[發明專利]電子元件檢測裝置和電子元件自動檢測方法

在審

• 申請號: 201310549856.X
• 申請日: 2013-11-07
• 公開（公告）號: CN104624523A
• 公開（公告）日: 2015-05-20
• 發明（設計）人: 熊斌;賴晨鵬;歐毓迎;姜富林;黃才筍;方祥建
• 申請（專利權）人: 珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/36
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 吳貴明;張永明

1.一種電子元件檢測裝置，其特征在于，包括：

送料單元（10），所述送料單元（10）具有進料端和出料端；

測量單元（20），所述測量單元（20）的工作位置位于所述送料單元（10）的所述進料端和所述出料端之間，用于測量電子元件的實際參數；

控制單元，與所述送料單元（10）和所述測量單元（20）連接，根據所述實際參數與目標參數范圍的關系確定所述電子元件是否合格、并發送合格信號或不合格信號，所述送料單元（10）接收所述合格信號；

處理單元（30），與所述控制單元連接，用于接收所述控制單元發出的所述不合格信號，并對不合格的所述電子元件進行處理。

2.根據權利要求1所述的電子元件檢測裝置，其特征在于，所述送料單元（10）包括支桿輪（11），所述支桿輪（11）為多個，多個所述支桿輪（11）沿所述進料端向所述出料端的方向間隔設置。

3.根據權利要求1所述的電子元件檢測裝置，其特征在于，所述測量單元（20）為電阻測試儀。

4.根據權利要求1所述的電子元件檢測裝置，其特征在于，所述處理單元（30）為切除組件。

5.根據權利要求4所述的電子元件檢測裝置，其特征在于，所述切除組件包括：

切刀（31），所述切刀（31）的工作位置位于所述測量單元（20）的工作位置和所述送料單元（10）的所述出料端之間，用于切除所述電子元件；

驅動部（32），與所述控制單元連接，用于接收所述控制單元發出的所述不合格信號并驅動所述切刀（31）運動。

6.根據權利要求5所述的電子元件檢測裝置，其特征在于，所述電子元件檢測裝置還包括工作臺（40），所述工作臺（40）位于所述送料單元（10）的所述進料端和所述出料端之間，且所述測量單元（20）的工作位置位于所述工作臺（40）上，所述切刀（31）的工作位置位于所述工作臺（40）上。

7.根據權利要求6所述的電子元件檢測裝置，其特征在于，所述電子元件檢測裝置還包括用于盛接被切除的所述電子元件的第一收納部，所述第一收納部位于所述工作臺（40）的下方。

8.根據權利要求1所述的電子元件檢測裝置，其特征在于，所述電子元件檢測裝置還包括用于盛接所述電子元件的第二收納部（50），所述第二收納部（50）位于所述送料單元（10）的所述出料端的下方。

9.根據權利要求1所述的電子元件檢測裝置，其特征在于，所述電子元件檢測裝置還包括輸入單元，所述輸入單元與所述控制單元連接，用于設定所述目標參數范圍和/或控制所述控制單元向所述送料單元（10）、所述測量單元（20）、所述處理單元（30）發送控制信號。

10.根據權利要求1所述的電子元件檢測裝置，其特征在于，所述電子元件檢測裝置還包括計數元件，所述計數元件與所述控制單元連接，用于接收所述不合格信號并計數。

11.根據權利要求10所述的電子元件檢測裝置，其特征在于，所述電子元件檢測裝置還包括報警元件，所述報警元件與所述計數元件連接，用于當所述計數元件計數超過預設數值時報警。

12.一種電子元件自動檢測方法，其特征在于，包括：

步驟S1：通過送料單元（10）將待檢測的電子元件輸送至測量單元（20）的工作位置處；

步驟S2：對位于所述測量單元（20）的工作位置處的所述電子元件進行測量，以得到所述電子元件的實際參數；

步驟S3：控制單元根據所述實際參數與目標參數范圍的關系確定所述電子元件是否合格、并發送合格信號或不合格信號；

步驟S4：當所述控制單元發送所述合格信號時，所述送料單元（10）接收所述合格信號將所述電子元件輸送至所述送料單元（10）的出料端；當所述控制單元發送所述不合格信號時，處理單元（30）接收所述不合格信號對所述電子元件進行處理。

13.根據權利要求12所述的電子元件自動檢測方法，其特征在于，在所述步驟S3中確定所述電子元件是否合格的方法為：當所述實際參數處于所述目標參數范圍內時，確定所述電子元件為合格產品；否則，確定所述電子元件為不合格產品。