[發明專利]用于非易失性存儲器測試的裝置及方法

有效

• 申請號: 201310477361.0
• 申請日: 2013-10-12
• 公開（公告）號: CN103531249B
• 公開（公告）日: 2016-11-30
• 發明（設計）人: 溫靖康;劉桂云;許如柏
• 申請（專利權）人: 輝芒微電子(深圳)有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 深圳市順天達專利商標代理有限公司 44217
• 代理人: 郭偉剛

1.一種用于非易失性存儲器測試的裝置，其特征在于，包括：

用于驅動待處理的非易失性存儲器（60）執行編程操作的編程驅動模塊（40），

用于驅動所述非易失性存儲器（60）執行擦除操作的擦除驅動模塊（50），

用于輸入時鐘信號的時鐘輸入模塊（20），

用于根據所述時鐘輸入模塊（20）輸入的時鐘信號控制所述編程驅動模塊（40）對所述非易失性存儲器（60）執行預定時長的編程操作編程控制模塊（10），以及

用于根據所述時鐘輸入模塊（20）輸入的時鐘信號控制所述擦除驅動模塊（50）對所述非易失性存儲器（60）執行預定時長的擦除操作的擦除控制模塊（30）。

2.一種用于非易失性存儲器測試的裝置，其特征在于，包括：

用于驅動所述非易失性存儲器（60）執行編程操作的編程驅動模塊（40），

用于驅動所述非易失性存儲器（60）執行擦除操作的擦除驅動模塊（50），

用于輸入時鐘信號的時鐘輸入模塊（20），

用于檢測所述非易失性存儲器（60）的位線編程電流的電流檢測模塊（70），

用于將所述電流檢測模塊（70）檢測的電流值與所述預先設定的閾值進行比較并根據比較的結果輸出一個觸發信號的比較器模塊（90），

用于根據所述觸發信號控制所述編程驅動模塊（40）對所述非易失性存儲器（60）執行預定時長的編程操作的編程控制模塊（10），以及

用于根據所述時鐘輸入模塊（20）輸入的時鐘信號控制所述擦除驅動模塊（50）對所述非易失性存儲器（60）執行預定時長的擦除操作的擦除控制模塊（30）。

3.根據權利要求2所述的用于非易失性存儲器測試的裝置，其特征在于，所述比較器模塊（90）為電壓比較器，所述用于非易失性存儲器測試的裝置還包括用于將電流信號轉換成電壓信號的轉換模塊（80），所述轉換模塊（80）通信連接在所述電流檢測模塊（70）和所述比較器模塊（90）之間。

4.一種用于非易失性存儲器測試的方法，所述非易失性存儲器進行一次完全編程和完全擦除的時間分別為T1和T2，其特征在于，包括如下步驟：

S1：對所述非易失性存儲器（60）進行時長為t1的編程操作，其中t1小于T1；

S2：對所述非易失性存儲器（60）進行時長為t2的擦除操作，其中t2小于T2；

S3：依次交替重復執行所述編程操作和所述擦除操作預定次數。

5.根據權利要求4所述的用于非易失性存儲器測試的方法，其特征在于，所述步驟S1進一步為：輸入第一時鐘信號，根據所述第一時鐘信號對所述非易失性存儲器（60）進行時長為t1的編程操作，其中t1小于T1。

6.根據權利要求4所述的用于非易失性存儲器測試的方法，其特征在于，所述步驟S1包括以下步驟：

S1.1：設定預定時長t1，其中t1小于T1；

S1.2：根據t1對應設置所述非易失性存儲器（60）的位線編程電流的閾值；

S1.3：檢測所述位線編程電流的大小，當所述位線編程電流達到所述閾值時，停止對所述非易失性存儲器（60）的編程操作。

7.根據權利要求5或6所述的用于非易失性存儲器測試的方法，其特征在于，所述步驟S2進一步為：輸入第二時鐘信號，根據所述第二時鐘信號對所述非易失性存儲器（60）進行時長為t2的編程操作，其中t2小于T2。