[發明專利]一種機電產品可靠性增長摸底試驗方法及其裝置

在審

• 申請號: 201310439416.9
• 申請日: 2013-09-24
• 公開（公告）號: CN103530444A
• 公開（公告）日: 2014-01-22
• 發明（設計）人: 張生鵬
• 申請（專利權）人: 航天科工防御技術研究試驗中心
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京風雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 李弘;陳安平

技術領域

本發明涉及環境與可靠性試驗技術，特別是指一種機電產品可靠性增長摸底試驗方法及其裝置。

背景技術

產品的可靠性試驗是評定產品可靠性和壽命的重要環節之一。目前，我國軍用產品的可靠性試驗大多參照美軍表MIL-STD-781D制定，而該規范是指數分布電子產品的可靠性統計試驗的程序、方法和評估方法。

以伺服機構、液壓產品、發控執行組件等為代表的各類機電產品與電子類產品在應用特點、失效模式等都有較大差異。現有技術中，長期以來對機電類產品的可靠性試驗技術缺乏系統性的研究和指導，而是簡單沿用電子類產品的試驗和評價方法，與產品的實際情況相距甚遠。例如：對于高可靠機電產品，由指數分布定時截尾可靠性摸底試驗方案確定的試驗時間隨可靠度的增大會迅速增加，當可靠度超過0.999時，試驗時間將在千小時以上，這從試驗成本和進度都是不可取的。另外，經歷如此長的試驗時間，某些機電產品的個別耗損部件已經到嚴重耗損期，對于任務時間較短的產品，此時的可靠性增長已沒有意義了。

由于指數分布是最苛刻的分布，而機電產品的壽命大多服從威布爾分布，照搬指數分布可靠性試驗方案而進行機電產品可靠性試驗是不合理的。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提出一種機電產品可靠性增長摸底試驗方法及其裝置。

基于上述目的本發明提供的機電產品可靠性增長摸底試驗方法，其特征在于，假設產品壽命服從威布爾分布，若形狀參數已知，試驗時間根據下述公式確定；

T=(tmlnβ/lnRLn)1/m---(4)]]>

其中，t為任務時間，m為形狀參數，β為使用方風險，R_L可靠性試驗要求值，n為試驗所采用的參試產品個數。

可選的，若形狀參數已知，試驗結束后，根據試驗結果，參試產品可靠壽命采用下式進行評估：

tRlow=[-2lnRχ2(2z+2,γ)Σi=1ntim]1/m---(3)]]>

其中，χ²_(2z+2,γ)是自由度為2z+2的χ²分布的1-γ上側分位點；t_i表示第i個參試產品的試驗時間；z表示試驗過程中的故障數。