[發明專利]清潔刮板、清潔裝置、處理盒、以及圖像形成設備

有效

• 申請號: 201310549352.8
• 申請日: 2013-11-07
• 公開（公告）號: CN104035308B
• 公開（公告）日: 2018-10-12
• 發明（設計）人: 太野大介;小野雅人;杉本勉;小島紀章;高橋義典;田中敬
• 申請（專利權）人: 富士施樂株式會社
• 主分類號: G03G21/00
• 分類號: G03G21/00;G03G21/18;G03G15/00
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 宋丹氫;張天舒

1.一種清潔刮板，包括與被清潔部件接觸的接觸部，

其中，所述接觸部至少含有聚氨酯橡膠，所述聚氨酯橡膠包括硬鏈段和軟鏈段，并且在所述聚氨酯橡膠的硬鏈段中，在100℃或更高范圍中按差示掃描量熱法具有至少兩個不同的吸熱峰溫度，

其中，在所述兩個不同的吸熱峰溫度之中，高溫側的吸熱峰溫度(T1)在180℃～220℃范圍中，以及，低溫側的吸熱峰溫度(T2)在120℃～160℃范圍中。

2.根據權利要求1所述的清潔刮板，

其中，在所述兩個不同的吸熱峰溫度之中，所述高溫側的吸熱峰溫度(T1)在185℃～215℃范圍中。

3.根據權利要求1所述的清潔刮板，

其中，在所述兩個不同的吸熱峰溫度之中，所述高溫側的吸熱峰溫度(T1)在190℃～210℃范圍中。

4.根據權利要求1所述的清潔刮板，

其中，在所述兩個不同的吸熱峰溫度之中，所述低溫側的吸熱峰溫度(T2)在120℃～140℃范圍中。

5.根據權利要求1所述的清潔刮板，

其中，在所述兩個不同的吸熱峰溫度之中，所述低溫側的吸熱峰溫度(T2)在120℃～130℃范圍中。

6.根據權利要求1所述的清潔刮板，

在所述硬鏈段中，高熔點側硬鏈段聚集體與低熔點側硬鏈段聚集體相混合。

7.根據權利要求6所述的清潔刮板，

其中，所述高熔點側硬鏈段聚集體的平均粒徑為5μm～20μm。

8.根據權利要求6所述的清潔刮板，

其中，所述高熔點側硬鏈段聚集體的平均粒徑為5μm～15μm。

9.根據權利要求6所述的清潔刮板，

其中，所述高熔點側硬鏈段聚集體的平均粒徑為5μm～10μm。

10.根據權利要求6所述的清潔刮板，

其中，所述低熔點側硬鏈段聚集體的平均粒徑為0.10μm～0.50μm。

11.根據權利要求6所述的清潔刮板，

其中，所述低熔點側硬鏈段聚集體的平均粒徑為0.10μm～0.30μm。

12.根據權利要求6所述的清潔刮板，

其中，所述低熔點側硬鏈段聚集體的平均粒徑為0.10μm～0.20μm。

13.一種清潔裝置，包括根據權利要求1至權利要求12中任一項權利要求所述的清潔刮板。

14.一種處理盒，包括根據權利要求13所述的清潔裝置，其中，所述處理盒可從圖像形成設備拆下。

15.一種圖像形成設備，包括：

圖像保持部件；

充電裝置，其使所述圖像保持部件充電；

靜電潛像形成裝置，其在充電后的圖像保持部件的表面上形成靜電潛像；

顯影裝置，其用色調劑使形成于所述圖像保持部件表面的靜電潛像顯影，以形成色調劑圖像；

轉印裝置，其將形成于所述圖像保持部件上的所述色調劑圖像轉印在記錄介質上；以及

根據權利要求13所述的清潔裝置，其在由所述轉印裝置轉印所述色調劑圖像之后，使所述清潔刮板與所述圖像保持部件的表面相接觸，以進行清潔。