[發明專利]半導體元件測試用分選機

有效

• 申請號: 201310455809.9
• 申請日: 2013-09-24
• 公開（公告）號: CN103706576A
• 公開（公告）日: 2014-04-09
• 發明（設計）人: 羅閏成;李鎮福;金是勇
• 申請（專利權）人: 泰克元有限公司
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司 11286
• 代理人: 韓明星;張川緒

1.一種半導體元件測試用分選機，其特征在于，包括：

測試室，具有收容半導體元件的收容空間；

往復裝置，將裝載的半導體元件搬入所述測試室的收容空間或者從所述測試室的收容空間搬出；

移動裝置，將裝載于所述往復裝置的半導體元件移動至測試機的測試插座，或者將測試完畢的半導體元件從測試機的測試插座移動至所述往復裝置；

裝載部，將半導體元件裝載于所述往復裝置；

卸載部，將半導體元件從所述往復裝置卸載，

其中，所述測試室的特定壁能夠滑動。

2.如權利要求1所述的半導體元件測試用分選機，其特征在于，所述移動裝置設置于所述特定壁上。

3.如權利要求2所述的半導體元件測試用分選機，其特征在于，所述移動裝置包括：

拾取器，具有用于拾取位于所述測試室內部的半導體元件的拾取端；

驅動源，用于驅動所述拾取器，

其中，所述特定壁的移動是在使所述拾取端從所述收容空間脫離或者使從所述收容空間脫離的所述拾取端移動至所述收容空間的范圍內進行，

而且，所述拾取器包括至少具有一個用于拾取半導體元件的拾取單元且該拾取單元被可拆卸地結合的拾取塊。

4.如權利要求1所述的半導體元件測試用分選機，其特征在于，位于所述特定壁的移動路徑上的一側壁固定于所述特定壁而與所述特定壁一起移動。

5.如權利要求1所述的半導體元件測試用分選機，其特征在于，還包括用于夾持所述特定壁的夾持裝置。

6.如權利要求5所述的半導體元件測試用分選機，其特征在于，所述夾持裝置包括：

防脫部件，用于防止所述特定壁的脫離；

氣缸，使所述防脫部件進退移動，從而防止所述特定壁脫離或者解除防脫；

彈性部件，朝所述特定壁方向彈性支撐所述防脫部件。

7.如權利要求6所述的半導體元件測試用分選機，其特征在于，所述防脫部件上形成有用于插入專門工具的工具插孔。

8.如權利要求1所述的半導體元件測試用分選機，其特征在于，還包括用于緩沖所述特定壁的移動沖擊的緩沖件。

9.如權利要求1所述的半導體元件測試用分選機，其特征在于，還包括用于確認所述特定壁的位置的位置確認裝置。