[發明專利]判定裝置、表面安裝機及判定方法

有效

• 申請號: 201310478607.6
• 申請日: 2013-10-14
• 公開（公告）號: CN104168752A
• 公開（公告）日: 2014-11-26
• 發明（設計）人: 仲村誠司;加藤寬
• 申請（專利權）人: 雅馬哈發動機株式會社
• 主分類號: H05K13/04
• 分類號: H05K13/04;H05K3/34
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 穆德駿;謝麗娜

1.一種判定裝置，判定具有附著部和平面部的附著部件的所述附著部的平面度是否良好，所述附著部附著于基板，所述平面部沿所述基板的板面配置且在端緣側設有所述附著部，

所述判定裝置具有計測裝置和控制裝置，

所述控制裝置執行：

標記設定處理，在所述平面部上的彼此間隔的至少四個位置設定計測標記；

基準平面設定處理，由所述計測裝置計測所述計測標記的各位置，從而將通過各所述計測標記或通過各所述計測標記附近的一個平面設定為假想基準平面；

Z方向坐標計算處理，在以沿著所述假想基準平面的一個方向為X方向，以與該X方向正交且沿著所述假想基準平面的方向為Y方向，以與所述X方向及所述Y方向分別正交的方向為Z方向的XYZ坐標系中，對各所述計測標記算出所述Z方向的坐標；及

良好與否判定處理，基于所述Z方向坐標計算處理中算出的所述Z方向的坐標來判定所述附著部件的所述附著部的平面度是否良好。

2.根據權利要求1所述的判定裝置，其中，

所述控制裝置在所述標記設定處理中，對于由保護部件構成的所述附著部件，將穿設于該附著部件的所述平面部的貫通孔設定為所述計測標記，其中，所述保護部件將安裝于所述基板上的電子元件覆蓋。

3.根據權利要求1或2所述的判定裝置，其中，

所述控制裝置在所述基準平面設定處理中，通過對所述計測標記的各坐標采用最小二乘法來算出所述假想基準平面。

4.根據權利要求1～3中任一項所述的判定裝置，其中，

所述控制裝置在所述良好與否判定處理中，根據所述Z方向坐標計算處理中算出的所述計測標記的所述Z方向的坐標中的最大值坐標與最小值坐標之差是否超過第一設定值來判定所述附著部件的所述附著部的平面度是否良好。

5.根據權利要求3所述的判定裝置，其中，

所述控制裝置在所述良好與否判定處理中，根據從各所述計測標記到所述假想基準平面的沿所述Z方向的距離中的至少一個距離是否超過第二設定值來判定所述附著部件的所述附著部的平面度是否良好。

6.根據權利要求1～3中任一項所述的判定裝置，其中，

具有存儲部，對在所述平面部的一部分具有形成高度差而隆起的隆起面部的所述附著部件，存儲該隆起面部的隆起量，

對于具有所述隆起面部的所述附著部件在該隆起面部內設定有所述計測標記的情況下，所述控制裝置在所述基準平面設定處理中，從所述存儲部讀出所述隆起量，并且將所述假想基準平面設定為對設定于所述隆起面部內的所述計測標記扣除所述隆起量的位置處所設定的平面，

所述控制裝置在所述Z方向坐標計算處理中，算出對設定于所述隆起面部內的所述計測標記扣除該隆起面部的隆起量的位置的所述Z方向的坐標。

7.根據權利要求1～3中任一項所述的判定裝置，其中，

具有存儲部，對于在與設定于所述附著部件的所述計測標記的正規位置相當的正確位置設定有該計測標記的標準部件，存儲該標準部件的各所述計測標記的所述Z方向的坐標，

所述控制裝置在所述良好與否判定處理中，從所述存儲部讀出所述標準部件的各所述計測標記的所述Z方向的坐標，基于該讀出的所述Z方向的坐標與和所述標準部件的各所述計測標記對應的所述附著部件的所述平面部的所述計測標記的所述Z方向的坐標之差，來判定所述附著部件的所述附著部的平面度是否良好。

8.根據權利要求1所述的判定裝置，其中，

所述控制裝置在所述標記設定處理中，對于由固定于所述基板的半導體晶片構成的所述附著部件，將所述半導體晶片的平面部位所設的圖案或印刷于該平面部位的印刷標記設定為所述計測標記。

9.根據權利要求1或2所述的判定裝置，其中，

所述控制裝置在所述基準平面設定處理中，算出第三假想平面作為所述假想基準平面，該第三假想平面位于通過三個所述計測標記的第一假想平面和平行于第一假想平面且通過另外一個所述計測標記的第二假想平面的中間。

10.一種表面安裝機，具備權利要求1～9中任一項所述的判定裝置。

11.一種判定方法，判定具有附著部和平面部的附著部件的所述附著部的平面度是否良好，所述附著部附著于基板，所述平面部沿著所述基板的板面配置且在端緣側設有所述附著部，

所述判定方法包括：

標記設定工序，在所述平面部上的彼此間隔的至少四個位置設定計測標記；

基準平面設定工序，將通過各所述計測標記或通過各所述計測標記附近的一個平面設定為假想基準平面；

Z方向坐標計算工序，將沿著所述假想基準平面的一個方向作為X方向，將與該X方向正交且沿著所述假想基準平面的方向作為Y方向，將與所述X方向及所述Y方向分別正交的方向作為Z方向，在由所述X方向、所述Y方向及所述Z方向構成的XYZ坐標系中，對各所述計測標記算出所述Z方向的坐標；及

良好與否判定工序，基于所述Z方向坐標計算處理中算出的所述Z方向的坐標來判定所述附著部件的所述附著部的平面度是否良好。