[發(fā)明專利]用于LTE RRU的模擬BBU測試裝置、系統(tǒng)及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310450537.3 | 申請日: | 2013-09-27 |
| 公開(公告)號: | CN103458432A | 公開(公告)日: | 2013-12-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 章磊 | 申請(專利權(quán))人: | 武漢郵電科學研究院 |
| 主分類號: | H04W24/00 | 分類號: | H04W24/00 |
| 代理公司: | 武漢科皓知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 嚴彥 |
| 地址: | 430074 湖*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 lte rru 模擬 bbu 測試 裝置 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種用于LTE?RRU的模擬BBU測試裝置,所述RRU為基站處理單元,所述BBU為射頻拉遠單元,其特征在于:包括處理器模塊、邏輯模塊、光接口模塊和時鐘模塊,處理器模塊、邏輯模塊、光接口模塊依次電性連接,時鐘模塊向邏輯模塊、光接口模塊和處理器模塊分別輸出時鐘信號;
所述處理器模塊,包括CPU芯片及與CPU芯片分別連接的CPLD、存儲單元和接口電路;
所述邏輯模塊,包括FPGA和SRAM,F(xiàn)PGA和SRAM連接;
所述光接口模塊包括串并轉(zhuǎn)換單元和光電轉(zhuǎn)換單元,串并轉(zhuǎn)換單元和光電轉(zhuǎn)換單元連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述用于LTE?RRU的模擬BBU測試裝置,其特征在于:所述時鐘模塊輸出的時鐘信號包括50M時鐘和122.88M時鐘;其中,50M時鐘由晶振芯片提供,122.88M時鐘通過時鐘芯片提供,時鐘芯片以串并轉(zhuǎn)換單元在上行測試過程中恢復的122.88M時鐘或10M時鐘為參考時鐘,?10M時鐘為外接提供或者由晶振芯片提供。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述用于LTE?RRU的模擬BBU測試裝置,其特征在于:所述處理器模塊的CPU芯片通過POWER?PC實現(xiàn);所述存儲單元包括FPGA和SDRAM。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述用于LTE?RRU的模擬BBU測試裝置實現(xiàn)的測試系統(tǒng),其特征在于:包括模擬BBU測試裝置、被測RRU、計算機、頻譜分析儀和信號源,計算機與模擬BBU測試裝置通過RS232串口線和網(wǎng)線連接,模擬BBU測試裝置與被測RRU通過光纖連接,被測RRU與頻譜分析儀、信號源分別通過射頻測試線連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述用于LTE?RRU的模擬BBU測試系統(tǒng)實現(xiàn)的測試方法,其特征在于:通過計算機配置模擬BBU測試裝置的光口速率和IQ數(shù)據(jù)源文件,對被測RRU在多種制式和多種帶寬下進行測試,所述多種制式包括TDD-LTE和FDD-LTE,所述多種帶寬包括5M、10M、15M、20M和40M,所述測試包括下行測試過程和上行測試過程。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述測試方法,其特征在于:配置IQ數(shù)據(jù)源文件的實現(xiàn)方式是,將IQ數(shù)據(jù)源文件存儲在處理器模塊的FLASH中,開始下行測試過程時加載到邏輯模塊中的SRAM中。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述測試方法,其特征在于:下行測試過程實現(xiàn)方式如下,
模擬BBU測試裝置中,CPU芯片根據(jù)系統(tǒng)需求和計算機的配置指令產(chǎn)生控制管理信息,并通過FPGA將IQ數(shù)據(jù)源文件加載到SRAM中,F(xiàn)PGA從SRAM中載入IQ數(shù)據(jù)源文件,將IQ數(shù)據(jù)源文件中的IQ數(shù)據(jù)與控制管理信息編碼,以并行數(shù)據(jù)的形式發(fā)送給光接口模塊,光接口模塊中的串并轉(zhuǎn)換單元將并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為串行數(shù)據(jù)并發(fā)送到光電轉(zhuǎn)換單元,通過光電轉(zhuǎn)換單元將串行數(shù)據(jù)從電信號轉(zhuǎn)換為光信號,通過光纖下發(fā)光信號給被測RRU;頻譜分析儀分析被測RRU的下行通道指標。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述測試方法,其特征在于:上行測試過程實現(xiàn)方式如下,
信號源產(chǎn)生的信號經(jīng)過被測RRU內(nèi)部處理后,被測RRU將所得基帶數(shù)據(jù)通過光信號上傳至模擬BBU測試裝置;模擬BBU測試裝置中,光電轉(zhuǎn)換單元將光信號轉(zhuǎn)換為電信號并發(fā)送到串并轉(zhuǎn)換單元,再通過串并轉(zhuǎn)換單元將串行數(shù)據(jù)形式的電信號轉(zhuǎn)換為并行數(shù)據(jù),F(xiàn)PGA將并行數(shù)據(jù)形式的基帶數(shù)據(jù)進行解調(diào)得到IQ數(shù)據(jù)和控制管理信息,并輸出到處理器模塊進行處理,處理器模塊對控制管理信息進行相應處理,并將IQ數(shù)據(jù)發(fā)送到計算機;在計算機對所接收的IQ數(shù)據(jù)進行分析。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于武漢郵電科學研究院,未經(jīng)武漢郵電科學研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310450537.3/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





