[發(fā)明專利]一種定量修補裝置及其自動圖像修補方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310558815.7 | 申請日: | 2013-11-12 |
| 公開(公告)號: | CN104638204A | 公開(公告)日: | 2015-05-20 |
| 發(fā)明(設計)人: | 楊旸;劉洋;胡賢夫;陳寧;施文峰 | 申請(專利權)人: | 昆山國顯光電有限公司 |
| 主分類號: | H01L51/56 | 分類號: | H01L51/56;H04N7/18 |
| 代理公司: | 北京匯澤知識產權代理有限公司 11228 | 代理人: | 程殿軍 |
| 地址: | 215300 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 定量 修補 裝置 及其 自動 圖像 方法 | ||
1.一種定量修補裝置,其特征在于,其包括有激光源、衰減器、鏡頭,及比對控制單元,該激光源電連接該比對控制單元,該激光源發(fā)出的激光經由該衰減器及鏡頭入射至待測基底表面,該待測基底表面具有異物,該異物具有一定高度,該比對控制單元獲取該異物及異物周圍區(qū)域的待測基底表面的圖像,并根據(jù)圖像中異物處灰度值與周圍區(qū)域灰度值比對后的差值控制該激光源輸出與停止,該激光源輸出激光時對異物進行轟擊以修補該待測基底表面。
2.如權利要求1所述的定量修補裝置,其特征在于,所述比對控制單元包括光源、攝像機及與攝像機連接的計算機,該計算機同時連接所述激光源,該光源發(fā)出的光束照射到該待測基底表面,經該待測基底表面反射后由該攝像機接收,并獲得異物及異物周圍區(qū)域的待測基底表面的圖像,該攝像機將該圖像傳輸給該計算機,由該計算機對該圖像中異物處灰度值與周圍區(qū)域灰度值比對并控制該激光源輸出激光與停止。
3.如權利要求2所述的定量修補裝置,其特征在于,所述衰減器與鏡頭之間的光路上設有分光鏡,該分光鏡的反射面一側設有自動對焦單元,由所述衰減器出射的激光直接透過該分光鏡入射至待測基底表面,并由待測基底表面反射后再由分光鏡反射至該自動對焦單元。
4.如權利要求2所述的定量修補裝置,其特征在于,所述衰減器與所述鏡頭之間的光路上設置有反射鏡,所述激光源與所述衰減器的光軸同該反射鏡的法線呈45°角。
5.如權利要求4所述的定量修補裝置,其特征在于,所述反射鏡與所述鏡頭之間的光路上設置有分光鏡,所述反射鏡的鏡面與該分光鏡的鏡面垂直,且由所述反射鏡反射的激光直接由該分光鏡透射至待測基底表面。
6.一種利用權利要求2-5任意一項所述的定量修補裝置實現(xiàn)的自動圖像修補方法,其特征在于,該方法包括:
步驟一、獲取待測基底表面的異物及異物周圍區(qū)域的待測基底表面的圖像,光源發(fā)出的光束照射到待測基底表面,經過待測基底表面反射后由攝像機接收,攝像機將獲取的異物及異物周圍區(qū)域的待測基底表面的圖像傳輸給計算機,計算機得到需要加工的區(qū)域的圖形;
步驟二、對步驟一中獲取的圖像進行掃描,掃描至灰度值相同的區(qū)域,計算機控制激光源不進行激發(fā),該區(qū)域為異物周圍待測基底便面的正常區(qū)域;當掃描到達灰度值不同的區(qū)域,計算機控制激光源輸出激光開始進行轟擊,該轟擊區(qū)域為待修補的異物區(qū)域;
步驟三、在完成一次掃描后,重復步驟二與步驟三,攝像機重新拍攝圖像并將新的灰度值傳輸?shù)接嬎銠C,計算機進行分析并進行第二次掃描轟擊、第三次掃描轟擊直至修補完成,形成自動修補,當修補區(qū)域灰度值與正常區(qū)域灰度值相同,或修補區(qū)域灰度值初次小于正常區(qū)域灰度值或修補區(qū)域灰度值初次大于正常區(qū)域灰度值,或修補區(qū)域灰度值初次出現(xiàn)拐點時修補完成。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L51-00 使用有機材料作有源部分或使用有機材料與其他材料的組合作有源部分的固態(tài)器件;專門適用于制造或處理這些器件或其部件的工藝方法或設備
H01L51-05 .專門適用于整流、放大、振蕩或切換且并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的電容器或電阻器
H01L51-42 .專門適用于感應紅外線輻射、光、較短波長的電磁輻射或微粒輻射;專門適用于將這些輻射能轉換為電能,或者適用于通過這樣的輻射進行電能的控制
H01L51-50 .專門適用于光發(fā)射的,如有機發(fā)光二極管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料選擇





