[發明專利]清潔刮板、清潔裝置、處理盒、以及圖像形成設備

有效

• 申請號: 201310549352.8
• 申請日: 2013-11-07
• 公開（公告）號: CN104035308B
• 公開（公告）日: 2018-10-12
• 發明（設計）人: 太野大介;小野雅人;杉本勉;小島紀章;高橋義典;田中敬
• 申請（專利權）人: 富士施樂株式會社
• 主分類號: G03G21/00
• 分類號: G03G21/00;G03G21/18;G03G15/00
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 宋丹氫;張天舒

一種清潔刮板，包括與被清潔部件接觸的接觸部，以及，該接觸部至少含有聚氨酯橡膠，并且在100℃或更高范圍中按差示掃描量熱法具有至少兩個不同的吸熱峰溫度。

技術領域

本發明涉及清潔刮板、清潔裝置、處理盒、以及圖像形成設備。

背景技術

在相關技術中，在復印機、打印機、傳真機等電子照相系統中，使用清潔刮板作為清潔單元，用于去除圖像保持部件例如感光體表面上的殘余色調劑等。

例如，JP-A-5-119676(專利文獻1)披露了一種圖像形成設備，其中，通過在感光帶上施加由聚合樹脂粉末、硬脂酸鋅粉末、以及硅粉所形成的色調劑，或施加硬脂酸鋅粉末，在表面上形成低摩擦膜，并且，在感光帶移動方向上，低摩擦膜形成于清潔刮板接觸部位上游的特定區域。

此外，JP-A-2010-134111(專利文獻2)披露了一種清潔刮板，其由澆注型聚氨酯部件形成，該聚氨酯部件通過使至少含有多元醇和異氰酸酯化合物的聚氨酯成分固化并成型而得到，以及，其中，聚氨酯部件含有外徑為0.5μm至小于12μm的硬鏈段聚集體，以及，當硬鏈段的外徑設定為a(μm)、且其數量設定為b時，a×b/1000μm²大于或等于70且小于1050。

發明內容

本發明的目的是提供一種清潔刮板，其同時滿足耐磨損性和高強度。

根據本發明的第一方面，提供了一種清潔刮板，其包括與被清潔部件接觸的接觸部，其中，接觸部至少含有聚氨酯橡膠，并且在100℃或更高的溫度范圍中按差示掃描量熱法具有至少兩個不同的吸熱峰溫 度。

根據本發明的第二方面，在根據第一方面的清潔刮板中，兩個不同的吸熱峰溫度之中，高溫側的吸熱峰溫度(T1)在180℃～220℃范圍中，以及，低溫側的吸熱峰溫度(T2)在120℃～160℃范圍中。

根據本發明的第三方面，在根據第二方面的清潔刮板中，兩個不同的吸熱峰溫度之中，高溫側的吸熱峰溫度(T1)在185℃～215℃范圍中。

根據本發明的第四方面，在根據第二方面的清潔刮板中，兩個不同的吸熱峰溫度之中，高溫側的吸熱峰溫度(T1)在190℃～210℃范圍中。

根據本發明的第五方面，在根據第二方面的清潔刮板中，兩個不同的吸熱峰溫度之中，低溫側的吸熱峰溫度(T2)在120℃～140℃范圍中。

根據本發明的第六方面，在根據第二方面的清潔刮板中，兩個不同的吸熱峰溫度之中，低溫側的吸熱峰溫度(T2)在120℃～130℃范圍中。

根據本發明的第七方面，在根據第一方面的清潔刮板中，聚氨酯橡膠包括硬鏈段和軟鏈段，以及，在硬鏈段中，使高熔點側硬鏈段聚集體與低熔點側硬鏈段聚集體混合。

根據本發明的第八方面，在根據第七方面的清潔刮板中，高熔點側硬鏈段聚集體的平均粒徑為5μm～20μm。

根據本發明的第九方面，在根據第七方面的清潔刮板中，高熔點側硬鏈段聚集體的平均粒徑為5μm～15μm。

根據本發明的第十方面，在根據第七方面的清潔刮板中，高熔點側硬鏈段聚集體的平均粒徑為5μm～10μm。

根據本發明的第十一方面，在根據第七方面的清潔刮板中，低熔點側硬鏈段聚集體的平均粒徑為0.10μm～0.50μm。

根據本發明的第十二方面，在根據第七方面的清潔刮板中，低熔點側硬鏈段聚集體的平均粒徑為0.10μm～0.30μm。

根據本發明的第十三方面，在根據第七方面的清潔刮板中，低熔 點側硬鏈段聚集體的平均粒徑為0.10μm～0.20μm。

根據本發明的第十四方面，提供了一種清潔裝置，其包括根據第一至第十三方面中任一方面的清潔刮板。