[發(fā)明專利]用于大尺寸零件的自動檢查的系統和方法

有效

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• 申請日: 2008-06-13
• 公開（公告）號: CN103499645B
• 公開（公告）日: 2017-03-01
• 發(fā)明（設計）人: B·J·馬什;K·D·范斯考特;L·S·博德茲奧尼;G·E·喬治松
• 申請（專利權）人: 波音公司
• 主分類號: G01N29/22
• 分類號: G01N29/22;G01N29/265
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司11245
• 代理人: 趙蓉民

本申請是申請日為2008年6月13日的名稱為：“用于大尺寸零件的自動檢查的系統和方法”的中國專利申請200880020300.9的分案申請。

背景技術

實現無損檢查（NDI）的一些方法已經被研發(fā)并且目前被用于多種加工裝置。一些NDI方法包括但不限于超聲波檢查、機械敲擊測試、超聲碰撞多普勒、渦流測試光學感測、x射線反向散射，光子感應正電子湮滅探傷技術、激光剪切電子散斑、紅外熱成像、中子放射線成像技術、透射紅外熱成像等等。相比于其他材料，許多個別的NDI方法可能更適于特殊材料的檢查。

以上和其他NDI方法利用傳感器方位信息形成各種結構材料中可能的內部損傷或可能的缺陷的二維和三維圖像數據。傳感器的方位通常由安裝在機械臂或X-Y-Z橋架的方位編碼器跟蹤，因此導致大量人工NDI處理。隨著被檢查零件尺寸的增加，在成本、檢查速度、多功能性以及可交換性方面可得到改善。

相關技術的上述實例和與之相關的限制只是說明性的而不是唯一的。通過閱讀說明并研究附圖，本領域技術人員將了解相關技術的其他限制。

發(fā)明內容

以下實施例和其中的一些方面結合系統和方法一起被描述和說明，其只是示范性的和說明性的，而不局限于此范圍內。在許多實施例中，在以上背景技術中所述的一個或多個問題已經被減少或消除，而其他實施例則被直接改進。

根據示例性實施例，系統和方法能自動檢查工件。無損檢查傳感器被安裝在框架上，該框架安裝在傳送設備上。工件的第一預定位置的方位通過跟蹤系統測定。移動傳送設備將無損檢查傳感器定位在靠近工件的第一預定位置處，并且靠近第一預定位置的工件的第一部分用無損檢查傳感器做無損檢查。

根據一個方面，傳感器能被自動移動和跟蹤。工件的第二預定位置的方位能用跟蹤系統測定。移動該傳輸設備以將無損檢查傳感器定位在靠近工件的第二預定位置處，并且靠近第二預定位置的工件的第二部分通過無損檢查傳感器做無損檢查。

根據另一方面，來自傳感器的數據可以被分析。來自無損檢查傳感器的數據被提供給計算系統并且該數據可以被計算系統分析。該數據能與工件的預定閾值標準相比較。而且，當相關位置的分析數據超過預定限定標準時，工件可以在相關方位被標記。

在另一個示例性實施例中，系統被提供以用于自動檢查工件。該系統包括跟蹤系統，傳送設備，以及安裝在傳送設備上的框架。該框架具有能容納被檢查工件外部形狀的形狀。該系統也包括安裝在框架上的無損檢查傳感器和與跟蹤系統和無損檢查傳感器操作地連接的計算系統。

根據一個方面，幾種類型無損檢查方法的傳感器可被使用。而且，無損檢查傳感器可能包括至少一個第一類無損檢查傳感器和至少一個第二類無損檢查傳感器，該第二類無損檢查與第一類無損檢查不同。

除了以上所述示例性實施例和方面，通過參考附圖和研究下文詳細描述更多的實施例和方法可以了解額外的實施例和方面。

附圖說明

示例性實施例通過參考附圖被說明。本文公開的實施例和圖形被認為只是說明性的而不是限制性的。

圖1是被檢查示例性零件的透視圖；

圖2是正在被示例性系統檢查的示例性零件的透視圖；

圖3圖示說明了被圖2的示例性系統檢查的示例性零件的截面圖；

圖4是示例性系統的框圖；

圖5是示例性計算系統的框圖；以及

圖6是工件自動檢查的示例性方法的流程圖。

具體實施例的詳細描述

總體上看，系統和方法可自動檢查工件。無損檢查傳感器被安裝在框架上，該框架安裝在傳送設備上。工件的第一預定位置的方位用跟蹤系統來測定。移動傳送設備以將無損檢查傳感器定位在靠近工件的第一預定位置，并且靠近第一預定位置的工件的第一部分用無損檢查傳感器做無損檢查。傳感器可被自動移動和跟蹤。工件的第二預定位置的方位可用跟蹤系統來測定。移動傳送設備以將無損檢查傳感器定位在靠近工件的第二預定位置，并且靠近第二預定位置的工件的第二部分可用無損檢查傳感器做無損檢查。下面將詳細說明。