[發明專利]用于LTE RRU的模擬BBU測試裝置、系統及方法

有效

• 申請號: 201310450537.3
• 申請日: 2013-09-27
• 公開（公告）號: CN103458432A
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發明（設計）人: 章磊
• 申請（專利權）人: 武漢郵電科學研究院
• 主分類號: H04W24/00
• 分類號: H04W24/00
• 代理公司: 武漢科皓知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 42222
• 代理人: 嚴彥

技術領域

本發明涉及通信技術領域，尤其是涉及一種用于LTE射頻拉遠單元的模擬BBU測試方案。

背景技術

現有的LTE（Long?Term?Evolution，長期演進）E-NodeB（Evolved?NodeB，演進的B節點）多采用分布式結構，分布式基站的技術特點是指基站的BBU（Base?Band?Unit，基站處理單元）和RRU（Remote?Radio?Unit，射頻拉遠單元）各自作為獨立的模塊分開放置并通過光纖相連的一種基站模式。RRU的一個射頻通道包括了發射通道和接收通道。根據實際組網及應用場景，RRU通道數可以是1，2，4，8。RRU+BBU構成傳統意義上的完整基站，其中，BBU部分實現的主要功能為：主控、時鐘、基帶處理、Iub接口處理，RRU實現的主要功能包括：數字中頻、收發信機、功放和低噪放。兩者之間用光纖連接，傳輸基帶信號。Iub接口是RNC和Node?B之間的接口。

射頻拉遠單元是LTE網絡分布式基站設備中不可缺少的一部分，它的性能指標直接影響整個網絡的質量。在RRU的實際生產和研發過程中，需要對RRU的各項指標和穩定性進行測試。由于RRU主要負責實現LTE基站系統中的射頻部分，并且只能通過光纖與BBU相連，所以當前RRU的測試依賴于復雜的基帶處理單元BBU和射頻儀器儀表，不便于RRU的研發和生產。因此，研發一種具有基本BBU功能，并能根據RRU的特點提供相應測試用例和測試軟件的模擬BBU系統，對于簡化RRU的測試方式，降低測試成本，加快LTE網絡的商用進程，保證網絡的質量具有重大意義。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種針對LTE射頻拉遠單元的測試方案，使得能夠以低廉的成本高效的完成LTE射頻拉遠單元的測試工作。

本發明的技術方案為一種用于LTE?RRU的模擬BBU測試裝置，所述RRU為基站處理單元，所述BBU為射頻拉遠單元，包括處理器模塊、邏輯模塊、光接口模塊和時鐘模塊，處理器模塊、邏輯模塊、光接口模塊依次電性連接，時鐘模塊向邏輯模塊、光接口模塊和處理器模塊分別輸出時鐘信號；

所述處理器模塊，包括CPU芯片及與CPU芯片分別連接的CPLD、存儲單元和接口電路；

所述邏輯模塊，包括FPGA和SRAM，FPGA和SRAM連接；

所述光接口模塊包括串并轉換單元和光電轉換單元，串并轉換單元和光電轉換單元連接。

而且，所述時鐘模塊輸出的時鐘信號包括50M時鐘和122.88M時鐘；其中，50M時鐘由晶振芯片提供，122.88M時鐘通過時鐘芯片提供，時鐘芯片以串并轉換單元在上行測試過程中恢復的122.88M時鐘或10M時鐘為參考時鐘，?10M時鐘為外接提供或者由晶振芯片提供。

而且，所述處理器模塊的CPU芯片通過POWER?PC實現；所述存儲單元包括FPGA和SDRAM。

本發明還相應提供了用于LTE?RRU的模擬BBU測試系統，包括模擬BBU測試裝置、被測RRU、計算機、頻譜分析儀和信號源，計算機與模擬BBU測試裝置通過RS232串口線和網線連接，模擬BBU測試裝置與被測RRU通過光纖連接，被測RRU與頻譜分析儀、信號源分別通過射頻測試線連接。

本發明還相應提供了用于LTE?RRU的模擬BBU測試方法，通過計算機配置模擬BBU測試裝置的光口速率和IQ數據源文件，對被測RRU在多種制式和多種帶寬下進行測試，所述多種制式包括TDD-LTE和FDD-LTE，所述多種帶寬包括5M、10M、15M、20M和40M，所述測試包括下行測試過程和上行測試過程。

而且，配置IQ數據源文件的實現方式是，將IQ數據源文件存儲在處理器模塊的FLASH中，開始下行測試過程時加載到邏輯模塊中的SRAM中。

而且，下行測試過程實現方式如下，

模擬BBU測試裝置中，CPU芯片根據系統需求和計算機的配置指令產生控制管理信息，并通過FPGA將IQ數據源文件加載到SRAM中，FPGA從SRAM中載入IQ數據源文件，將IQ數據源文件中的IQ數據與控制管理信息編碼，以并行數據的形式發送給光接口模塊，光接口模塊中的串并轉換單元將并行數據轉換為串行數據并發送到光電轉換單元，通過光電轉換單元將串行數據從電信號轉換為光信號，通過光纖下發光信號給被測RRU；頻譜分析儀分析被測RRU的下行通道指標。

而且，上行測試過程實現方式如下，