[發明專利]電子設備性能的測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201310462144.4
• 申請日: 2013-09-30
• 公開（公告）號: CN103488569A
• 公開（公告）日: 2014-01-01
• 發明（設計）人: 蔡旋
• 申請（專利權）人: 北京安兔兔科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京柏杉松知識產權代理事務所(普通合伙) 11413
• 代理人: 項京;馬敬

1.一種電子設備性能的測試方法，其特征在于，包括：

獲得開始測試指令；

響應所述開始測試指令，分別對待測試的項目進行測試，所述待測試的項目至少包括：虛擬機性能、多任務性能；

其中，所述分別對待測試的項目進行測試包括：

執行所述虛擬機性能的測試，獲得第一執行結果，依據所述第一執行結果，確定所述虛擬機性能對應的第一測試結果；

在獲得所述第一執行結果后，執行所述多任務性能的測試，獲得第二執行結果，并依據所述第二執行結果，確定所述多任務性能對應的第二測試結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述待測試的項目還包括：CPU整數運算性能；

在獲得所述第一執行結果后，執行所述CPU整數性能的測試，獲得第三執行結果，并依據所述第三執行結果，確定所述CPU整數性能對應的第三測試結果。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述待測試的項目還包括：CPU浮點數運算性能；

在獲得所述第一執行結果后，執行所述CPU浮點數運算性能的測試，獲得第四執行結果，并依據所述第四執行結果，確定所述CPU浮點數運算性能對應的第四測試結果。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述待測試的項目還包括：RAM運算性能；

在獲得所述第一執行結果后，執行所述RAM運算性能的測試，獲得第五執行結果，并依據所述第五執行結果，確定所述RAM運算性能對應的第五測試結果。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述待測試的項目還包括：RAM讀寫速度；

在獲得所述第一執行結果后，執行所述RAM讀寫速度的測試，獲得第六執行結果，并依據所述第六執行結果，確定所述RAM讀寫速度對應的第六測試結果。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，在獲得所述第三執行結果和所述第四執行結果后，執行所述RAM運算性能的測試，獲得第五執行結果，并依據所述第五執行結果，確定所述RAM運算性能對應的第五測試結果；

在獲得所述第三執行結果和所述第四執行結果后，執行所述RAM讀寫速度的測試，獲得第六執行結果，并依據所述第六執行結果，確定所述RAM讀寫速度對應的第六測試結果；

在獲得所述第五執行結果和所述第六執行結果后，執行所述多任務性能的測試，獲得第二執行結果，并依據所述第二執行結果，確定所述多任務性能對應的第二測試結果。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述待測試的項目還包括：GPU的2D繪圖性能；

在獲得所述第二執行結果后，執行所述GPU的2D繪圖性能的測試，獲得第七執行結果，并依據所述第七執行結果，確定所述GPU的2D繪圖性能對應的第七測試結果。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述待測試的項目還包括：GPU的3D繪圖性能；

在獲得所述第二執行結果后，執行所述GPU的3D繪圖性能的測試，獲得第八執行結果，并依據所述第八執行結果，確定所述GPU的3D繪圖性能對應的第八測試結果。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，所述待測試的項目還包括：數據庫I/O性能；

在獲得所述第二執行結果后，執行所述數據庫I/O性能的測試，獲得第九執行結果，并依據所述第九執行結果，確定所述數據庫I/O性能對應的第九測試結果。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，所述待測試的項目還包括：存儲器性能；

在獲得所述第二執行結果后，執行所述存儲器性能的測試，獲得第十執行結果，并依據所述第十執行結果，確定所述存儲器性能對應的第十測試結果。

11.根據權利要求10所述的方法，其特征在于，所述儲存器性能所針對的存儲器包括：SD卡和/或EMMC。

12.根據權利要求10所述的方法，其特征在于，所述待測試的項目還包括：顯示器性能；

在獲得所述第一執行結果后，執行所述顯示器性能的測試，獲得第十一執行結果，并依據所述第十一執行結果，確定所述顯示器性能對應的第十一測試結果。