[發(fā)明專利]電子電路和半導體裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310495320.4 | 申請日: | 2013-10-21 |
| 公開(公告)號: | CN103780112B | 公開(公告)日: | 2016-11-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 長山準;粟屋友晴 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社索思未來 |
| 主分類號: | H01L27/02 | 分類號: | H01L27/02;H01L27/088;H03K17/14 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 王萍;陳煒 |
| 地址: | 日本神*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子電路 半導體 裝置 | ||
1.一種電子電路,包括:
第一電路,每個第一電路包括第一場效應(yīng)晶體管,所述第一場效應(yīng)晶體管的源極被提供第一電壓和第二電壓中至少之一;以及
第二電路,每個第二電路與相應(yīng)的一個第一電路相關(guān)聯(lián),并且產(chǎn)生施加到所述第一場效應(yīng)晶體管的反向偏置電壓,以便根據(jù)所述第一電壓和第二電壓中至少之一的改變而改變。
2.如權(quán)利要求1所述的電子電路,其中,每個第二電路包括第一節(jié)點、第二節(jié)點、第三節(jié)點、第四節(jié)點、第一電阻器和第二電阻器,第二場效應(yīng)晶體管以及電流源,所述第一節(jié)點被提供所述第一電壓和第二電壓中之一,所述第二節(jié)點被提供低于所述第一電壓或高于所述第二電壓的第三電壓,通過所述第三節(jié)點輸出反向偏置電壓,所述第四節(jié)點被提供第四電壓,所述第一電阻器和第二電阻器在所述第一節(jié)點和第二節(jié)點之間串聯(lián)連接,所述第二場效應(yīng)晶體管的源極被連接到所述第一節(jié)點,柵極被連接到所述第一電阻器和第二電阻器之間的節(jié)點,漏極被連接到所述第二節(jié)點,背柵被連接到所述第四節(jié)點,所述電流源在所述第二節(jié)點和第三節(jié)點之間連接并且對所述第一電阻器和第二電阻器提供電流。
3.如權(quán)利要求2所述的電子電路,其中,所述電流源包括第三電阻器和第三場效應(yīng)晶體管,所述第三電阻器被連接在所述第二場效應(yīng)晶體管的漏極和所述第二節(jié)點之間,所述第三場效應(yīng)晶體管的源極被連接到所述第三節(jié)點,柵極被連接在所述第一場效應(yīng)晶體管的漏極和所述第三電阻器之間,漏極被連接到所述第二節(jié)點。
4.如權(quán)利要求2或3所述的電子電路,其中,至少兩個所述第二電路在所述第一電阻器和第二電阻器之間具有不同的電阻比值。
5.如權(quán)利要求2或3所述的電子電路,其中,至少兩個所述第二電路被提供不同值的第四電壓。
6.如權(quán)利要求2或3所述的電子電路,還包括產(chǎn)生第三電壓的電荷泵。
7.如權(quán)利要求2或3所述的電子電路,還包括存儲器電路和產(chǎn)生電路,所述存儲器電路存儲關(guān)于第四電壓的信息,所述產(chǎn)生電路根據(jù)所述信息產(chǎn)生第四電壓。
8.如權(quán)利要求7所述的電子電路,其中,至少一個所述第一電路包括PLL電路。
9.一種半導體裝置,其包括半導體芯片,在所述半導體芯片中形成電子電路,
所述電子電路包括:
第一電路,每個所述第一電路包括第一場效應(yīng)晶體管,所述第一場效應(yīng)晶體管的源極被提供第一電壓和第二電壓中至少之一;以及
第二電路,每個所述第二電路與相應(yīng)的一個第一電路相關(guān)聯(lián),并且根據(jù)所述第一電壓和第二電壓中至少之一的改變來產(chǎn)生施加到所述第一場效應(yīng)晶體管的反向偏置電壓,
所述半導體芯片具有多個塊,每個塊包括所述第一電路。
10.如權(quán)利要求9所述的半導體裝置,其中,多個塊包括被布置在所述半導體芯片的中心附近的塊,所述塊的面積小于布置在所述半導體芯片的邊緣附近的塊的面積。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會社索思未來,未經(jīng)株式會社索思未來許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310495320.4/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種生產(chǎn)高純金的方法
- 下一篇:色酒中漂白劑亞硫酸鹽的檢測方法
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的多個半導體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





