[發(fā)明專利]一種低風(fēng)險(xiǎn)快速實(shí)現(xiàn)星載軟件程序固化落焊的方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310437310.5 | 申請(qǐng)日: | 2013-09-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103488566A | 公開(公告)日: | 2014-01-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 衡燕;鄒波;魏穎;黃勇;高媛;馮燕 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海無線電設(shè)備研究所 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36 |
| 代理公司: | 上海信好專利代理事務(wù)所(普通合伙) 31249 | 代理人: | 張妍;張靜潔 |
| 地址: | 200090 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 風(fēng)險(xiǎn) 快速 實(shí)現(xiàn) 軟件 程序 固化 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及航天領(lǐng)域,尤其涉及一種低風(fēng)險(xiǎn)快速實(shí)現(xiàn)星載軟件程序固化落焊的方法。
背景技術(shù)
目前,大多數(shù)星載軟件產(chǎn)品都是在基于靜態(tài)存儲(chǔ)器(Static?Random-access?memory,SRAM)工藝的芯片上運(yùn)行的,而基于SRAM工藝的芯片為易失性器件,掉電后配置數(shù)據(jù)會(huì)丟失,每次上電后,需要調(diào)用存儲(chǔ)在外置存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)重新進(jìn)行數(shù)據(jù)配置。在軟件地面調(diào)試過程中,外置存儲(chǔ)器一般都用電可擦除只讀存儲(chǔ)器(Electrically-Erasable?Programmable?Read-Only?Memory,EEPROM),EEPROM可多次燒寫,重復(fù)擦除,這樣方便軟件的調(diào)試和更改。由于衛(wèi)星工作環(huán)境的嚴(yán)酷性,要求存儲(chǔ)在外置存儲(chǔ)器中的數(shù)據(jù)在整個(gè)衛(wèi)星工作期間不會(huì)因?yàn)榄h(huán)境等因素有任何的改變,因此在軟件完成調(diào)試最終定型后,必須將軟件最終固化在可編程只讀存儲(chǔ)器(Programmable?Read-Only?Memory,PROM)中,PROM采用熔絲工藝,抗輻照指標(biāo)較高,可以有效抵抗太空環(huán)境惡劣的電磁干擾,但其只能燒寫一次,一旦燒錄后不可更改。
針對(duì)星載軟件程序固化落焊,現(xiàn)在普遍應(yīng)用的實(shí)現(xiàn)方法是將存儲(chǔ)器與應(yīng)用存儲(chǔ)器的器件及其它外圍器件設(shè)計(jì)在同一塊印制板上,EEPROM和PROM在印制板上各有獨(dú)立的封裝焊盤。程序調(diào)試階段焊接EEPROM,這樣程序可以隨著調(diào)試不斷更改;程序調(diào)試完成固化后將最終固化程序燒入PROM中;將EEPROM拆掉,在PROM存儲(chǔ)器的焊盤上焊接PROM最終上天使用。
應(yīng)用這種實(shí)現(xiàn)方法后,印制板面積增大,尤其是對(duì)于一個(gè)軟件存儲(chǔ)在多片存儲(chǔ)器的情況,面積增大更加明顯,成本顯著提高。由于軟件程序固化是在軟件研制的最后階段,此時(shí)應(yīng)用PROM的印制板已經(jīng)組裝在系統(tǒng)中,若要固化程序則需要拆開系統(tǒng)結(jié)構(gòu),將印制板取出,將印制板上的EEPROM拆掉,將燒寫好固化程序的PROM焊接到印制板上,最后再將系統(tǒng)組裝好。這樣的系統(tǒng)拆裝操作帶來了技術(shù)風(fēng)險(xiǎn),降低了可靠性,且需要補(bǔ)充額外的環(huán)境試驗(yàn),延長(zhǎng)了研制周期,增加了研制經(jīng)費(fèi),而且拆焊后的EEPROM已不能再利用,造成了資源浪費(fèi),成本提高。此外,程序固化后若需要更改則需更換PROM存儲(chǔ)器,這樣PROM焊盤要經(jīng)歷焊接、拆焊和二次焊接,這樣不僅大大增加了成本,而且降低了產(chǎn)品的可靠性,且由于衛(wèi)星產(chǎn)品焊盤只允許二次焊接,一旦二次焊接失敗,整塊印制板和上面的其它器件都將報(bào)廢,風(fēng)險(xiǎn)極高。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供的一種低風(fēng)險(xiǎn)快速實(shí)現(xiàn)星載軟件程序固化落焊的方法,降低了研制成本,避免了軟件程序固化時(shí)的系統(tǒng)拆裝操作,避免了技術(shù)風(fēng)險(xiǎn)和隱患,提高了系統(tǒng)的可靠性,降低了研制成本,縮短了程序固化時(shí)間,縮短了研制周期,降低了程序固化的風(fēng)險(xiǎn),提高了系統(tǒng)的可靠性和可用性。
為了達(dá)到上述目的,本發(fā)明提供一種低風(fēng)險(xiǎn)快速實(shí)現(xiàn)星載軟件程序固化落焊的方法,該方法包含以下步驟:
步驟1、將EEPROM存儲(chǔ)器、PROM存儲(chǔ)器與應(yīng)用存儲(chǔ)器的器件及其它外圍器件各自獨(dú)立設(shè)計(jì)印制板,前兩者均為程序存儲(chǔ)板,裝有EEPROM的為EEPROM存儲(chǔ)板,裝有PROM的為PROM存儲(chǔ)板,應(yīng)用存儲(chǔ)器的器件及其它外圍器件為主電路板,程序存儲(chǔ)板和主電路板上均設(shè)置可插拔互連接插件;
步驟2、在程序調(diào)試階段,通過可插拔互連接插件將EEPROM存儲(chǔ)板插入主電路板上,EEPROM可多次燒寫,重復(fù)擦除,這樣EEPROM中的程序可以隨著調(diào)試不斷更改;
步驟3、當(dāng)程序調(diào)試完成最終定型,程序需要固化落焊時(shí),將最終固化的軟件燒入PROM存儲(chǔ)器中,再將燒好的PROM焊在PROM存儲(chǔ)板上;
步驟4、將主電路板上的EEPROM存儲(chǔ)板拔下,通過可插拔互連接插件將PROM存儲(chǔ)板插上主電路板,最終程序固化落焊后的主電路板上天使用。
本發(fā)明具有以下有益效果:
1、EEPROM存儲(chǔ)板還可以繼續(xù)使用,降低了研制成本;
2、避免了軟件程序固化時(shí)的系統(tǒng)拆裝操作,不但可以避免系統(tǒng)拆裝操作帶來的技術(shù)風(fēng)險(xiǎn)和隱患,而且不需要進(jìn)行由于系統(tǒng)拆裝操作需要補(bǔ)充的環(huán)境試驗(yàn),從而提高了系統(tǒng)的可靠性,降低了研制成本,縮短了程序固化時(shí)間,縮短了研制周期;
3、程序固化落焊后,如果程序確要更改,則可以將固化有原程序的PROM程序存儲(chǔ)板拔下,更換一塊固化有修改后程序的PROM存儲(chǔ)板重新插上,不需對(duì)焊盤進(jìn)行拆焊操作,降低了程序固化的風(fēng)險(xiǎn),提高了系統(tǒng)的可靠性和可用性。
附圖說明
圖1為主電路板與程序存儲(chǔ)板對(duì)插示意圖;
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G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
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