[發明專利]阻變存儲器有效
| 申請號: | 201310444816.9 | 申請日: | 2013-09-23 |
| 公開(公告)號: | CN103680604B | 公開(公告)日: | 2020-06-05 |
| 發明(設計)人: | M·A·范布斯科克 | 申請(專利權)人: | ADESTO技術公司 |
| 主分類號: | G11C11/56 | 分類號: | G11C11/56 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 張欣 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 存儲器 | ||
本發明公開了一種阻變存儲器。在本發明的一個實施例中,存儲單元包括具有第一端子和第二端子的第一阻變元件、和具有第一端子和第二端子的第二阻變元件。該存儲器還包括三端子晶體管,其具有第一端子、第二端子、和第三端子。三端子晶體管的第一端子耦合至第一阻變元件的第一端子。三端子晶體管的第二端子耦合至第二阻變元件的第一端子。三端子晶體管的第三端子耦合至字線。
技術領域
本發明一般地涉及存儲設備,且更特定地涉及阻變存儲器。
背景技術
半導體產業依賴于器件按比例縮小來以更低的成本傳遞改進的性能。在當今市場上,閃存是主流非易失性存儲器。然而,閃存具有一些限制,對于存儲器技術的持續性發展提出了顯著威脅。因此,該產業正在開發備選的存儲器來替代閃存。未來存儲器技術的競爭者包括磁性存儲隨機存取存儲器(MRAM)、鐵電RAM(FeRAM)、以及阻變存儲器,諸如相變RAM(PCRAM)、金屬氧化物基存儲器、以及可編程金屬化單元(PMC)或離子存儲器。這些存儲器也被稱為即將出現的存儲器。
為了切實可行,在諸如可量測性、性能、能效、導通/截止比、操作溫度、CMOS兼容性、和可靠性之類的多于一個的技術度量方面,即將出現的存儲器必須優于閃存。
存儲器設計的各種挑戰之一涉及單元界限。例如,開關元件,在第一狀態和第二狀態之間開關,必須在兩個狀態之間維持充分差異以使隨后的讀操作可辨別兩者。如果兩個狀態之間的差異小于讀取過程的敏感度,則存儲單元可能丟失所存儲的數據。
發明內容
根據本發明的一實施例,存儲單元包括具有第一端子和第二端子的第一阻變元件、具有第一端子和第二端子的第二阻變元件、以及三端子晶體管。該三端子晶體管具有第一端子、第二端子、和第三端子。三端子晶體管的第一端子耦合至第一阻變元件的第一端子。三端子晶體管的第二端子耦合至第二阻變元件的第一端子。三端子晶體管的第三端子耦合至字線。
根據本發明的可選實施例,存儲單元包括具有陰極端子和陽極端子的第一阻變元件,以及具有陰極端子和陽極端子的第二阻變元件。該存儲單元還包括具有第一發射極/集電極、第二發射機/集電極、和基極的雙極晶體管。該第一發射極/集電極耦合至第一阻變元件的陰極端子。該第二發射極/集電極耦合至第二阻變元件的陰極端子?;鶚O耦合至字線。第一阻變元件的陰極端子耦合至位線對的第一位線。第二阻變元件的陽極端子耦合至該位線對的第二位線。存儲單元配置為存儲第一或第二存儲器狀態。
根據本發明的可選實施例,存儲單元包括具有第一端子和第二端子的第一阻變元件、和具有第一端子和第二端子的第二阻變元件。該存儲單元還包括具有第一源極/漏極和第二源極/漏極的晶體管。該第一源極/漏極耦合至第一阻變元件的第一端子,且該第二源極/漏極耦合至第二阻變元件的第一端子。
附圖說明
為更透徹理解本發明及其優點,現參考連同附圖進行的以下描述,其中:
圖1示出根據本發明一實施例的差分存儲單元陣列的示意性電路;
圖2,包括圖2A-2D,示出根據本發明一實施例的差分存儲單元陣列的結構性實現,其中圖2A示出俯視圖而圖2B和2C示出截面圖且圖2D示出在一個實施例中的阻變元件的放大圖;
圖3,包括圖3A-3E,示出根據本發明各實施例的存儲單元陣列的操作,其中圖3A示出激活存儲單元,其中圖3B示出根據本發明一實施例的在寫操作期間存儲單元陣列的存儲單元,其中圖3C示出根據本發明一實施例的包括寄生效應的存儲單元的操作,其中圖3D示出根據本發明各實施例的存儲單元的操作狀態,且其中圖3E示出根據本發明一實施例的在讀操作期間存儲單元陣列的存儲單元;
圖4,包括圖4A-4E,示出根據本發明一可選實施例的存儲單元陣列,其中圖4B-4E示出根據本發明各實施例的圖4A中所示的存儲單元的結構性實現,其中圖4B示出俯視圖,其中圖4C和4D示出截面圖,而圖4E示出阻變元件的放大的截面圖;
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