[發(fā)明專利]電容處理測試設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310456573.0 | 申請日： | 2013-09-29 |
| 公開（公告）號： | CN104515942B | 公開（公告）日： | 2018-10-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 楊必祥;程傳波;吳偉;胡鵬;石怡 | 申請（專利權(quán)）人： | 昆山萬盛電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/18 | 分類號： | G01R31/18 |
| 代理公司： | 蘇州華博知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32232 | 代理人： | 孫艷 |
| 地址： | 215300 江蘇省蘇州*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 新型 電容 處理 測試 設(shè)備 | ||
本發(fā)明公開了電容處理測試設(shè)備，其包括：機架；送料平臺，其設(shè)置于上述機架上；沿上述送料平臺依次設(shè)置并電連外部供控制設(shè)備的切尾機構(gòu)、第一電容測試機構(gòu)、第一耐壓測試機構(gòu)、絕緣電阻測試機構(gòu)和激光打標(biāo)機構(gòu)；其中，上述的切尾機構(gòu)用于切除產(chǎn)品的尾腳，該產(chǎn)品置于上述送料平臺上并由該送料平臺依次輸送到上述的各個機構(gòu)處進行相應(yīng)的處理。本發(fā)明相較于現(xiàn)有技術(shù)工作效率大幅提高，生產(chǎn)時間大幅縮短，可以高效快速地完成對電容器或者電阻器的測試和處理作業(yè)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電容設(shè)備，特別涉及電容處理測試設(shè)備。
背景技術(shù)
電容器和電阻器都是現(xiàn)代電子產(chǎn)品中常用的電子元件，被廣泛應(yīng)用于電路之中，其性能也就影響著各個電子產(chǎn)品。為了保證電容器和電阻器的質(zhì)量，在出廠前還需要通過各種測試設(shè)備來對電容器和電阻器進行各個工作參數(shù)的檢測，同時還需要完成切腳打標(biāo)等一系列工作。
目前，對于電容器或者電阻器的測試和處理都是在不同的設(shè)備上分段完成，由于需要將料在不同的設(shè)備之間通過人工進行輸送，其加工效率比較低下，特別在面對如今工廠的大批量作業(yè)時，更加會影響企業(yè)的工作效率和生產(chǎn)時間。
因此，亟需一種設(shè)備，來幫助企業(yè)高效快速地完成對電容器或者電阻器的測試和處理作業(yè)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是針對上述問題，提供一種可以高效快速地完成對電容器或者電阻器的測試和處理作業(yè)的電容處理測試設(shè)備。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了以下技術(shù)方案：電容處理測試設(shè)備，其包括：
機架；
送料平臺，其設(shè)置于上述機架上；
沿上述送料平臺依次設(shè)置并電連外部供控制設(shè)備的切尾機構(gòu)、第一電容測試機構(gòu)、第一耐壓測試機構(gòu)、絕緣電阻測試機構(gòu)和激光打標(biāo)機構(gòu)；
其中，上述的切尾機構(gòu)用于切除產(chǎn)品的尾腳，該產(chǎn)品置于上述送料平臺上并由該送料平臺依次輸送到上述的各個機構(gòu)處進行相應(yīng)的處理。
優(yōu)選地，上述的電容處理測試設(shè)備還包括設(shè)置于上述送料平臺上的第二耐壓測試機構(gòu)和第二電容測試機構(gòu)。
優(yōu)選地，上述的第二耐壓測試機構(gòu)設(shè)置于上述第一耐壓測試機構(gòu)和絕緣電阻測試機構(gòu)之間，上述的第二電容測試機構(gòu)設(shè)置于上述激光打標(biāo)機構(gòu)之后。
優(yōu)選地，上述的電容處理測試設(shè)備還包括設(shè)置于上述送料平臺的起始端的上料機構(gòu)。
優(yōu)選地，上述的上料機構(gòu)包括：
料盒，其內(nèi)設(shè)置有凸輪爬行機構(gòu)，上述的產(chǎn)品被置于該凸輪爬行機構(gòu)上，通過該凸輪爬行機構(gòu)的驅(qū)動向該料盒的出料端運動；
弧形滑道，其上的入口端對接上述料盒的出料端、出口端對接上述送料平臺；
真空吸盤裝置，其設(shè)置于上述料盒的出料端處，用于吸取上述產(chǎn)品并將其送入上述弧形滑道內(nèi)，該真空吸盤裝置通過氣缸驅(qū)動在上述料盒的出料端和上述弧形滑道的入口端之間進行往復(fù)運動。
優(yōu)選地，上述的上料機構(gòu)還包括整料裝置，其相對于上述弧形滑道的出口端而設(shè)置于上述送料平臺的另一側(cè)，用于將上述產(chǎn)品向該弧形滑道的出口端推進。
優(yōu)選地，上述的電容處理測試設(shè)備還包括設(shè)置于上述送料平臺的結(jié)束端的下料機構(gòu)。
優(yōu)選地，上述的下料機構(gòu)包括：
料盒，所述料盒內(nèi)設(shè)置有凸輪爬行機構(gòu)，上述產(chǎn)品被置于該凸輪爬行機構(gòu)上，通過該凸輪爬行機構(gòu)的驅(qū)動向上述料盒的出料端運動；
送料翻板，其上的入料端對接上述送料平臺的結(jié)束端，該送料翻板由氣缸驅(qū)動在上述送料平臺和料盒之間翻動。
優(yōu)選地，上述的送料平臺包括：
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