[發(fā)明專利]抗侵入式攻擊的芯片及其制作方法和攻擊檢測的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310470570.2
• 申請(qǐng)日: 2013-10-10
• 公開（公告）號(hào): CN103500740B
• 公開（公告）日: 2017-01-11
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉忠志;譚洪賀
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 昆騰微電子股份有限公司
• 主分類號(hào): H01L23/544
• 分類號(hào): H01L23/544
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種抗侵入式攻擊的芯片，其特征在于，包括：

兩個(gè)以上接觸點(diǎn)，從所述芯片的內(nèi)部延伸至所述芯片的外表面；

導(dǎo)電介質(zhì)，附著在所述芯片的外表面；

檢測電路，集成在所述芯片內(nèi)部，用于檢測所述兩個(gè)以上接觸點(diǎn)中的至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的互聯(lián)信息，得到參考數(shù)據(jù)信息，將所述參考數(shù)據(jù)信息存儲(chǔ)在所述芯片的非易失性存儲(chǔ)器中，當(dāng)所述芯片上電后，重新檢測所述至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的互聯(lián)信息，得到評(píng)估數(shù)據(jù)信息，根據(jù)所述參考數(shù)據(jù)信息和所述評(píng)估數(shù)據(jù)信息，判定所述芯片是否受到侵入式攻擊。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片，其特征在于，所述導(dǎo)電介質(zhì)覆蓋全部或部分接觸點(diǎn)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片，其特征在于，還包括：

絕緣介質(zhì)，覆蓋在所述導(dǎo)電介質(zhì)上。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片，其特征在于，所述檢測電路還用于檢測重新選擇的至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的互聯(lián)信息，得到新的參考數(shù)據(jù)信息，將所述新的參考數(shù)據(jù)信息存儲(chǔ)在所述芯片的非易失性存儲(chǔ)器中，當(dāng)所述芯片上電后，重新檢測所述重新選擇的至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的互聯(lián)信息，得到新的評(píng)估數(shù)據(jù)信息，根據(jù)所述新的參考數(shù)據(jù)信息和所述新的評(píng)估數(shù)據(jù)信息，判定所述芯片是否受到侵入式攻擊。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片，其特征在于，所述至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的互聯(lián)信息包括下列中的至少一個(gè)：所述至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的電阻值、所述至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的電流值、信號(hào)流經(jīng)所述至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的延時(shí)值和所述至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間是否有電氣連接。

6.一種權(quán)利要求1所述抗侵入式攻擊的芯片的制作方法，其特征在于，包括：

將所述檢測電路集成在所述芯片內(nèi)部；

設(shè)置至少兩個(gè)接觸點(diǎn)，從所述芯片內(nèi)部延伸至所述芯片的外表面；

將導(dǎo)電介質(zhì)附著在所述芯片的外表面。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的制作方法，其特征在于，還包括：將絕緣介質(zhì)覆蓋在所述導(dǎo)電介質(zhì)上。

8.一種權(quán)利要求1所述抗侵入式攻擊的芯片進(jìn)行侵入式攻擊檢測的方法，其特征在于，包括：

所述檢測電路檢測至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的互聯(lián)信息，獲得參考數(shù)據(jù)信息，保存在所述芯片的非易失性存儲(chǔ)器中；

在所述芯片上電時(shí)，所述檢測電路重新檢測所述至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的互聯(lián)信息，獲得評(píng)估數(shù)據(jù)信息；

所述檢測電路根據(jù)所述參考數(shù)據(jù)信息和所述評(píng)估數(shù)據(jù)信息，判斷所述芯片是否受到侵入式攻擊。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述檢測電路檢測重新選擇的至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的互聯(lián)信息，得到新的參考數(shù)據(jù)信息，將所述新的參考數(shù)據(jù)信息存儲(chǔ)在所述芯片的非易失性存儲(chǔ)器中，當(dāng)所述芯片上電后，重新檢測所述重新選擇的至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的互聯(lián)信息，得到新的評(píng)估數(shù)據(jù)信息，根據(jù)所述新的參考數(shù)據(jù)信息和所述新的評(píng)估數(shù)據(jù)信息，判定所述芯片是否收到侵入式攻擊。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的互聯(lián)信息包括下列中的至少一個(gè)：所述至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的電阻值、所述至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的電流值、信號(hào)流經(jīng)所述至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間的延時(shí)值和所述至少兩個(gè)接觸點(diǎn)之間是否有電氣連接。