[發(fā)明專利]芯片測(cè)試系統(tǒng)及芯片測(cè)試方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310574106.8
• 申請(qǐng)日: 2013-11-15
• 公開（公告）號(hào): CN103576079A
• 公開（公告）日: 2014-02-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張大成;施瑾;劉遠(yuǎn)華;顧春華;郝丹丹
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237
• 代理人: 周耀君

1.一種芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括：測(cè)試機(jī)、晶振及信號(hào)分析系統(tǒng)，所述測(cè)試機(jī)及晶振均與所述信號(hào)分析系統(tǒng)連接；所述測(cè)試機(jī)用以提供測(cè)試信號(hào)；所述晶振用以提供時(shí)鐘信號(hào)；所述信號(hào)分析系統(tǒng)用以獲取測(cè)試機(jī)輸出測(cè)試信號(hào)的信號(hào)輸出時(shí)間；其中，所述測(cè)試機(jī)根據(jù)信號(hào)輸出時(shí)間輸出測(cè)試信號(hào)。

2.如權(quán)利要求1所述的芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述信號(hào)輸出時(shí)間根據(jù)時(shí)鐘信號(hào)的起振時(shí)間以及測(cè)試信號(hào)的輸出用時(shí)來確定。

3.如權(quán)利要求1所述的芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述信號(hào)輸出時(shí)間根據(jù)時(shí)鐘信號(hào)的起振時(shí)間、高低電平的跳轉(zhuǎn)時(shí)刻以及測(cè)試信號(hào)的輸出用時(shí)來確定。

4.如權(quán)利要求1所述的芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)所述晶振每輸出一次時(shí)鐘信號(hào)時(shí)，所述信號(hào)分析系統(tǒng)便獲取與該次時(shí)鐘信號(hào)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試機(jī)輸出測(cè)試信號(hào)的信號(hào)輸出時(shí)間。

5.如權(quán)利要求1～4中任一項(xiàng)所述的芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述測(cè)試機(jī)提供的測(cè)試信號(hào)包括電壓信號(hào)和/或電流信號(hào)。

6.如權(quán)利要求1～4中任一項(xiàng)所述的芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述晶振提供的時(shí)鐘信號(hào)包括方波信號(hào)。

7.如權(quán)利要求1～4中任一項(xiàng)所述的芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括：與所述測(cè)試機(jī)連接的探針卡，及與所述探針卡連接的探針臺(tái)。

8.一種芯片測(cè)試方法，其特征在于，包括：

晶振輸出時(shí)鐘信號(hào)，測(cè)試機(jī)輸出測(cè)試信號(hào)；

信號(hào)分析系統(tǒng)接收所述時(shí)鐘信號(hào)及測(cè)試信號(hào)，并獲取測(cè)試機(jī)輸出測(cè)試信號(hào)的信號(hào)輸出時(shí)間；

測(cè)試機(jī)根據(jù)信號(hào)輸出時(shí)間再次輸出測(cè)試信號(hào)。

9.如權(quán)利要求8所述的芯片測(cè)試方法，其特征在于，所述信號(hào)輸出時(shí)間根據(jù)時(shí)鐘信號(hào)的起振時(shí)間以及測(cè)試信號(hào)的輸出用時(shí)來確定。

10.如權(quán)利要求8所述的芯片測(cè)試方法，其特征在于，所述信號(hào)輸出時(shí)間根據(jù)時(shí)鐘信號(hào)的起振時(shí)間、高低電平的跳轉(zhuǎn)時(shí)刻以及測(cè)試信號(hào)的輸出用時(shí)來確定。

11.如權(quán)利要求8所述的芯片測(cè)試方法，其特征在于，當(dāng)所述晶振每輸出一次時(shí)鐘信號(hào)時(shí)，所述信號(hào)分析系統(tǒng)便獲取與該次時(shí)鐘信號(hào)相對(duì)應(yīng)的測(cè)試機(jī)輸出測(cè)試信號(hào)的信號(hào)輸出時(shí)間。

12.如權(quán)利要求8～11中任一項(xiàng)所述的芯片測(cè)試方法，其特征在于，所述測(cè)試機(jī)提供的測(cè)試信號(hào)包括電壓信號(hào)和/或電流信號(hào)。

13.如權(quán)利要求8～11中任一項(xiàng)所述的芯片測(cè)試方法，其特征在于，所述晶振提供的時(shí)鐘信號(hào)包括方波信號(hào)。