[發(fā)明專利]一種高穩(wěn)時基振蕩器自動校準(zhǔn)電路及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310474210.X | 申請日: | 2013-09-27 |
| 公開(公告)號: | CN103501178A | 公開(公告)日: | 2014-01-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 任水生 | 申請(專利權(quán))人: | 中國電子科技集團(tuán)公司第四十一研究所 |
| 主分類號: | H03L7/099 | 分類號: | H03L7/099 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 266555 山東省*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高穩(wěn)時基 振蕩器 自動 校準(zhǔn) 電路 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及測試技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種高穩(wěn)時基振蕩器自動校準(zhǔn)電路,還涉及一種高穩(wěn)時基振蕩器自動校準(zhǔn)方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)代社會,在衛(wèi)星導(dǎo)航、通訊、廣播、雷達(dá)、精確制導(dǎo)、電子對抗、遙控遙測等各種領(lǐng)域,晶體振蕩器都是必不可少的部件,而且對于晶體振蕩器的頻率準(zhǔn)確度要求越來越高。業(yè)界已經(jīng)利用溫度補償技術(shù)設(shè)計了恒溫晶體振蕩器(OCXO),其頻率穩(wěn)定度有了極大的改善。但是隨著時間的推移,即使是恒溫晶體振蕩器,其頻率準(zhǔn)確度也會逐漸惡化,其主要原因包括老化、外界環(huán)境變化、壓控電壓的失調(diào)等等。
老化是晶體振蕩器的時間效應(yīng),是不可避免的誤差項。引起諧振器頻率老化的主要原因有質(zhì)量效應(yīng)和應(yīng)力效應(yīng)兩種。目前為了減小老化在工藝上均采取了許多措施,使得諧振器的老化大為降低。然而,即使是相同設(shè)計和加工工藝的諧振器,其老化率也會表現(xiàn)出不同的結(jié)果,因此在諧振器使用一段時間之后,會對其輸出頻率準(zhǔn)確度造成較大的影響。
而外界環(huán)境變化、壓控電壓失調(diào),同樣也是不可避免的。在晶體諧振器使用一段時間后,其頻率準(zhǔn)確度必然由于上述因素而惡化。但是不管是那一種因素,或是共同作用造成的頻率準(zhǔn)確度惡化,都可以通過調(diào)整晶體諧振器的壓控端電壓來校準(zhǔn)補償其頻率偏移。
目前振蕩器校準(zhǔn)技術(shù)主要有:
(1)基于GPS與北斗雙模受時的壓控晶體振蕩器校準(zhǔn)
系統(tǒng)優(yōu)選GPS與北斗系統(tǒng)中時基穩(wěn)定度較高的1pps信號與晶體振蕩器分頻后得到的1pps信號進(jìn)行鑒相、濾波、EFC(Electrical?Frequency?Control)控制電壓等,然后將控制電壓數(shù)值送入D/A轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換為電壓值,該電壓值送入晶體振蕩器EFC調(diào)諧端,來修正晶體振蕩器的頻率偏移。
通過基于GPS與北斗雙模受時的壓控晶體振蕩器校準(zhǔn)的方法校準(zhǔn)頻率精度時,當(dāng)所處環(huán)境無法接收其中的任意一個系統(tǒng)時,該晶體振蕩器校準(zhǔn)方法將失效。同時該方法對于專門的晶體振蕩器校準(zhǔn)系統(tǒng)來說有效,但當(dāng)所需要校準(zhǔn)的晶體振蕩器應(yīng)用在測試儀器等領(lǐng)域時,比如頻率計數(shù)器、脈沖調(diào)制域分析儀等,該方法集成度有限,不利于集成到空間有限的印制板上。
(2)閉環(huán)數(shù)字穩(wěn)頻校準(zhǔn)
由單片機判斷晶體振蕩器的頻率值,然后根據(jù)頻率偏移方向,在當(dāng)前電壓控制數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上調(diào)整輸出數(shù)據(jù),并通過D/A轉(zhuǎn)換為調(diào)諧電壓加到振蕩器上,來控制振蕩器的頻率,直到其頻率值達(dá)到預(yù)設(shè)的精度要求。
閉環(huán)數(shù)字穩(wěn)頻校準(zhǔn)方法受環(huán)路所能允許的頻偏范圍影響,當(dāng)振蕩器的輸出頻率偏移超出其最大頻偏時,該系統(tǒng)將無法正常工作,頻率也無法穩(wěn)定到標(biāo)準(zhǔn)頻率上。而溫度對于振蕩器的輸出頻率偏移影響最大,溫度范圍越寬,所能引起的頻率偏移越大,也就是說,該方法對于溫度范圍寬的振蕩器不適用。
上述兩種方法都需要依賴精密的外部參考信號。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提出了一種高穩(wěn)時基振蕩器自動校準(zhǔn)電路及方法,解決了現(xiàn)有技術(shù)中振蕩器頻率準(zhǔn)確度受外界環(huán)境影響、依賴外部參考的問題。
本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的:
一種高穩(wěn)時基振蕩器自動校準(zhǔn)電路,包括:控制系統(tǒng)、FPGA控制單元、D/A轉(zhuǎn)換單元和穩(wěn)壓電源產(chǎn)生單元;
所述FPGA控制單元檢測晶體振蕩器的當(dāng)前頻率,并與晶體振蕩器的標(biāo)稱頻率相比較,輸出偏移值;
所述控制系統(tǒng)包括圖形解析處理單元,所述控制系統(tǒng)接收晶體振蕩器的老化率曲線,所述圖形解析處理單元根據(jù)老化率曲線生成一組時間對頻率值的數(shù)組,控制系統(tǒng)計算出對應(yīng)的老化率DAC數(shù)組,對晶體振蕩器的頻率進(jìn)行粗調(diào);所述控制系統(tǒng)還接收所述FPGA控制單元輸出的偏移值,調(diào)整所述老化率DAC數(shù)組,對晶體振蕩器頻率進(jìn)行高精度校準(zhǔn);
所述D/A轉(zhuǎn)換單元接收所述控制系統(tǒng)輸出的老化率DAC數(shù)組,將其轉(zhuǎn)換為模擬信號,輸出EFC電壓到晶體振蕩器的電壓調(diào)諧端;
所述穩(wěn)壓電源產(chǎn)生單元包括開關(guān)穩(wěn)壓電源和線性穩(wěn)壓電源,輸出參考電壓到所述D/A轉(zhuǎn)換單元的參考端。
可選地,所述圖形解析處理單元在所述控制系統(tǒng)中通過軟件實現(xiàn)。
可選地,所述時間對頻率值的數(shù)組中時間的單位為小時、天、月或者年。
本發(fā)明還提供了一種高穩(wěn)時基振蕩器自動校準(zhǔn)方法,包括以下步驟:
通過FPGA控制單元檢測晶體振蕩器的當(dāng)前頻率,并與晶體振蕩器的標(biāo)稱頻率相比較,輸出偏移值;
根據(jù)晶體振蕩器的老化率曲線生成一組時間對頻率值的數(shù)組,計算出對應(yīng)的老化率DAC數(shù)組,對晶體振蕩器的頻率進(jìn)行粗調(diào);
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