[發(fā)明專(zhuān)利]靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310462209.5
• 申請(qǐng)日: 2013-09-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103472287A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-12-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊成麗;李娟娟;付偉;焦亮
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 山東省紡織科學(xué)研究院
• 主分類(lèi)號(hào): G01R19/00
• 分類(lèi)號(hào): G01R19/00;G01R19/10
• 代理公司: 青島發(fā)思特專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 37212
• 代理人: 萬(wàn)桂斌

1.一種靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，包括探頭銅片（1）、探頭片隔圈（2）、探頭片襯套（3）、接地銅片（4）、接地墊圈（5）、探頭外罩（6）、探頭體（7）、走線套（8）、出線螺帽（9）與外接線纜（10），探頭銅片（1）、探頭體（7）皆設(shè)置在探頭外罩（6）內(nèi)，探頭銅片（1）、探頭體（7）之間設(shè)有探頭片隔圈（2）、探頭片襯套（3）、接地銅片（4）與接地墊圈（5），探頭體（7）套接在走線套（8）的外側(cè)，探頭體（7）的下端連接出線螺帽（9），外接線纜（10）貫穿出線螺帽（9）、走線套（8）后與探頭銅片（1）連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的探頭銅片（1）與探頭片襯套（3）之間間隙配合，探頭銅片（1）從探頭片襯套（3）內(nèi)孔裝入，通過(guò)探頭銅片（1）上的定位凸肩（101）安裝到位，并限定探頭銅片（1）伸出探頭體（7）的凸緣長(zhǎng)度，確保探測(cè)裝置端面為一平面。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的探頭片隔圈（2）與探頭片襯套（3）之間間隙配合，探頭片隔圈（2）從探頭片襯套（3）內(nèi)孔裝入，與探頭片襯套（3）的內(nèi)孔定位臺(tái)階（301）一起將探頭銅片（1）夾持住。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的探頭片襯套（3）與探頭外罩（6）之間間隙配合，通過(guò)探頭片襯套的外圓定位臺(tái)階（302）限位安裝到探頭外罩（6）內(nèi)。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的接地銅片（4）與探頭片襯套（3）之間間隙配合，接地銅片（4）從探頭片襯套（3）內(nèi)孔裝入，通過(guò)探頭片隔圈（2）定位，接地銅片（4）焊接接地線，接地銅片（4）中心開(kāi)有通孔，走線套（8）從通孔中間穿過(guò)并與探頭銅片（1）螺紋連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的接地墊圈（5）與探頭片襯套（3）之間間隙配合，接地墊圈（5）從探頭片襯套（3）內(nèi)孔裝入，通過(guò)接地銅片（4）、探頭體（7）定位，探頭體（7）與接地銅片（4）通過(guò)接地墊圈（5）相連通后共同接地，接地墊圈（5）、探頭片襯套（3）、探頭銅片（1）、探頭片隔圈（3）共同構(gòu)成靜電探測(cè)器探頭的主體。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的探頭外罩（6）與探頭體（7）之間螺紋連接，通過(guò)靜電探測(cè)器探頭的主體限定兩者之間的嚙合長(zhǎng)度，同時(shí)通過(guò)兩者的旋緊為探頭主體進(jìn)行軸向壓緊定位。

8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的走線套（8）上端部開(kāi)有內(nèi)螺紋，與探頭銅片（1）下端的外螺紋配合擰緊連接，走線套（8）開(kāi)有中心孔，外接線纜（10）從中心孔穿過(guò)，與探頭銅片（1）下端的螺紋端部焊接。

9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的靜電衰減性能測(cè)試的靜電探測(cè)裝置，其特征在于，所述的出線螺帽（9）與探頭體（7）之間螺紋連接，出線螺帽（9）開(kāi)有中心孔，探頭銅片的外接線纜（10）可穿過(guò)中心孔自由出入，出線螺帽（9）與探頭體（7）之間的螺紋擰緊為走線套（8）軸向壓緊定位。