[發明專利]堿基序列分析方法和堿基序列分析裝置

無效

• 申請號: 201310485308.5
• 申請日: 2013-10-16
• 公開（公告）號: CN103773840A
• 公開（公告）日: 2014-05-07
• 發明（設計）人: 中村友彥;梶原淳志
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: C12Q1/68
• 分類號: C12Q1/68;C12M1/38;C12M1/34
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 吳孟秋;梁韜

1.一種堿基序列分析方法，包括：

核酸擴增步驟，通過核酸擴增反應獲得擴增產物；

渾濁度測量步驟，測量所述核酸擴增反應的反應溶液的渾濁度；以及

熔解曲線分析步驟，在所述核酸擴增反應的反應場所執行探針核酸鏈和所述擴增產物的熔解曲線分析。

2.根據權利要求1所述的堿基序列分析方法，其中，當所述渾濁度已經達到預定值時執行所述熔解曲線分析步驟。

3.根據權利要求2所述的堿基序列分析方法，其中，所述探針核酸鏈具有比所述核酸擴增反應的反應溫度低的熔解溫度，并且在所述探針核酸鏈存在下執行所述核酸擴增反應。

4.根據權利要求3所述的堿基序列分析方法，其中，所述探針核酸鏈具有比在所述核酸擴增反應中使用的引物的熔解溫度低的熔解溫度。

5.根據權利要求4所述的堿基序列分析方法，其中，所述探針核酸鏈具有比所述引物的熔解溫度低5℃至15℃的熔解溫度。

6.根據權利要求5所述的堿基序列分析方法，其中，各自具有不同的堿基序列的多個探針核酸鏈被用作所述探針核酸鏈。

7.根據權利要求6所述的堿基序列分析方法，其中，各自具有不同的堿基序列的所述多個探針核酸鏈各自標記有發射不同波長的光的熒光物質。

8.根據權利要求7所述的堿基序列分析方法，其中，在各自具有不同的堿基序列的所述多個探針核酸鏈中，一個探針核酸鏈與包含在所述擴增產物中的堿基序列的一部分完全匹配。

9.根據權利要求8所述的堿基序列分析方法，其中，所述核酸擴增反應是等溫核酸擴增反應。

10.根據權利要求9所述的堿基序列分析方法，其中，所述等溫核酸擴增反應通過環介導等溫擴增方法來執行。

11.一種堿基序列分析裝置，包括：

光源，被配置為將照射光輸出在反應場所上；

檢測單元，被配置為檢測由于所述照射光而從在所述反應場所中的核酸擴增反應溶液產生的光；

溫度調節單元，被配置為加熱或者冷卻所述反應場所；以及

控制單元，被配置為基于所述檢測單元的信號輸入來切換所述光源的驅動模式，

其中，所述控制單元被設置為將所述驅動模式從核酸擴增反應模式切換至熔解曲線分析模式。

12.根據權利要求11所述的堿基序列分析裝置，

其中，所述光源包括第一光源和第二光源，以及

其中，從所述第一光源輸出的光的波長與從被包含在利用來自所述第二光源的光照射的所述核酸擴增反應溶液中的熒光物質產生的熒光的波長區域匹配。

13.根據權利要求12所述的堿基序列分析裝置，其中，所述控制單元被配置為將輸出所述照射光至所述反應場所的所述光源從所述第一光源切換至所述第二光源作為從所述核酸擴增反應模式至所述溶解曲線分析模式的切換。

14.根據權利要求13所述的堿基序列分析裝置，進一步包括：光引導構件，被配置為將從所述第一光源輸出的光和從所述第二光源輸出的光引導至兩束光在其重疊的光路。

15.根據權利要求14所述的堿基序列分析裝置，其中，所述第二光源是一個或多個的激光源和/或LED光源。

16.根據權利要求15所述的堿基序列分析裝置，其中，所述檢測單元以時間分割方式檢測從所述熒光物質產生的熒光。

17.根據權利要求16所述的堿基序列分析裝置，其中，所述堿基序列分析裝置設置有遮光結構，所述遮光結構被配置為限制從所述光源和/或所述反應場所輸出的光的前進方向。

18.根據權利要求17所述的堿基序列分析裝置，其中，所述遮光結構具有與在所述光源與所述檢測單元之間的多個光路上的位置對應的多個開口部。

19.一種堿基序列分析程序，所述堿基序列分析程序使計算機執行以下步驟：

核酸擴增步驟，通過核酸擴增反應獲得擴增產物；

渾濁度測量步驟，測量所述核酸擴增反應的反應溶液的渾濁度；以及

熔解曲線分析步驟，在所述核酸擴增反應的反應場所執行探針核酸鏈和所述擴增產物的熔解曲線分析。