[發(fā)明專利]金屬基體整形方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310542706.6
• 申請日: 2013-11-06
• 公開（公告）號: CN104624732A
• 公開（公告）日: 2015-05-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 戴偉眾;倪杰;吳胡
• 申請（專利權(quán)）人: 富鼎電子科技(嘉善)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司
• 主分類號: B21D3/00
• 分類號: B21D3/00
• 代理公司: 無
• 代理人: 無

1.一種金屬基體整形方法，其包括以下步驟：

利用平面度檢測機構(gòu)檢測金屬基體表面的多個檢測點，且根據(jù)最小二乘法計算出該金屬基體的評定基準面及金屬基體表面的平面度誤差值H；

提供一與該平面度檢測機構(gòu)電性連接的控制器，該控制器內(nèi)預(yù)設(shè)有平面度允許誤差范圍K，該控制器比較該金屬基體的平面度誤差值H與該平面度允許誤差范圍K，若所測的平面度誤差值H在該平面度允許誤差范圍K內(nèi)，則判斷該金屬基體無需整形，取回該金屬基體，若所測金屬基體的該平面度誤差值H超出該平面度允許誤差范圍K，則判斷該金屬基體需整形；

該控制器內(nèi)預(yù)設(shè)有整形基準面，該控制器根據(jù)該整形基準面與上述金屬基體的評定基準面判斷支點位置及整形位置，其中，該支點位置指該整形基準面和該評定基準面相共面的位置，該整形位置指該整形基準面和該評定基準面未共面的位置；

該控制器根據(jù)該金屬基體的材質(zhì)計算出上述整形位置的下壓量P，該下壓量P根據(jù)下壓量公式P=M+?[（H-K）/D]?/N+L進行計算，其中，P為下壓量，H為平面度誤差值，K為平面度允許誤差范圍中的最大值，N為整形次數(shù)，L為整形機構(gòu)的補償量，M為變形臨界值，D為將金屬基體每下壓1mm時金屬基體的變形的可整形值；

提供一與該控制器電性連接的整形機構(gòu)，利用該整形機構(gòu)整形金屬基體，該整形機構(gòu)包括支點軸及下壓軸，該支點軸與該金屬基體的支點位置相抵持，該下壓軸根據(jù)該下壓量P下壓整形位置以實現(xiàn)校正；

重復(fù)上述步驟，直到該金屬基板的平面度誤差值H在平面度允許誤差范圍K內(nèi)。

2.如權(quán)利要求1所述的金屬基體整形方法，其特征在于：該補償量、該變形臨界值及該金屬基體的可整形值是根據(jù)金屬基體的材料特性，在該控制器中預(yù)先設(shè)定。

3.如權(quán)利要求1所述的金屬基體整形方法，其特征在于：該金屬基體為鋁基體。

4.如權(quán)利要求1所述的金屬基體整形方法，其特征在于：該控制器預(yù)設(shè)有平面度誤差范圍對應(yīng)的整形次數(shù)，在該控制器計算下壓量P之前，該控制器根據(jù)該平面度誤差值H及該平面度誤差范圍對應(yīng)的整形次數(shù)設(shè)定整形位置的整形次數(shù)N。

5.如權(quán)利要求4所述的金屬基體整形方法，其特征在于：該平面度誤差范圍對應(yīng)的整形次數(shù)為0.4mm<H≦0.6mm時整形1次，0.6mm<H≦0.8mm時整形2次，0.8mm<H<1.0mm時整形3次。

6.如權(quán)利要求1所述的金屬基體整形方法，其特征在于：該控制器內(nèi)預(yù)設(shè)有最小可整形平面度誤差值，該控制器根據(jù)該平面度誤差值H和該平面度允許誤差范圍K判斷該金屬基體是否進行整形時，若該平面度誤差值H超出該平面度允許誤差范圍K且小于該最小可整形平面度誤差值，則判斷該金屬基體需整形，若該平面度誤差值H超出該最小可整形平面度誤差值，則判斷該金屬基體需重新加工，取回該金屬基體。

7.如權(quán)利要求1所述的金屬基體整形方法，其特征在于：該控制器預(yù)設(shè)有最大下壓量值，該下壓量P小于該最大下壓量值。

8.如權(quán)利要求3所述的金屬基體整形方法，其特征在于：該整形機構(gòu)將鋁基體每下壓1mm時，該鋁基體的可校正的整形值D為0.05mm。

9.如權(quán)利要求3所述的金屬基體整形方法，其特征在于：該平面度允許誤差范圍K≦0.4mm。

10.如權(quán)利要求1所述的金屬基體整形方法，其特征在于：利用該平面度檢測機構(gòu)檢測金屬基體表面的多個檢測點，以實際被檢測的金屬基體的表面的最小二乘法平面作為評定基準面，其中，最小二乘法平面為實際被檢測的金屬基體的表面上各檢測點與該平面的距離的平方和為最小的平面，并以平行于最小二乘法平面，且具有最小距離的兩個包容平面間的距離作為平面度誤差值H。