[發明專利]電子設備性能的測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201310462144.4
• 申請日: 2013-09-30
• 公開（公告）號: CN103488569A
• 公開（公告）日: 2014-01-01
• 發明（設計）人: 蔡旋
• 申請（專利權）人: 北京安兔兔科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京柏杉松知識產權代理事務所(普通合伙) 11413
• 代理人: 項京;馬敬

技術領域

本發明涉及電子設備測試領域，特別涉及一種電子設備性能的測試方法及裝置。

背景技術

隨著科學技術飛速的發展，各種電子設備不斷的豐富并方便了大眾生活。由于利用電子設備處理信息具有方便快捷、節省資源等優勢，使得電子設備成為人們的生活或工作中不可或缺的一部分。

其中，不同機型的電子設備的性能參差不齊，因此，為了用戶充分了解電子設備的性能，需要對電子設備的性能進行測試?，F有技術中，通過性能測試軟件進行跑分測試以實現性能測試，具體測試過程為：為每個待測試的項目執行所對應的測試程序，從而根據執行結果確定出項目的測試結果，進而確定出電子設備性能的測試結果。

但是，現有測試方法所測試的硬件項目較少，僅測試一種或者少數的幾種常見的硬件項目，而且在測試過程中并沒有考慮到實際應用場景中各個項目的相互影響，導致不能真實的反應電子設備的性能，最終將導致所確定出的測試結果不夠準確。

可見，如何提高電子設備性能的測試準確性是一個亟待解決的問題。

發明內容

基于上述問題，本發明實施例公開了一種電子設備性能的測試方法及裝置，以提高電子設備性能的測試準確性。技術方案如下：

第一方面，本發明實施例提供了一種電子設備性能的測試方法，包括：

獲得開始測試指令；

響應所述開始測試指令，分別對待測試的項目進行測試，所述待測試的項目至少包括：虛擬機性能、多任務性能；

其中，所述分別對待測試的項目進行測試包括：

執行所述虛擬機性能的測試，獲得第一執行結果，依據所述第一執行結果，確定所述虛擬機性能對應的第一測試結果；

在獲得所述第一執行結果后，執行所述多任務性能的測試，獲得第二執行結果，并依據所述第二執行結果，確定所述多任務性能對應的第二測試結果。

可選的，所述待測試的項目還包括：CPU整數運算性能；

在獲得所述第一執行結果后，執行所述CPU整數性能的測試，獲得第三執行結果，并依據所述第三執行結果，確定所述CPU整數性能對應的第三測試結果。

可選的，所述待測試的項目還包括：CPU浮點數運算性能；

在獲得所述第一執行結果后，執行所述CPU浮點數運算性能的測試，獲得第四執行結果，并依據所述第四執行結果，確定所述CPU浮點數運算性能對應的第四測試結果。

可選的，所述待測試的項目還包括：RAM運算性能；

在獲得所述第一執行結果后，執行所述RAM運算性能的測試，獲得第五執行結果，并依據所述第五執行結果，確定所述RAM運算性能對應的第五測試結果。

可選的，所述待測試的項目還包括：RAM讀寫速度；

在獲得所述第一執行結果后，執行所述RAM讀寫速度的測試，獲得第六執行結果，并依據所述第六執行結果，確定所述RAM讀寫速度對應的第六測試結果。

可選的，在獲得所述第三執行結果和所述第四執行結果后，執行所述RAM運算性能的測試，獲得第五執行結果，并依據所述第五執行結果，確定所述RAM運算性能對應的第五測試結果；

在獲得所述第三執行結果和所述第四執行結果后，執行所述RAM讀寫速度的測試，獲得第六執行結果，并依據所述第六執行結果，確定所述RAM讀寫速度對應的第六測試結果；

在獲得所述第五執行結果和所述第六執行結果后，執行所述多任務性能的測試，獲得第二執行結果，并依據所述第二執行結果，確定所述多任務性能對應的第二測試結果。

可選的，所述待測試的項目還包括：GPU的2D繪圖性能；

在獲得所述第二執行結果后，執行所述GPU的2D繪圖性能的測試，獲得第七執行結果，并依據所述第七執行結果，確定所述GPU的2D繪圖性能對應的第七測試結果。

可選的，所述待測試的項目還包括：GPU的3D繪圖性能；

在獲得所述第二執行結果后，執行所述GPU的3D繪圖性能的測試，獲得第八執行結果，并依據所述第八執行結果，確定所述GPU的3D繪圖性能對應的第八測試結果。

可選的，所述待測試的項目還包括：數據庫I/O性能；

在獲得所述第二執行結果后，執行所述數據庫I/O性能的測試，獲得第九執行結果，并依據所述第九執行結果，確定所述數據庫I/O性能對應的第九測試結果。

可選的，所述待測試的項目還包括：存儲器性能；

在獲得所述第二執行結果后，執行所述存儲器性能的測試，獲得第十執行結果，并依據所述第十執行結果，確定所述存儲器性能對應的第十測試結果。