[發(fā)明專利]自動化測試系統(tǒng)和方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310535824.4
• 申請日: 2013-11-01
• 公開（公告）號: CN104614659A
• 公開（公告）日: 2015-05-13
• 發(fā)明（設計）人: 吳永裕;陳輝煌
• 申請（專利權）人: 普誠科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G05B19/042
• 代理公司: 北京林達劉知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

技術領域

本發(fā)明有關于自動化測試系統(tǒng)，特別是有關于應用現(xiàn)場可編程門陣列的自動化測試系統(tǒng)。

背景技術

圖1為一自動化測試系統(tǒng)10搭配一分析儀器14以對一待測裝置15進行測試的示意圖。在此，該待測裝置15為音頻集成電路，該分析儀器14為一音頻分析器。該自動化測試系統(tǒng)10包括一電源供應器11、一處理器16、一邏輯輸入/輸出板12以及一通用接口總線13。該自動化測試系統(tǒng)10具有電源供應以及數(shù)字信號和模擬信號量測功能。在該自動化測試系統(tǒng)10中，該處理器16分別耦接并控制該電源供應器11、該邏輯輸入/輸出板12以及該通用接口總線13。該邏輯輸入/輸出板12能夠?qū)崿F(xiàn)函數(shù)產(chǎn)生器的功能（即該邏輯輸入/輸出板12能送出數(shù)字信號給該待測裝置15以測試該待測裝置15的功能）。該通用接口總線（General?Purpose?Interface?Bus；GPIB）13作為該邏輯輸入/輸出板12控制外部的該分析儀器14或是一待測裝置15的接口。該電源供應器11供應電源給該待測裝置15的VDD腳位。

當要進行數(shù)字信號量測時，該邏輯輸入/輸出板12產(chǎn)生數(shù)字測試信號（DIN）傳送至該待測裝置15。該待測裝置15針對該數(shù)字測試信號（DIN）產(chǎn)生一數(shù)字信號輸出（DOUT）。該邏輯輸入/輸出板12接收該數(shù)字信號輸出（DOUT），對該數(shù)字信號輸出（DOUT）進行分析比對，產(chǎn)生一數(shù)字量測結果。最后，該邏輯輸入/輸出板12根據(jù)該數(shù)字量測判斷該待測裝置15的數(shù)字功能是否正確。

當要進行模擬信號量測時，該處理器16通過該通用接口總線13控制該分析儀器14產(chǎn)生一模擬測試信號或音頻測試信號（AIN）給該待測裝置15。該待測裝置15針對該模擬測試信號（AIN）產(chǎn)生一模擬信號輸出（AOUT）給該分析儀器14。該分析儀器14依據(jù)該模擬信號輸出（AOUT）做模擬特性上的量測。該處理器16經(jīng)由該通用接口總線13讀取來自該分析儀器14的模擬量測結果。最后，該處理器16根據(jù)該模擬量測結果執(zhí)行模擬功能運算，判斷該待測裝置15的模擬功能是否正確。

由于該自動化測試系統(tǒng)10是通過該分析儀器14進行該待測裝置15的模擬功能量測，在該自動化測試系統(tǒng)10與該分析儀器14之間的接地點容易發(fā)生噪聲干擾的問題。噪聲干擾的問題會影響到模擬量測結果，造成對該待測裝置15的模擬功能產(chǎn)生誤判。還有因為該自動化測試系統(tǒng)10與該分析儀器14兩端具有接地平衡（grounding?balance）的問題。因此，該自動化測試系統(tǒng)10需要解決該問題的接地手法以及一定的測試等待時間，才能達到穩(wěn)定的測試效果。

另一方面，若該待測裝置15有多個測試項目需要量測，就有必要提高測試生產(chǎn)效率。此時，測試生產(chǎn)效率就會受限于該通用接口總線13的規(guī)范。例如，符合該通用接口總線13的通訊協(xié)定規(guī)范了在同一時間內(nèi)只能控制單一臺分析儀器；或是該通用接口總線13需要指令讀取時間，并受限于其傳輸速率。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種自動化測試系統(tǒng)，包括一現(xiàn)場可編程門陣列、一數(shù)字模擬轉換器、一模擬數(shù)字轉換器以及一處理器。該現(xiàn)場可編程門陣列預先寫入一待測裝置所需的數(shù)字信號協(xié)議，并產(chǎn)生遵循該數(shù)字信號協(xié)議的一數(shù)字測試信號至該待測裝置，使該待測裝置針對該數(shù)字測試信號產(chǎn)生一數(shù)字信號輸出。該現(xiàn)場可編程門陣列接收該數(shù)字信號輸出，并基于該數(shù)字信號協(xié)議對該數(shù)字信號輸出進行分析比對，產(chǎn)生一數(shù)字量測結果。該數(shù)字模擬轉換器產(chǎn)生一模擬測試信號，并傳送至該待測裝置，使該待測裝置針對該模擬測試信號產(chǎn)生一模擬輸出信號。該模擬數(shù)字轉換器接收該模擬輸出信號，并對該模擬輸出信號量測得到一模擬量測結果。該處理器控制該現(xiàn)場可編程門陣列及該數(shù)字模擬轉換器分別產(chǎn)生該數(shù)字測試信號與該模擬測試信號，并接收該數(shù)字量測結果和該模擬量測結果，依此判斷該待測裝置的功能是否正常。

本發(fā)明所述的自動化測試系統(tǒng)還包括一高速總線接口，其中該處理器耦接該高速總線接口，并通過該高速總線接口控制該現(xiàn)場可編程門陣列、該數(shù)字模擬轉換器以及該模擬數(shù)字轉換器的動作。

本發(fā)明所述的自動化測試系統(tǒng)還包括一可編程電源供應器，該可編程電源供應器提供該待測裝置測試所需的、可調(diào)整的供應電源。

本發(fā)明所述的自動化測試系統(tǒng)，其中，將該處理器、該現(xiàn)場可編程門陣列、該數(shù)字模擬轉換器、該模擬數(shù)字轉換器以及該待測裝置的接地配置成單一共地。

本發(fā)明所述的自動化測試系統(tǒng)，其中，該待測裝置為一音頻集成電路。