[發明專利]一種主板高加速壽命測試方法

無效

• 申請號: 201310421013.1
• 申請日: 2013-09-16
• 公開（公告）號: CN103471795A
• 公開（公告）日: 2013-12-25
• 發明（設計）人: 李健
• 申請（專利權）人: 浪潮電子信息產業股份有限公司
• 主分類號: G01M7/02
• 分類號: G01M7/02;G01M7/08;G01N25/72
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種主板高加速壽命測試方法，其特征在于，其具體測試過程為：

1）首先進行溫度應力測試，該溫度應力測試包括：低溫應力測試和高溫應力測試；

2）然后進行振動應力測試；

3）最后進行聯合應力測試，即將步驟1）與步驟2）聯合起來同時進行應力測試。

2.根據權利要求1所述的一種主板高加速壽命測試方法，其特征在于，所述步驟1）中的溫度應力測試的詳細過程包括：

低溫應力測試，在0℃以下按照一定降溫幅度降溫，每降一次溫度開始測試一段時間并進行功能檢查，當溫度到達設定點后，維持一定時間并運行測試功能的程序；

通過測試達到技術規范的極限，找到操作極限和破壞極限；

在產品測試時附加額外應力；

高溫應力測試，在0℃以上按照一定降溫幅度升溫，每升一次溫度開始測試一段時間并進行功能檢查，當溫度到達設定點后，等待十分鐘并運行測試功能的程序；

通過測試達到技術規范的極限，找到操作極限和破壞極限；

在產品測試時附加額外應力。

3.根據權利要求2所述的一種主板高加速壽命測試方法，其特征在于，所述溫度應力測試的低溫應力測試過程中，初期降溫幅度為10℃，當溫度靠近設定極限點時降溫幅度改為5℃，每次降到一個溫度值時測試時間為10分鐘；在高溫應力測試時，升溫幅度為1℃，每次升到一個溫度值時測試時間為10分鐘。

4.根據權利要求1所述的一種主板高加速壽命測試方法，其特征在于，所述步驟2）中的振動應力測試的具體過程為：

了解產品的振動極限，以便設定極限點；

開始測試并按照一定增加幅度增加重量，每次增加重量后保持一定時長的測試并進行功能檢查，當重量達到設定點后，等待十分鐘并運行測試程序；

繼續測試直到技術規范的極限；

在產品測試時附加額外應力。

5.根據權利要求4所述的一種主板高加速壽命測試方法，其特征在于，所述產品振動的重量的增加量為3～5G，每次增加重量后保持時間為十分鐘的測試。

6.根據權利要求1所述的一種主板高加速壽命測試方法，其特征在于，所述步驟3）的詳細過程為：在溫度應力測試的同時合并進行振動應力測試，這時振動的增加量為5G，當增加到20G以上時開始增加振動回饋，并判定產品的失效是否是在高G值受影響,而在低G值才檢測出來。