[發明專利]靜電衰減性能測試的靜電探測裝置

有效

• 申請號: 201310462209.5
• 申請日: 2013-09-30
• 公開（公告）號: CN103472287A
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 楊成麗;李娟娟;付偉;焦亮
• 申請（專利權）人: 山東省紡織科學研究院
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R19/10
• 代理公司: 青島發思特專利商標代理有限公司 37212
• 代理人: 萬桂斌

技術領域

本發明涉及防護材料靜電防護性能試驗裝置技術領域，具體涉及一種能夠精確感應出被測試樣表面經電暈放電后所產生的電壓信號的裝置。

背景技術

目前國內外關于電荷衰減性能測試方法多種多樣。根據被測試樣帶電方式不同，常用測試方法主要有三種：充電法、電暈噴電法或摩擦法。通過使被測試樣帶電至初始靜電電壓后，撤除作用于被測試樣的靜電發生裝置，然后將被測試樣迅速接地使其開始放電，同時利用實時監測系統實時測量被測試樣表面靜電電位隨時間變化的衰減信號，計算出電荷衰減至設定終止電位的衰減時間，并以此為依據來評價被測材料的防靜電性能。對于電暈噴電法和摩擦法，被測試樣表面靜電衰減性能測試的靜電探測裝置是整個測試裝置中的關鍵部件之一。

發明內容

本發明的技術效果能夠克服上述缺陷，提供一種靜電衰減性能測試的靜電探測裝置，其可精確感應出被測試樣表面經電暈放電后所產生的電壓信號，實現試樣表面感應靜電信號的探測功能。

為實現上述目的，本發明采用如下技術方案：其包括探頭銅片、探頭片隔圈、探頭片襯套、接地銅片、接地墊圈、探頭外罩、探頭體、走線套、出線螺帽與外接線纜，探頭銅片、探頭體皆設置在探頭外罩內，探頭銅片、探頭體之間設有探頭片隔圈、探頭片襯套、接地銅片與接地墊圈，探頭體套接在走線套的外側，探頭體的下端連接出線螺帽，外接線纜貫穿出線螺帽、走線套后與探頭銅片連接。

所述的探頭銅片與探頭片襯套之間間隙配合，探頭銅片從探頭片襯套內孔裝入，通過探頭銅片上的定位凸肩安裝到位，并限定銅片伸出探頭體的凸緣長度，確保探測裝置端面為一平面，以保證試驗過程中探頭平面與被測試樣平面之間測試距離相同。

所述的探頭片隔圈由聚四氟乙烯材料制成，它與探頭片襯套之間間隙配合，探頭片隔圈從探頭片襯套內孔裝入，與探頭片襯套的內孔定位臺階一起將探頭銅片夾持住。使得探頭銅片在整個探測裝置中軸向定位精確且與探頭外罩絕緣良好，可保證被測試樣表面的電壓信號傳輸安全可靠。

所述的探頭片襯套與探頭外罩之間間隙配合，靠探頭片襯套的外圓定位臺階限位安裝到探頭外罩內，為整個探測器探頭主體提供良好的絕緣保障。

所述的接地銅片與探頭片襯套之間間隙配合。接地銅片從探頭片襯套內孔裝入，靠探頭片隔圈定位，探頭片隔圈為機加工件，可以充分保證其軸向尺寸的精度要求，從而確保了接地銅片與探頭銅片之間的距離。接地線焊接于接地銅片上，使得接地銅片與探頭銅片上感應到的靜電形成一個準確的電位差，為探測器測試結果的準確性和重現性提供良好的保障。接地銅片中心開有通孔，方便走線套從中間穿過與探頭銅片進行螺紋連接。

所述的接地墊圈與探頭片襯套之間為間隙配合。接地墊圈從探頭片襯套內孔裝入，靠接地銅片定位，靠探頭體螺紋擰緊與探頭片襯套、探頭銅片、探頭片隔圈共同構成靜電探測器探頭的主體。探頭體與接地銅片通過接地墊圈相連通，共同接地。

所述的探頭外罩與探頭體之間螺紋連接，靠靜電探測器探頭的主體限定兩者之間的嚙合長度，同時通過兩者的旋緊為探頭主體進行軸向壓緊定位。探頭外罩與探頭體為整個探測器主體提供了良好的接地屏蔽作用。

所述的走線套由絕緣極好的聚四氟乙烯材料制作。走線套上端部開有內螺紋，與探頭銅片下端的外螺紋配合擰緊連接。走線套開有中心孔，外接線纜從中心孔穿過，與探頭銅片下端的螺紋端部焊接。方便探頭銅片感應信號的傳輸。

所述的出線螺帽由絕緣性能良好的夾布膠木制作，與探頭體之間靠螺紋連接，出線螺帽開有中心孔，探頭銅片的外接線纜可穿過中心孔自由出入。出線螺帽與探頭體之間的螺紋擰緊又為走線套軸向壓緊定位。

本發明的靜電衰減性能測試的靜電探測裝置，測試靈敏、性能良好，可精確感應出被測試樣表面經電暈放電后所產生的電壓信號，實現試樣表面感應靜電信號的探測功能。該裝置結構設計簡單、成本低、制作方便、使用安全。

附圖說明

圖1為本發明的結構示意圖；

1-探頭銅片；2-探頭片隔圈；3-探頭片襯套；4-接地銅片；5-接地墊圈；6-探頭外罩；7-探頭體；8-走線套；9-出線螺帽；10-外接線纜；

101.定位凸肩；

301.內孔定位臺階；302.外圓定位臺階。

具體實施方式