[發明專利]一種檢測觸頭參數的基座及其制造方法、檢測方法

有效

• 申請號: 201310539873.5
• 申請日: 2013-11-04
• 公開（公告）號: CN103542794A
• 公開（公告）日: 2014-01-29
• 發明（設計）人: 杜和艷;葉青;宋志文
• 申請（專利權）人: 德力西電氣有限公司
• 主分類號: G01B5/14
• 分類號: G01B5/14;G01B5/02
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 穆瑞丹

技術領域

本發明涉及低壓電氣技術領域,具體是一種檢測觸頭參數的基座及其制造方法、檢測方法。

背景技術

現有的斷路器、接觸器等低壓電氣產品在制造完成后需要進行開距、超程以及同步等觸頭參數的檢測，以確保產品質量。

其中，開距的檢測需要配備相應的檢具；超程的檢測不但要配備卡尺或高度尺及水平尺等，同時還要準備記錄紙和筆來記錄每相檢測的數據，再計算，而且還要單拆單量各相；而同步的檢測為人工裝配時將中相動觸頭用工具下壓目測看三相是否與靜觸頭同時接觸。以上的人工測量、計算的方式，工序繁鎖，人工讀數和測量誤差累積大，特別是針對大殼架產品的檢測，其靜觸頭拆卸很不方便，觸頭參數的測量既費時費力又誤差大，同時還不能每臺產品都檢測，只能采取抽檢方式，不能有效保證每臺產品的觸頭參數均符合產品設計標準。

為此，現有技術中出現了專門用于檢測開距和超程的檢測裝置，如中國專利文獻CN201909616U公開了一種塑殼斷路器的開距超程測量裝置,該裝置包括機架、夾具、激光測量組件、輔助插片組件、輔助插片組件的升降機構、輔助插片組件的支架及控制器,所述夾具、激光測量組件、輔助插片組件、輔助插片組件的升降機構、輔助插片組件的支架及控制器設置在機架上。再如中國專利文獻CN102590740A公開了一種交流接觸器開距和超程自動測試裝置及方法，主要解決了現有的交流接觸器在檢測觸頭開距和超程參數時采用人工測試，存在勞動強度大、工作效率低及誤差大的問題，其機架上設有自動夾具，自動夾具的一側設有與交流接觸器的各接線端相對應的檢測探針組，檢測探針組固定在直線往復裝置上并由直線往復裝置驅動其與交流接觸器接通和斷開；直線往復裝置的安裝板與滾珠絲杠相連，滾珠絲杠由伺服電機驅動，其中還設有伸入交流接觸器浮動指示件的中間探針。

雖然，上述檢測裝置的檢測精度高、誤差小，但是對于斷路器和接觸器的生產廠家來說需要單獨購買，導致生產成本大幅提高。

發明內容

為了解決以上現有技術中斷路器和接觸器等產品的觸頭參數檢測，要么步驟繁瑣、誤差大、精確度低，要么成本高的問題，從而提供一種檢測精確度較高且成本低的檢測觸頭參數的基座及其制造方法、檢測方法。

為解決上述現有技術問題，本發明是通過以下技術方案實現的：

一種檢測觸頭參數的基座，用于斷路器或接觸器，所述基座的內部設置有用于檢測所述動觸頭觸頭參數的標記,所述標記根據所述動觸頭觸頭參數的理論值設置。

上述檢測觸頭參數的基座中，所述標記還根據所述動觸頭上觀測物的位置設置。

上述檢測觸頭參數的基座中，所述標記以所述基座的底面為基準并設置于所述基座的內側壁上。

上述檢測觸頭參數的基座中，所述標記為標記臺階面或標記線，所述標記臺階面成型在所述基座的所述內側壁上，所述標記線直接刻畫或粘貼在所述基座的所述內側壁上。

上述檢測觸頭參數的基座中，所述標記包括開距參考系和/或超程參考系；所述開距參考系和所述超程參考系可設置于所述基座的相同或不同內側壁。

上述檢測觸頭參數的基座中，所述開距參考系包括開距理論標記；所述超程參考系包括超程理論標記。

上述檢測觸頭參數的基座中，所述開距參考系還包括開距上標記和/或開距下標記；所述超程參考系還包括超程上標記和/或超程下標記。

上述檢測觸頭參數的基座中，所述開距參考系包括開距上標記和開距下標記；所述超程參考系包括超程上標記和超程下標記。

上述檢測觸頭參數的基座中，所述動觸頭的所述觀測物為觀測面、觀測點或觀測線。

一種上述檢測觸頭參數的基座的制造方法，包括以下步驟，

①根據觸頭參數的理論值，計算出以所述基座的底面為基準時標記的設置位置；

②在所述基座的內側壁上設置所述標記。

上述制造方法中，所述步驟①還包括，根據事先選取的動觸頭上觀測物的位置計算出以所述基座的底面為基準時標記的設置位置。

上述制造方法中，在所述步驟②之后還包括根據所述基座上所述標記位置在動觸頭上相應選取觀測物的步驟。

上述制造方法中，在所述步驟①之前還包括計算出觸頭參數的理論值的步驟。

一種采用上述檢測觸頭參數的基座對動觸頭進行觸頭參數測量的檢測方法，包括，