[發(fā)明專利]測(cè)試探筆輔助頭

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310464030.3
• 申請(qǐng)日: 2013-09-30
• 公開（公告）號(hào): CN104515879A
• 公開（公告）日: 2015-04-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 萬衛(wèi)軍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 旭達(dá)電腦（昆山）有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/067
• 分類號(hào): G01R1/067
• 代理公司: 無
• 代理人: 無

1.一種測(cè)試探筆輔助頭，適用于一測(cè)試儀器的探筆，所述探筆具有一筆身以及一由所述筆身一端凸伸出的探針，其特征在于，包括：一主體以及一導(dǎo)電件，所述導(dǎo)電件具有一凸伸出所述主體的測(cè)試頭，當(dāng)使用時(shí)，所述筆身以及所述探針收容于所述主體內(nèi)，所述探針與所述導(dǎo)電件的測(cè)試頭導(dǎo)電連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探筆輔助頭，其特征在于，所述主體開設(shè)一筆身收容槽。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探筆輔助頭，其特征在于，所述導(dǎo)電件一端設(shè)于所述主體內(nèi)且開設(shè)一探針收容槽，另一端設(shè)有所述凸伸出所述主體的測(cè)試頭。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探筆輔助頭，其特征在于，所述測(cè)試儀器為萬用表。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探筆輔助頭，其特征在于，所述測(cè)試儀器為示波器。