[發(fā)明專利]測試探筆輔助頭無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310464030.3 | 申請日: | 2013-09-30 |
| 公開(公告)號: | CN104515879A | 公開(公告)日: | 2015-04-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 萬衛(wèi)軍 | 申請(專利權(quán))人: | 旭達(dá)電腦(昆山)有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/067 | 分類號: | G01R1/067 |
| 代理公司: | 無 | 代理人: | 無 |
| 地址: | 215300 江蘇省蘇州*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試 輔助 | ||
【技術(shù)領(lǐng)域】
本發(fā)明是一種測試輔助治具,特別是一種測試探筆輔助頭。
【背景技術(shù)】
現(xiàn)在的電子儀器測試探筆設(shè)計的很簡單,但大多數(shù)不是公歸的,往往測試用起來比較麻煩,遇到死角就無法繼續(xù)測試使用,需要添加輔助工具。(其中比如常見的測試儀器,萬用表的探筆,示波器的探筆,等等,往往由于探筆的探針太粗或太細(xì)而不能使用于目前的工作,于是,測試人員不得不更換測試探筆,因此,非常的麻煩。
有鑒于此,是有必要提供一種測試探筆輔助頭,其可提供一不同于測試探筆尺寸的測試頭以便滿足不同場合的需求,無需更換測試探筆,增加了便利性。
【發(fā)明內(nèi)容】
本發(fā)明的主要目的在于提供一種測試探筆輔助頭,其可提供一不同于測試探筆尺寸的測試頭以便滿足不同場合的需求,無需更換測試探筆,增加了便利性。
為達(dá)上述目的,本發(fā)明提供一種測試探筆輔助頭,適用于一測試儀器的探筆,所述探筆具有一筆身以及一由所述筆身一端凸伸出的探針,其特征在于,包括:一主體以及一導(dǎo)電件,所述導(dǎo)電件具有一凸伸出所述主體的測試頭,當(dāng)使用時,所述筆身以及所述探針收容于所述主體內(nèi),所述探針與所述導(dǎo)電件的測試頭導(dǎo)電連接。
優(yōu)選地,所述主體開設(shè)一筆身收容槽。
優(yōu)選地,所述導(dǎo)電件一端設(shè)于所述主體內(nèi)且開設(shè)一探針收容槽,另一端設(shè)有所述凸伸出所述主體的測試頭。
優(yōu)選地,所述測試儀器為萬用表。
優(yōu)選地,所述測試儀器為示波器。
與現(xiàn)有技術(shù)相比較,本發(fā)明測試探筆輔助頭設(shè)有供探筆收容的主體,以及具有個探筆的探針相同導(dǎo)電特性但尺寸不同的測試頭,從而可在現(xiàn)有的探筆不滿足場合需要的時候安裝上具有合適尺寸測試頭的本發(fā)明的測試探筆輔助頭即可,從而達(dá)到了提供一不同于測試探筆尺寸的測試頭以便滿足不同場合的需求的功效,無需更換測試探筆,增加了便利性。
【附圖說明】
圖1為本發(fā)明一種測試探筆輔助頭一較佳實施例平面外觀示意圖。
圖2為本發(fā)明的測試探筆輔助頭的剖面示意圖。
圖3為一剖面示意圖,顯示本發(fā)明的測試探筆輔助頭與測試探筆組裝時的結(jié)構(gòu)狀態(tài)。
圖4為一剖面示意圖,顯示探筆組裝本發(fā)明一不同尺寸的測試探筆輔助頭。
【具體實施方式】
請參閱圖1所示,本發(fā)明一種測試探筆輔助頭一較佳實施例,適用于一測試儀器的探筆2,在本實施例中,所述測試儀器可為示波器或萬用表,所述探筆2具有一筆身21以及一由所述筆身一端凸伸出的探針22,在本實施例中,本發(fā)明的測試探筆輔助頭1,包括:一主體10以及一導(dǎo)電件11,所述主體開設(shè)一筆身收容槽101供收容所述探筆2的筆身21,所述導(dǎo)電件11一端設(shè)于所述主體10內(nèi)且開設(shè)一探針收容槽111供收容所述探針22,另一端設(shè)有一凸伸出所述主體10的測試頭112。
當(dāng)發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有的測試探筆2的探針22不滿足工作場合需求時,可使用本發(fā)明的具有合適測試頭112的測試探筆輔助頭時,如圖2-3所示,可將所述探筆2的筆身21以及探針22插入本發(fā)明的主體10內(nèi),使得所述探筆2的部分筆身21以及所述探針22收容于所述筆身收容槽101以及探針收容槽111內(nèi),由于所述導(dǎo)電件11的導(dǎo)電特性,故所述探針22收容于所述探針收容槽111內(nèi)時,所述探針22與所述測試頭112導(dǎo)電連接,也就是說所述測試頭112具有所述探針22相同的電性特征。當(dāng)工作場合發(fā)生變化時,如圖4,使用者更換使用另一尺寸的測試探筆輔助頭,由此可見,當(dāng)所述探筆的探針22不適合現(xiàn)場的工作需要時,使用者可將具有合適尺寸的測試頭112的測試探筆輔助頭裝在所述探筆2上,從而可滿足工作需要,避免由于找不到合適的探筆2而影響工作。
值得注意的是,為了確保本發(fā)明的測試探筆輔助頭緊密地與本發(fā)明的測試探筆輔助頭結(jié)合在一起,本發(fā)明的主體10對應(yīng)所述筆身收容槽101的外圍增設(shè)緊固件用于緊固所述所述筆身收容槽101從而確保結(jié)合的牢固性,例如帶有調(diào)節(jié)閥的緊固環(huán),只要其能起到緊固地目的即可,故在此不作詳述。
綜上所述,上述各實施例及圖示僅為本發(fā)明之較佳實施例而已,當(dāng)不能以之限定本發(fā)明實施之范圍,即大凡依本發(fā)明申請專利范圍所作之均等變化與修飾,皆應(yīng)屬本發(fā)明專利涵蓋之范圍內(nèi)。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
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G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
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