[發明專利]一種右側B柱的檢具結構

在審

• 申請號: 201310548983.8
• 申請日: 2013-11-08
• 公開（公告）號: CN103630002A
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發明（設計）人: 朱建平
• 申請（專利權）人: 無錫市麥希恩機械制造有限公司
• 主分類號: G01B5/00
• 分類號: G01B5/00
• 代理公司: 無錫盛陽專利商標事務所(普通合伙) 32227
• 代理人: 杜丹盛

1.一種右側B柱的檢具結構，其特征在于：其包括底板，所述底板的其中三個角位置分別設置有基準套，模擬塊支承于所述底板的上端面，所述模擬塊的中部兩側的上表面各自布置有兩個上凸的定位凸塊，所述兩側的定位凸塊關于所述模擬塊的中心軸線對稱布置，所述定位凸塊的上凸高度為3mm，檢測狀態下右側B柱的下表面緊貼所述定位凸塊的上端面，所述定位凸塊的對應側的底板上分別緊固有壓鉗支架，所述壓鉗支架的上部連接有壓鉗，檢測狀態下的所述壓鉗的下端面壓裝于所述右側B柱的上表面、且所述壓鉗位于對應的所述定位凸塊的正上方，所述模擬塊的前部的一側、后部的另一側所對應的底板上緊固有對應的翻板支架，所述翻板支架通過轉軸連接所述翻板，所述翻板的上部緊固有卡板，檢測狀態下的所述卡板的下端面壓裝于所述右側B柱的對應位置的上端面，檢測狀態下的所述右側B柱的孔槽內分別設置有定位銷，所述定位銷貫穿所述孔槽后插裝于所述模擬塊上端面的定位孔內，其還包括間隙通止規，所述間隙通止規的粗端直徑為3.3mm、細端直徑為2.7mm。