[發明專利]電子元件測試基座的浮動緩沖機構

有效

• 申請號: 201310424452.8
• 申請日: 2013-09-17
• 公開（公告）號: CN104459213B
• 公開（公告）日: 2017-06-23
• 發明（設計）人: 李欣哲;詹勛亮;顏澤詢;羅偉誠;李昱明
• 申請（專利權）人: 京元電子股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司11021
• 代理人: 湯保平

1.一種電子元件測試基座的浮動緩沖機構，包括：

一蓋體，具有一連結至一氣壓泵的入氣孔；

一本體，具有一容置空間及多個定位槽，該本體與該蓋體對應相結合，該多個定位槽的槽內的上方寬度大于下方寬度；

一彈性墊，夾設于該蓋體與該本體之間，并覆蓋該容置空間，用以界定出該蓋體與該彈性墊間的一氣密空間；

一滑移件，包括多個定位柱，該滑移件通過每一定位柱對應每一定位槽容設于該容置空間內，并位于該彈性墊的下方，且該滑移件可縱向滑移；

一測試基座，連結于該滑移件的底部并位于該本體的下方，具有至少一測試針組；以及

一容置座，與該測試基座對應結合設置，包括有對應于每一測試針組的一容置槽，用以容設一電子元件。

2.如權利要求1所述的電子元件測試基座的浮動緩沖機構，其中，該測試基座固設于一基座本體，該基座本體包括有至少一導引孔，該容置座固設于一底座，該底座包括有對應于該至少一導引孔的至少一導引柱。

3.如權利要求1所述的電子元件測試基座的浮動緩沖機構，其中，該蓋體包括有多個開孔，該本體包括有多個鎖附孔，通過每一開孔對應每一鎖附孔進行鎖附固定。

4.如權利要求3所述的電子元件測試基座的浮動緩沖機構，其中，該彈性墊包括有對應每一開孔的一定位孔，通過每一開孔對應每一定位孔進行鎖附固定。

5.如權利要求2所述的電子元件測試基座的浮動緩沖機構，其中，該基座本體包括有多個穿孔，該滑移件包括有多個固定孔，通過每一穿孔對應每一固定孔進行鎖附固定。

6.如權利要求1所述的電子元件測試基座的浮動緩沖機構，其中，該容置座設置于該測試基座下方。

7.如權利要求1所述的電子元件測試基座的浮動緩沖機構，其中，該容置座與該本體連接，該測試基座對應設于該容置座下方。

8.如權利要求1所述的電子元件測試基座的浮動緩沖機構，其中，該本體的該多個定位槽的數量為四，呈環狀等間距排列。

9.如權利要求1所述的電子元件測試基座的浮動緩沖機構，其中，該彈性墊與該滑移件間的中央區域具有一間隙。

10.如權利要求2所述的電子元件測試基座的浮動緩沖機構，其中，該本體與該基座本體間的外環區域具有一間隙。