[發(fā)明專利]自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)和方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310535824.4
• 申請(qǐng)日: 2013-11-01
• 公開（公告）號(hào): CN104614659A
• 公開（公告）日: 2015-05-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳永裕;陳輝煌
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 普誠(chéng)科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G05B19/042
• 代理公司: 北京林達(dá)劉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

1.一種自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括：

一現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列，預(yù)先寫入一待測(cè)裝置所需的數(shù)字信號(hào)協(xié)議，并產(chǎn)生遵循該數(shù)字信號(hào)協(xié)議的一數(shù)字測(cè)試信號(hào)至該待測(cè)裝置，使該待測(cè)裝置針對(duì)該數(shù)字測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生一數(shù)字信號(hào)輸出，該現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列接收該數(shù)字信號(hào)輸出，并基于該數(shù)字信號(hào)協(xié)議對(duì)該數(shù)字信號(hào)輸出進(jìn)行分析比對(duì)，產(chǎn)生一數(shù)字量測(cè)結(jié)果；

一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器，產(chǎn)生一模擬測(cè)試信號(hào)，并傳送至該待測(cè)裝置，使該待測(cè)裝置針對(duì)該模擬測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生一模擬輸出信號(hào)；

一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器，接收該模擬輸出信號(hào)，并對(duì)該模擬輸出信號(hào)量測(cè)得到一模擬量測(cè)結(jié)果；以及

一處理器，控制該現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列及該數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器分別產(chǎn)生該數(shù)字測(cè)試信號(hào)與該模擬測(cè)試信號(hào)，并接收該數(shù)字量測(cè)結(jié)果和該模擬量測(cè)結(jié)果，依此判斷該待測(cè)裝置的功能是否正常。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括一高速總線接口，其中該處理器耦接該高速總線接口，并通過該高速總線接口控制該現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列、該數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器以及該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器的動(dòng)作。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，還包括一可編程電源供應(yīng)器，該可編程電源供應(yīng)器提供該待測(cè)裝置測(cè)試所需的、可調(diào)整的供應(yīng)電源。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，將該處理器、該現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列、該數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器、該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器以及該待測(cè)裝置的接地配置成單一共地。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該待測(cè)裝置為一音頻集成電路。

6.一種自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

對(duì)一現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列預(yù)先寫入一待測(cè)裝置所需的數(shù)字信號(hào)協(xié)議；

該現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列產(chǎn)生遵循該數(shù)字信號(hào)協(xié)議的一數(shù)字測(cè)試信號(hào)至該待測(cè)裝置；

該現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列接收該待測(cè)裝置回應(yīng)該數(shù)字測(cè)試信號(hào)的一數(shù)字信號(hào)輸出；

該現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列基于該數(shù)字信號(hào)協(xié)議對(duì)該數(shù)字信號(hào)輸出進(jìn)行分析比對(duì)，并產(chǎn)生一數(shù)字量測(cè)結(jié)果；

一數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器產(chǎn)生并傳送一模擬測(cè)試信號(hào)至該待測(cè)裝置，該待測(cè)裝置針對(duì)該模擬測(cè)試信號(hào)產(chǎn)生一模擬輸出信號(hào)；

一模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器接收該模擬輸出信號(hào)，并對(duì)該模擬輸出信號(hào)量測(cè)得到一模擬量測(cè)結(jié)果；以及

一處理器控制該現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列、該數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器及該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器的動(dòng)作，并接收該數(shù)字量測(cè)結(jié)果和該模擬量測(cè)結(jié)果，依此判斷該待測(cè)裝置的功能是否正常。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，該處理器通過一高速總線接口控制該現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列、該數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器以及該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器的動(dòng)作。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的自動(dòng)化測(cè)試方法，其特征在于，將該處理器、該現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列、該數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器、該模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器以及該待測(cè)裝置的接地配置成單一共地。