[發明專利]一種機電產品可靠性增長摸底試驗方法及其裝置在審
| 申請號: | 201310439416.9 | 申請日: | 2013-09-24 |
| 公開(公告)號: | CN103530444A | 公開(公告)日: | 2014-01-22 |
| 發明(設計)人: | 張生鵬 | 申請(專利權)人: | 航天科工防御技術研究試驗中心 |
| 主分類號: | G06F17/50 | 分類號: | G06F17/50 |
| 代理公司: | 北京風雅頌專利代理有限公司 11403 | 代理人: | 李弘;陳安平 |
| 地址: | 100085*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 機電產品 可靠性 增長 摸底 試驗 方法 及其 裝置 | ||
1.一種機電產品可靠性增長摸底試驗方法,其特征在于,試驗時間根據下述公式確定;
其中,t為任務時間,m為形狀參數,β為使用方風險,RL可靠性摸底試驗要求值,n為試驗所采用的參試產品個數。
2.根據權利要求1所述的可靠性增長摸底試驗方法,其特征在于,若形狀參數已知,參試產品可靠壽命采用下述等式進行評估:
χ2(2z+2,γ)是自由度為2z+2的χ2分布的1-γ上側分位點;ti表示第i個參試產品的任務時間;z表示試驗過程中的故障數。
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