[發(fā)明專利]電子元件測(cè)試基座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310424452.8
• 申請(qǐng)日: 2013-09-17
• 公開（公告）號(hào): CN104459213B
• 公開（公告）日: 2017-06-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李欣哲;詹勛亮;顏澤詢;羅偉誠;李昱明
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 京元電子股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/04
• 分類號(hào): G01R1/04
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司11021
• 代理人: 湯保平

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明是關(guān)于一種電子元件測(cè)試基座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)，尤指一種適用于電子元件測(cè)試設(shè)備的測(cè)試基座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)。

背景技術(shù)

已知電子元件于測(cè)試時(shí)，測(cè)試機(jī)臺(tái)本身的震動(dòng)會(huì)通過測(cè)試座傳遞至待測(cè)電子元件，此震動(dòng)將會(huì)影響待測(cè)電子元件的測(cè)試結(jié)果。

因此，如中國臺(tái)灣專利公開號(hào)201041076所公開的“電子元件測(cè)試座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)”，其目的是在減緩此震動(dòng)問題。如圖9所示，是已知的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)的剖視圖，將一氣封環(huán)84套設(shè)于活塞體8外并一體容置于氣缸體83的活塞室80內(nèi)可作軸向滑移。因此，當(dāng)通過底座81的氣體流道811通以高壓氣體至活塞室80時(shí)，將推動(dòng)活塞體8上的浮動(dòng)座82產(chǎn)生軸向滑移，并具徑向彈性復(fù)位等浮動(dòng)緩沖效果。但該發(fā)明的缺點(diǎn)為活塞體8與氣缸體83仍有部份區(qū)域接觸，而無法有效隔離震動(dòng)，因此電子元件若采此測(cè)試架構(gòu)，會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。

發(fā)明人緣因于此，本于積極發(fā)明的精神，亟思一種可以解決上述問題的“電子元件測(cè)試基座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)”，幾經(jīng)研究實(shí)驗(yàn)終至完成本發(fā)明。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的是在提供一種電子元件測(cè)試基座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)，以便能可隔絕大部份的機(jī)臺(tái)震動(dòng)傳遞至待測(cè)電子元件，以改善測(cè)試穩(wěn)定性。

本發(fā)明一種電子元件測(cè)試基座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)，包括：一蓋體、一本體、一彈性墊、一滑移件、一測(cè)試基座及一容置座。蓋體具有一連結(jié)至一氣壓泵的入氣孔。本體具有一容置空間及多個(gè)定位槽，本體與蓋體對(duì)應(yīng)相結(jié)合。而彈性墊夾設(shè)于蓋體與本體之間，并覆蓋容置空間，用以界定出蓋體與彈性墊間的一氣密空間。滑移件包括多個(gè)定位柱，滑移件是通過每一定位柱對(duì)應(yīng)每一定位槽容設(shè)于容置空間內(nèi)，并位于彈性墊的下方，且滑移件可縱向滑移。測(cè)試基座是連結(jié)于滑移件的底部并位于本體的下方，具有至少一測(cè)試針組。而容置座與測(cè)試基座對(duì)應(yīng)結(jié)合設(shè)置，包括有對(duì)應(yīng)于每一測(cè)試針組的一容置槽，且容置槽可容置有一待測(cè)電子元件。

上述作動(dòng)原理為當(dāng)蓋體灌入氣壓泵的氣體至氣密空間，使彈性墊膨脹接觸滑移件，彈性墊推動(dòng)滑移件下移，而滑移件的定位柱可套入于本體的定位槽，致使滑移件與所連接的測(cè)試基座能準(zhǔn)確保維持其位置度；當(dāng)測(cè)試基座下壓與容置座的待測(cè)電子元件接觸進(jìn)行測(cè)試，其接觸的下壓力致使滑移件上移，使定位柱脫離定位槽，滑移件不與本體接觸，減少機(jī)械震動(dòng)傳導(dǎo)至待測(cè)電子元件。

另一方面，彈性墊夾設(shè)于蓋體與本體間，亦可吸收由蓋體與其所連接的機(jī)臺(tái)設(shè)備所產(chǎn)生的機(jī)械震動(dòng)傳導(dǎo)至測(cè)試基座與容置座，進(jìn)而免除不必要的震動(dòng)干擾，增加電性測(cè)試的可靠度。

另外，前述測(cè)試基座可固設(shè)于一基座本體，而基座本體可包括有至少一導(dǎo)引孔，且容置座也可固設(shè)于一底座，底座可包括有對(duì)應(yīng)于至少一導(dǎo)引孔的至少一導(dǎo)引柱，以便能使測(cè)試基座與容置座間產(chǎn)生準(zhǔn)確定位。

再者，前述蓋體可包括有多個(gè)開孔，本體可包括有多個(gè)鎖附孔，通過每一開孔對(duì)應(yīng)每一鎖附孔進(jìn)行鎖附固定。

又，前述彈性墊亦可包括有對(duì)應(yīng)每一開孔的一定位孔。而基座本體可包括有多個(gè)穿孔，滑移件可包括有多個(gè)固定孔，通過每一穿孔對(duì)應(yīng)每一固定孔進(jìn)行鎖附固定。

前述多個(gè)定位槽的數(shù)量可為三、四、五或其他不同的數(shù)量，且可呈環(huán)狀等間距排列。前述彈性墊可為橡膠材質(zhì)或其他軟性材質(zhì)。另外，彈性墊與滑移件間的中央?yún)^(qū)域可具有一間隙，以便能容許滑移件的縱向?yàn)橐啤６倔w與測(cè)試基座間的外環(huán)區(qū)域亦可具有一間隙，以便能使測(cè)試基座可朝上移動(dòng)。

前述容置座可對(duì)應(yīng)設(shè)置于測(cè)試基座下方，也可將容置座對(duì)應(yīng)設(shè)置于測(cè)試基座上方。亦即，容置座與測(cè)試基座是可相互上下對(duì)調(diào)設(shè)置，其可依據(jù)不同的機(jī)型或不同的待測(cè)電子元件而彈性運(yùn)用。

附圖說明

為進(jìn)一步說明本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容，以下結(jié)合實(shí)施例及附圖詳細(xì)說明如后，其中：

圖1是本發(fā)明電子元件測(cè)試基座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)第一較佳實(shí)施例的爆炸圖。

圖2是本發(fā)明電子元件測(cè)試基座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)第一較佳實(shí)施例的立體圖。

圖3是本發(fā)明電子元件測(cè)試基座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)第一較佳實(shí)施例的測(cè)試基座與電子元件分解圖。

圖4是本發(fā)明電子元件測(cè)試基座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)第一較佳實(shí)施例的剖視圖。

圖5是本發(fā)明電子元件測(cè)試基座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)第一較佳實(shí)施例的下壓剖視圖。

圖6是本發(fā)明電子元件測(cè)試基座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)第一較佳實(shí)施例的測(cè)試基座與滑移件的分解圖。

圖7是本發(fā)明電子元件測(cè)試基座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)第一較佳實(shí)施例的測(cè)試基座與滑移件的立體圖。

圖8是本發(fā)明電子元件測(cè)試基座的浮動(dòng)緩沖機(jī)構(gòu)第二較佳實(shí)施例的剖視圖。