[發明專利]基于磁共振彌散加權成像確定腦缺血特征的方法和裝置

有效

• 申請號: 201310455392.6
• 申請日: 2013-09-29
• 公開（公告）號: CN104510470B
• 公開（公告）日: 2017-10-31
• 發明（設計）人: 胡慶茂;鄭惠敏
• 申請（專利權）人: 深圳先進技術研究院
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055;G06F19/00
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所44237
• 代理人: 張全文

技術領域

本發明涉及生物醫學圖像領域，具體涉及基于磁共振彌散加權成像確定腦缺血特征的方法和裝置。

背景技術

在中國，腦血管病的發病率逐年增加，近年來流行病學調查結果表明，中國腦血管病在死因中僅次于惡性腫瘤居第二位。腦血管病致殘率很高，嚴重危害了人類的健康和生存質量。其中，缺血性腦卒中（腦梗死）占整個腦血管病的70%以上，因此，加強腦梗死的研究顯得尤為重要。

對于缺血性腦卒中，各國的指南均推薦在發病時首選靜脈應用重組組織型纖溶酶原激活劑（rtPA）溶栓治療，靜脈應用重組組織型纖溶酶原激活劑溶栓也是目前被證明能有效治療缺血性腦卒中的手段。然而，溶栓治療容易發生出血等嚴重并發癥，必須嚴格根據病人腦部缺血特征來使用，而如何清楚了解病人腦部缺血特征等病理狀態，一直是醫學上難以克服的難點。

現有的一種對超急性期腦缺血病人的溶栓治療的方法主要是基于時間窗，即規定當病人發病時間短于4.5小時并且沒有出血及出血征兆才允許溶栓。然而，絕大多數缺血性腦卒中病人不能在4.5小時內就診，存在的是欠治療問題；而有些病人在4.5小時以后不進行溶栓也能有好的預后，若溶栓就是過度治療。

可見，上述現有的指導急性腦缺血病人溶栓的方法雖然是基于時間窗（4.5小時）、存在腦缺血區域（DWI表征）并無腦出血區域（用X線計算機斷層圖像CT表征）等等符合指南規定的治療原則，但滿足如上條件的病人并不是一定能從溶栓獲益，例如，溶栓后呈現癥狀性腦出血（即通常所說的溶栓事故），再如，不經溶栓也能良好預后的病人（對該類病人溶栓是一種過度治療，即溶栓不起作用，浪費了資源并讓病人承受額外的痛苦與經濟負擔）。換言之，現有的指導急性腦缺血病人溶栓的方法不是基于對病人腦缺血特征的精確掌握，因此，現有方法仍然有欠妥之處。

發明內容

本發明實施例提供基于磁共振彌散加權成像確定腦缺血特征的方法和裝置，以便對急性腦缺血病人是否溶栓提供較為客觀的依據。

本發明實施例提供一種基于磁共振彌散加權成像確定腦缺血特征的方法，所述方法包括：

通過待測病人的磁共振彌散加權成像確定所述待測病人的腦缺血區域，所述腦缺血區域包括核心區域和過渡區域；

根據所述核心區域和過渡區域內的彌散表觀系數ADC值，確定所述磁共振彌散加權成像中低ADC值的區域內彌散加權圖像DWI灰度分布參數，所述DWI灰度分布參數包括所述磁共振彌散加權成像中低ADC值的區域內DWI的均方差DWI_sd；

根據所述磁共振彌散加權成像中低ADC值的區域內DWI的均方差DWI_sd，判定所述磁共振彌散加權成像中低ADC值的區域內DWI與所述磁共振彌散加權成像中低ADC值的區域內的ADC值是否失配。

本發明另一實施例提供一種基于磁共振彌散加權成像確定腦缺血特征的裝置，所述裝置包括：

腦缺血區域確定模塊，用于通過待測病人的磁共振彌散加權成像確定所述待測病人的腦缺血區域，所述腦缺血區域包括核心區域和過渡區域；

灰度分布參數確定模塊，用于根據所述核心區域和過渡區域內的彌散表觀系數ADC值，確定所述磁共振彌散加權成像中低ADC值的區域內彌散加權圖像DWI灰度分布參數，所述DWI灰度分布參數包括所述磁共振彌散加權成像中低ADC值的區域內DWI的均方差DWI_sd；

判定模塊，用于根據所述磁共振彌散加權成像中低ADC值的區域內DWI的均方差DWI_sd，判定所述磁共振彌散加權成像中低ADC值的區域內DWI與所述磁共振彌散加權成像中低ADC值的區域內的ADC值是否失配。

從上述本發明實施例可知，磁共振彌散加權成像中低ADC值的區域內DWI灰度分布參數的確定是以腦缺血區域即核心區域和過渡區域內的ADC值為依據，是否對腦缺血病人進行溶栓最終以磁共振彌散加權成像中低ADC值的區域內DWI與所述磁共振彌散加權成像中低ADC值的區域內的ADC值是否失配為依據。可見，本發明實施例提供的方法不再是單純以時間窗作為主要決策依據，而是通過對磁共振ADC和DWI進行聯合分析，建立聯合特征，相比于基于時間窗的腦缺血治療方法（例如，對腦缺血在4.5小時以內的病人溶栓，對腦缺血在4.5小時之后的病人不溶栓），本發明實施例提供的方法對腦缺血病人作出是否溶栓的決策更為科學和客觀，從而能夠大大提高腦缺血病人的治愈率。

附圖說明