
測試機根據信號輸出時間再次輸出測試信號。
9.如權利要求8所述的芯片測試方法，其特征在于，所述信號輸出時間根據時鐘信號的起振時間以及測試信號的輸出用時來確定。
10.如權利要求8所述的芯片測試方法，其特征在于，所述信號輸出時間根據時鐘信號的起振時間、高低電平的跳轉時刻以及測試信號的輸出用時來確定。
11.如權利要求8所述的芯片測試方法，其特征在于，當所述晶振每輸出一次時鐘信號時，所述信號分析系統便獲取與該次時鐘信號相對應的測試機輸出測試信號的信號輸出時間。
12.如權利要求8～11中任一項所述的芯片測試方法，其特征在于，所述測試機提供的測試信號包括電壓信號和/或電流信號。
13.如權利要求8～11中任一項所述的芯片測試方法，其特征在于，所述晶振提供的時鐘信號包括方波信號。
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