[發明專利]半導體裝置有效
| 申請號: | 201310421327.1 | 申請日: | 2013-09-16 |
| 公開(公告)號: | CN104465751B | 公開(公告)日: | 2018-08-31 |
| 發明(設計)人: | 洪世芳;邱崇益 | 申請(專利權)人: | 聯華電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L29/78 | 分類號: | H01L29/78;H01L29/10 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 陳小雯 |
| 地址: | 中國臺灣新竹*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 裝置 | ||
本發明公開一種半導體裝置。半導體裝置包括一主動鰭片區(active fin region)、至少一柵極條以及一虛擬鰭片區(dummy fin region)。主動鰭片區包括至少一主動鰭片(active fin)。柵極條形成于主動鰭片區上,并延伸跨過主動鰭片。虛擬鰭片區形成于主動鰭片區的兩側,虛擬鰭片區包括多個虛擬鰭片(dummy fin),虛擬鰭片形成于柵極條的兩側。
技術領域
本發明內容涉及一種半導體裝置,且特別是涉及一種具有虛擬鰭片區(dummy finregion)的半導體裝置。
背景技術
由于集成電路的尺寸減小,對于具有高驅動電流及小尺寸的晶體管的需求增加,因而研發出鰭式場效晶體管(fin field-effect,finFET)。鰭式場效晶體管的通道形成于鰭片的側壁和頂表面上,使得鰭式場效晶體管具有較大的通道寬度,進而可以增加晶體管的驅動電流。因此,隨著鰭式場效晶體管的應用增加,便更加需要開發具有良好特性及改良結構的鰭式場效晶體管。
發明內容
本發明的目的在于提供一種半導體裝置,該半導體裝置中的虛擬鰭片形成于主動鰭片區的兩側,使得主動鰭片區可以受到保護,而不會在制作工藝中受到蝕刻損害,因而使得主動鰭片區可以具有更良好的邊緣輪廓(edge profile)。
為達上述目的,本發明提出的一種半導體裝置,包括一主動鰭片區(active finregion)、至少一柵極條以及一虛擬鰭片區(dummy fin region)。主動鰭片區包括至少一主動鰭片(active fin)。柵極條形成于主動鰭片區上,并延伸跨過主動鰭片。虛擬鰭片區形成于主動鰭片區的兩側,虛擬鰭片區包括多個虛擬鰭片(dummy fin),虛擬鰭片形成于柵極條的兩側。
為了對本發明的上述及其他方面有更佳的了解,下文特舉較佳實施例,并配合所附附圖,作詳細說明如下:
附圖說明
圖1A繪示根據本發明內容一實施例的一半導體裝置的上視圖;
圖1B繪示沿圖1A的剖面線1B-1B’的虛擬鰭片和主動鰭片的剖面示意圖;
圖2A繪示根據本發明內容另一實施例的一半導體裝置的上視圖;
圖2B繪示沿圖2A的剖面線2B-2B’的半導體裝置的剖面示意圖;
圖2C繪示沿圖2A的剖面線2C-2C’的半導體裝置的剖面示意圖;
圖3A~圖7B繪示根據本發明內容的實施例的半導體裝置制造方法的流程圖。
符號說明
100、200:半導體裝置
110、210:主動鰭片區
111:主動鰭片
120:柵極條
130、230:虛擬鰭片區
131~138:虛擬鰭片
141、143:虛擬柵極條
150:外延層
190:硅化物層
280:淺溝槽隔離氧化物
360:硅基材
361:硅條
363:氮化物間隙壁
367:圖案化氮化物層
1B-1B’、2B-2B’、2C-2C’、3B-3B’、4B-4B’、5B-5B’、6B-6B’、7B-7B’:剖面線
G:間距
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