[發(fā)明專利]兒童語言能力發(fā)展評估建模方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310503291.1
• 申請日: 2013-10-23
• 公開（公告）號: CN103530523B
• 公開（公告）日: 2017-01-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 舒華;李虹;張玉平;劉紅云;王曉怡
• 申請（專利權(quán)）人: 北京師范大學(xué)
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00;G06F17/50;G06F17/30
• 代理公司: 北京法思騰知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11318
• 代理人: 高宇

1.兒童語言能力發(fā)展評估建模方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

（一）建立可比較的兒童漢語語言和相關(guān)認知能力發(fā)展的數(shù)據(jù)庫：

根據(jù)兒童年齡特點和漢語特點，設(shè)計適合不同年齡的語言及相關(guān)認知能力的測驗任務(wù)，對兒童進行智力、語言能力、基本認知能力以及讀寫能力測驗，把大量在兒童多個發(fā)展時間點上收集的不同性質(zhì)的數(shù)據(jù)進行清理和系統(tǒng)整理，形成兒童漢語語言和相關(guān)認知能力發(fā)展的數(shù)據(jù)庫；

（二）使用潛變量增長曲線模型分析個體發(fā)展趨勢：

y_ti=Λ_tη_i+e_ti

其中t=1,2,…，T表示時間，i=1,2，…，n表示個體；Λ_t表示與時間有關(guān)的載荷矩陣；η_i表示與發(fā)展有關(guān)的潛在因子，其均值描述了總體的發(fā)展趨勢，方差描述了個體之間的差異；e_ti為對應(yīng)個體指定時間的隨機誤差，

在潛變量增長曲線模型中，通過定義Λ_t矩陣，使得η_i中的潛變量具有不同的含義：

對于與發(fā)展有關(guān)的潛在因子η_i，考察個體特征對發(fā)展特征的影響，即：

η_i=β₀+β₁X_i+U_i

其中，β₀表示在預(yù)測變量X_i為零時，發(fā)展因子的平均水平，β₁表示預(yù)測變量X_i對發(fā)展因子的影響，U_i為殘差，服從均值為零的多元正態(tài)分布；

（三）判斷兒童語言能力發(fā)展的潛在類別：

使用潛變量混合增長模型分析不同的發(fā)展類別，其模型表示為：

y_kti=Λ_ktη_ki+ε_kti

其中t=1,2,…，T表示時間，i=1,2，…，n表示個體，k=1,2…，K表示潛在發(fā)展類別，Λ_kt表示第k組與時間有關(guān)的載荷矩陣，用來表示發(fā)展趨勢特征；η_ki表示第k組與發(fā)展有關(guān)的潛在因子，其均值描述了第k組總體的發(fā)展趨勢，方差描述了第k組個體之間的差異；ε_kti為第k組總體中指定個體和指定時間對應(yīng)的隨機誤差，在潛變量混合增長模型中，通過定義Λ_kt矩陣，使得η_ki中的潛變量具有不同的含義。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的兒童語言能力發(fā)展評估建模方法，其特征在于，進一步考慮個體特征x_i對發(fā)展趨勢和兒童語言能力發(fā)展的潛在類別的影響，模型表示為：

η_ki=β_k0+β_k1x_i+u_ki

其中β_k0表示在控制x_i的條件下，第k組的發(fā)展因子η_ki的均值；β_k1表示第k組，自變量x_i對發(fā)展因子η_ki的影響；u_ki表第k組的殘差向量，其方差表示了考慮了x_i的影響后，第k組個體之間的差異。