[發(fā)明專利]電子元件檢測裝置和電子元件自動檢測方法

在審

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• 申請日: 2013-11-07
• 公開（公告）號: CN104624523A
• 公開（公告）日: 2015-05-20
• 發(fā)明（設計）人: 熊斌;賴晨鵬;歐毓迎;姜富林;黃才筍;方祥建
• 申請（專利權）人: 珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/36
• 代理公司: 北京康信知識產(chǎn)權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 吳貴明;張永明

技術領域

本發(fā)明涉及電子元件檢測技術領域，更具體地，涉及一種電子元件檢測裝置和電子元件自動檢測方法。

背景技術

電器產(chǎn)品中需要用到很多的電子元件，為了保證電器產(chǎn)品的成品合格率，因而需要在使用電子元件前對每個電子元件進行檢測，以便及時將不合格的電子元件篩除。

現(xiàn)有技術中，采用人工檢測的方法對電子元件進行篩選，導致工作人員勞動強度大、檢測效率低。同時，由于電子元件（例如編帶電阻、編帶電容等）的體積小、用量大（每日用量多達幾萬甚至十幾萬），因而工作人員的人工檢測速度無法滿足生產(chǎn)需求，嚴重影響生產(chǎn)效率。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明旨在提供一種電子元件檢測裝置和電子元件自動檢測方法，以解決現(xiàn)有技術中人工檢測電子元件導致工作人員勞動強度大、檢測效率低的問題。

為解決上述技術問題，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供了一種電子元件檢測裝置，包括：送料單元，送料單元具有進料端和出料端；測量單元，測量單元的工作位置位于送料單元的進料端和出料端之間，用于測量電子元件的實際參數(shù)；控制單元，與送料單元和測量單元連接，根據(jù)實際參數(shù)與目標參數(shù)范圍的關系確定電子元件是否合格、并發(fā)送合格信號或不合格信號，送料單元接收合格信號；處理單元，與控制單元連接，用于接收控制單元發(fā)出的不合格信號，并對不合格的電子元件進行處理。

進一步地，送料單元包括支桿輪，支桿輪為多個，多個支桿輪沿進料端向出料端的方向間隔設置。

進一步地，測量單元為電阻測試儀。

進一步地，處理單元為切除組件。

進一步地，切除組件包括：切刀，切刀的工作位置位于測量單元的工作位置和送料單元的出料端之間，用于切除電子元件；驅(qū)動部，與控制單元連接，用于接收控制單元發(fā)出的不合格信號并驅(qū)動切刀運動。

進一步地，電子元件檢測裝置還包括工作臺，工作臺位于送料單元的進料端和出料端之間，且測量單元的工作位置位于工作臺上，切刀的工作位置位于工作臺上。

進一步地，電子元件檢測裝置還包括用于盛接被切除的電子元件的第一收納部，第一收納部位于工作臺的下方。

進一步地，電子元件檢測裝置還包括用于盛接電子元件的第二收納部，第二收納部位于送料單元的出料端的下方。

進一步地，電子元件檢測裝置還包括輸入單元，輸入單元與控制單元連接，用于設定目標參數(shù)范圍和/或控制控制單元向送料單元、測量單元、處理單元發(fā)送控制信號。

進一步地，電子元件檢測裝置還包括計數(shù)元件，計數(shù)元件與控制單元連接，用于接收不合格信號并計數(shù)。

進一步地，電子元件檢測裝置還包括報警元件，報警元件與計數(shù)元件連接，用于當計數(shù)元件計數(shù)超過預設數(shù)值時報警。

根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供了一種電子元件自動檢測方法，包括：步驟S1：通過送料單元將待檢測的電子元件輸送至測量單元的工作位置處；步驟S2：對位于測量單元的工作位置處的電子元件進行測量，以得到電子元件的實際參數(shù)；步驟S3：控制單元根據(jù)實際參數(shù)與目標參數(shù)范圍的關系確定電子元件是否合格、并發(fā)送合格信號或不合格信號；步驟S4：當控制單元發(fā)送合格信號時，送料單元接收合格信號將電子元件輸送至送料單元的出料端；當控制單元發(fā)送不合格信號時，處理單元接收不合格信號對電子元件進行處理。

進一步地，在步驟S3中確定電子元件是否合格的方法為：當實際參數(shù)處于目標參數(shù)范圍內(nèi)時，確定電子元件為合格產(chǎn)品；否則，確定電子元件為不合格產(chǎn)品。

進一步地，在步驟S4中，處理單元接收不合格信號對電子元件進行處理的方法包括：步驟S41：處理單元的驅(qū)動部接收不合格信號并驅(qū)動切刀運動；步驟S42：切刀切割電子元件后回縮；步驟S43：控制單元驅(qū)動送料單元運動，將下一個電子元件送至測量單元的工作位置處。

進一步地，電子元件自動檢測方法還包括在步驟S4后的步驟S5：用第一收納部和第二收納部將電子元件收集。

進一步地，在步驟S3中目標參數(shù)范圍通過輸入單元設定。

進一步地，在步驟S3與步驟S4之間還包括：步驟S31：用計數(shù)元件記錄不合格的電子元件的個數(shù)；步驟S32：當不合格的電子元件的個數(shù)超過預設數(shù)值時報警元件報警。

進一步地，在步驟S1之前還包括：步驟S01：通過輸入單元設定送料單元的運行方向和/或運行速度；步驟S02：通過輸入單元設定重復測量次數(shù)，當步驟S3中確定電子元件為不合格產(chǎn)品時，根據(jù)重復測量次數(shù)對電子元件進行重復測量；步驟S03：通過輸入單元設定測試時間，測試時間為對電子元件進行重復測量所用的時間。