[發明專利]電容處理測試設備

有效

• 申請號: 201310456573.0
• 申請日: 2013-09-29
• 公開（公告）號: CN104515942B
• 公開（公告）日: 2018-10-30
• 發明（設計）人: 楊必祥;程傳波;吳偉;胡鵬;石怡
• 申請（專利權）人: 昆山萬盛電子有限公司
• 主分類號: G01R31/18
• 分類號: G01R31/18
• 代理公司: 蘇州華博知識產權代理有限公司 32232
• 代理人: 孫艷

1.電容處理測試設備，其特征在于：包括：

機架；

送料平臺，其設置于所述機架上；

沿所述送料平臺依次設置并電連外部控制設備的切尾機構、第一電容測試機構、第一耐壓測試機構、絕緣電阻測試機構和激光打標機構；

其中，所述切尾機構用于切除產品的尾腳，所述產品置于所述送料平臺上并由所述送料平臺依次輸送到所述切尾機構、第一電容測試機構、第一耐壓測試機構、絕緣電阻測試機構和激光打標機構處進行相應的處理；

還包括設置于所述送料平臺的起始端的上料機構，所述上料機構包括：

第一料盒，其內設置有凸輪爬行機構，所述產品被置于所述凸輪爬行機構上，通過所述凸輪爬行機構的驅動向所述第一料盒的出料端運動；

弧形滑道，其上的入口端對接所述第一料盒的出料端、出口端對接所述送料平臺；

真空吸盤裝置，其設置于所述第一料盒的出料端處，用于吸取所述產品并將其送入所述弧形滑道內，所述真空吸盤裝置通過第一氣缸驅動在所述第一料盒的出料端和所述弧形滑道的入口端之間進行往復運動；

所述送料平臺上設置有第二耐壓測試機構和第二電容測試機構，所述第二耐壓測試機構設置于所述第一耐壓測試機構和絕緣電阻測試機構之間，所述第二電容測試機構設置于所述激光打標機構之后；所述上料機構還包括整料裝置，其相對于所述弧形滑道的出口端而設置于所述送料平臺的另一側，用于將所述產品向所述弧形滑道的出口端推進；

上料機構在第一料盒的出料端處設置一紅外感應裝置，當產品進入出料端時，紅外感應裝置被觸發并發出信號至外部控制設備，該外部控制設備可以控制第一氣缸和導桿，然后驅動真空吸盤裝置進行運動；

還包括下料機構，所述下料機構包括：

第二料盒，所述第二料盒內設置有凸輪爬行機構，所述產品被置于所述凸輪爬行機構上，通過所述凸輪爬行機構的驅動向所述第二料盒的出料端運動；

送料翻板，其上的入料端對接所述送料平臺的結束端，所述送料翻板由第二氣缸驅動在所述送料平臺和所述第二料盒之間翻動；

所述送料平臺包括：

臺面；

驅動氣缸，其設置于所述臺面的起始端，用于將產品送至所述切尾機構處；

多個驅動輪，其分設于所述切尾機構、第一電容測試機構、第一耐壓測試機構、絕緣電阻測試機構和激光打標機構處，用于將產品依次送至所述切尾機構、第一電容測試機構、第一耐壓測試機構、絕緣電阻測試機構和激光打標機構處；

所述第一電容測試機構、第一耐壓測試機構和絕緣電阻測試機構處設置有拔出機構，用于拔出產品中的不良品，所述拔出機構包括機械手，所述機械手通過第三氣缸驅動，所述第三氣缸電連接第二控制設備，所述第二控制設備又電連接設置于各個機構處的感應單元，所述感應單元檢測到不良品上的標記后給出信號至所述第二控制設備，所述第二控制設備根據所述信號控制第三氣缸來驅動機械手運動。