[發(fā)明專利]一種晶體硅納米太陽能電池制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310408952.2 | 申請日: | 2013-09-09 |
| 公開(公告)號: | CN103456841A | 公開(公告)日: | 2013-12-18 |
| 發(fā)明(設計)人: | 范維濤;勾憲芳;蘇楊楊;高冠宇;姜利凱;王鵬 | 申請(專利權)人: | 中節(jié)能太陽能科技(鎮(zhèn)江)有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 繆友菊 |
| 地址: | 212132 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 晶體 納米 太陽能電池 制備 方法 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及晶硅太陽能電池領域,尤其涉及一種晶體硅納米太陽能電池制備方法。?
背景技術
基于半導體制造技術的晶體硅電池制造流程自從誕生起到現(xiàn)在一直沒有改變。隨著工藝水平及設備水平的提高,晶體硅電池的效率逐步攀升。但僅靠工藝水平的改進對電池效率的提升空間已經(jīng)越來越有限。?
目前商業(yè)化光伏電池以晶硅和非晶硅為主,雖然世界每年約有1000億美元的潛在市場,然而由于太陽能電池相對昂貴的生產(chǎn)成本,產(chǎn)量及應用受限。總之,可負擔的發(fā)電成本與電池效率是光伏電池產(chǎn)業(yè)面臨的兩個巨大障礙。?
解決這一問題的有效途徑有如下兩個方面,一是發(fā)展新工藝、新技術,降低太陽電池的成本,二是開發(fā)第三代太陽能電池。第三代太陽能電池是21世紀以來太陽能電池技術的主要發(fā)展方向,主要本著以提高光電轉(zhuǎn)換效率和降低生產(chǎn)成本為根本。?
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明目的:本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術的不足提供一種低成本晶體硅納米太陽能電池制備方法。?
技術方案:本發(fā)明所述晶體硅納米太陽能電池的制備方法,包括如下步驟:?
(1)、晶硅電池背面采用混酸體系拋光去除硅片機械損傷及缺陷;
(2)、在拋光后的晶硅電池迎光面發(fā)射極層和背表面上制備Al2O3層介質(zhì)膜或在拋光后的晶硅電池背面生成氧化硅及氮化硅介質(zhì)膜;
(3)、在晶硅電池背面介質(zhì)膜上通過化學腐蝕或激光方法制備納米線陣列;
(4)、納米線陣列在晶硅電池背面擴散;
(5)、采用熱氧化工藝或利用化學鍍或電鍍技術鈍化納米線陣列表面性能;
(6)、采用激光燒蝕工藝進行背面局部接觸;
?(7)、晶硅電池金屬電極制備;
(8)、測試分選制成的晶體硅納米太陽能電池。
步驟(2)?Al2O3層通過等離子增強化學氣相沉積或原子層沉積法制備;氧化硅及氮化硅采用PECVD制備。?
步驟(5)中利用化學鍍或電鍍技術鈍化納米線陣列表面性能的過程中:在硅納米線陣列表面沉積5-100nm的鉑納米顆粒。?
有益效果是:1、本發(fā)明可以有效的與現(xiàn)有常規(guī)晶硅電池制備工藝兼容,在節(jié)約升級成本的同時可以有效提升電池效率,降低成本。2、在電池向光面及背面沉積Al2O3層或氧化硅及氮化硅,提高電池壽命,提升效率。3、電池背面采用Al2O3增加背面鈍化效果的同時,增加背反射,提高背面反射率。4、鈍化背場有效地代替了鋁背場,降低成本的同時防止硅片彎曲,降低破片率。5、創(chuàng)新性的將背面拋光、局部背場、納米線陣列及鈍化技術集成應用于本項目產(chǎn)品。6、采用本發(fā)明生產(chǎn)的太陽能電池片其效率可提升2-3%。?
具體實施方式
下面對本發(fā)明技術方案進行詳細說明,但是本發(fā)明的保護范圍不局限于所述實施例。?
實施例1:應用本發(fā)明晶體硅納米太陽能電池的制備方法制備晶體硅納米太陽能電池:?
(1)、晶硅電池背面采用混酸體系拋光去除硅片機械損傷及缺陷;
(2)、在拋光后的晶硅電池迎光面發(fā)射極層和背表面上,通過等離子增強化學氣相沉積或原子層沉積(ALD)制備Al2O3介質(zhì)膜;
(3)、在晶硅電池背面介質(zhì)膜上通過化學腐蝕或激光方式制備納米線陣列;
(4)、納米線陣列在晶硅電池背面擴散;
(5)、采用熱氧化工藝鈍化納米線陣列表面性能;
(6)、采用激光燒蝕工藝對背面局部接觸;
?(7)、晶硅電池金屬電極制備;
(8)、測試分選制成的晶體硅納米太陽能電池。
實施例2:應用本發(fā)明晶體硅納米太陽能電池的制備方法制備晶體硅納米太陽能電池:?
(1)、晶硅電池背面采用混酸體系拋光去除硅片機械損傷及缺陷;
(2)、在拋光后的晶硅電池迎光面發(fā)射極層和背表面上,采用PECVD法生成氧化硅及氮化硅介質(zhì)膜;
(3)、在晶硅電池背面介質(zhì)膜上通過化學腐蝕或激光方式制備納米線陣列;
(4)、納米線陣列在晶硅電池背面擴散;
(5)、利用化學鍍或電鍍技術,在硅納米線陣列表面沉積50nm的鉑納米顆粒,鈍化納米線陣列表面性能;
(6)、采用激光燒蝕工藝對背面局部接觸;
?(7)、晶硅電池金屬電極制備;
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





